《SSPC-PA2-2016 中文版 磁性仪器测量干膜厚度》.pdf

SSPC-PA 2 May 1， 2004 SSPC：涂料保护协会 涂料应用规范 NO.2 使用磁性膜厚仪测量干膜厚度 1. 范围 1.1 综述：本标准描述了使用商用磁性膜厚仪测量应用于磁性基材的非磁性干膜厚 度的测量程序。这些程序的目的是为了补充设备制造商的人工操作指南，而不是去 替代那些指南。 1.2 本标准说明了两种类型的膜厚仪的调整和测量的程序：拉脱型（1型）和电子型 （2型）。 1.3 本标准详细说明了一个程序，用来判断是否涂层厚度超过了所规定的最低和最 高水平。当测量复涂表面的干膜厚度时，可能会修改这个程序（见附注7.1 ）。 2. 说明和使用 2.1 定义 2.1.1 膜厚仪读数：在某一点的单个读数。 2.1.2 测量位置的测量值：在直径4 cm （1.5 inch）的圆形范围内至少3个膜厚仪读数 的平均值。 2.1.3 校准：控制和记录的过程，用来衡量可追溯的校准标准和核实膜厚仪所规定的 精确性。校准通常由膜厚仪制造厂商或有认证的实验室，在一个可控的环境下，通 过使用一个已记录的程序执行。在校准中所使用的标准，要使得测量结果中不确定 性的总和小于膜厚仪规定的精确性。 2.1.4 验证：用户使用已知的参考标准所进行的精确性的检查。 2.1.5 调整：为了提高膜厚仪在一个规定表面上，或在其测量范围内的特定部分的精 确性，所进行的调节膜厚仪读数符合已知样本厚度的动作。只要已知涂层或垫片的 厚度，大部分的2型膜厚仪都能在其上进行调整。 2.1.6 涂层厚度标准（试块）：一块光滑的铁磁性基材，其上涂覆一层可按照国家标 准进行追溯的非磁性涂层。 2.1.7 垫片（薄片）：一片用来确认干膜厚度仪的精确性，有均匀的已知厚度，非磁 性的塑料、金属或其他材料的薄片。 2.1.8 干膜厚度参考标准：用来确认膜厚仪精确性的已知厚度的样品，例如标准的涂 层厚度或薄片。在某些业主允许的情况下，使用一个部分样品（已涂装钢结构的特 定部分）作为特定工作的厚度标准。 2.1.9 精确性：测量值和标准厚度的真实值之间的一致性。 2.1.10 结构件：由一个或多个包含桥梁、容器、船舶等钢组件连接而构成的单元。 如果在车间中涂装，可能是单一的型钢（梁、角、三通、管道、渠道等）。 2.2 膜厚仪的说明 2.2.1 膜厚仪类型：膜厚仪的类型取决于测量厚度中使用的特殊的磁力属性，而不取 决于数据的读出模式，例如数字式或模拟式。本标准不包括测量基体效应所产生的 涡电流的仪器（见附注7.2 ）。 2.2.2 1型 – 拉脱型膜厚仪：在拉脱型膜厚仪中，植入的永磁体直接接触涂层表面。 测量从表面拔开磁体所需要的力，换算为涂层厚度以刻度显示或显示在膜厚仪上。 从薄的涂层上移开磁体需要较少的力。其比例是非线性的。 2.2.3 2型 – 电子型膜厚仪：电子型膜厚仪使用电子电路将参考信号转换为涂层厚 度。 2.3 涂料应用标准的使用NO. 2 ： 本文件包含以下内容：  校准，验证，调整和测量的程序 （第3部分）;  为了与膜厚规范相符合所需要的测量数量（第4部分）;  膜厚仪使用原则和各种影响厚度测量因素的附注（附注7.2到7.18 ）;  用数字对测量值超出范围进行举例（附录1）;  用数字对使用塑料薄片调整2型膜厚仪进行举例（附录2 ）;  对测量横梁或大梁上干膜厚度的方案进行举例（附录3 ）;  对测量在车间涂装后堆放部件的干膜厚度的方案进行举例（附录4 ）;  对测量测试试板上干膜厚度的方案进行举例（附录5 ）;  对测量经过喷砂清理的测试试板上干膜厚度的方案进行举例（附录6 ）。 3. 校准，验证，调整和测量的程序 3.1 综述 3.1.1 达到裸露基材：所有的膜厚仪在一定程度上都受到基材状态，例如粗糙度、厚 度和组成的影响（见附注7.3到7.8 ）。要修正这些影响，建议使用未涂装的底材。另 一个选择是使用单独的未涂装的参考试板，这些试板有相近的粗糙度、外形、厚度 和组成（见附注7.3到7.8 ）。在3.2、3.3和3.4的程序中这些被用作为裸露基材。为了 排除边界效应，参考试板要有足够的尺寸（见附注7.9 ）。在附注7.10到7.14 中描述 了影响测量结果的其他条件。在裸露基材进行测量要在涂层施工以前或者施工中屏 蔽一小块有代表性的区域。如果全部表面已经施工涂层，惯常的做法是去除一小块 区域的涂层进行测量，之后补上。去除涂层的过程不允许改变基材的状态。如果使 用化学脱漆剂，将保留现有的粗糙度（见A2.3 ）。 3.1.2 测量位置的测量：重复读取膜厚仪，甚至在非常接近的点，由于基材和涂