化学仪表使用中的常见问题及解决方法.ppt

理论纯水电导率，温度系数与温度关系 0℃～50 ℃理论纯水温度系数 t （℃） 理论电导率 （μS/cm） 温度系数 （%） t （℃） 理论电导率 （μS/cm） 温度系数 （%） 0 0.0116 15.00 30 0.0714 4.59 5 0.0166 11.60 35 0.0911 3.96 10 0.0229 9.34 40 0.1146 3.47 15 0.0313 7.57 45 0.1423 3.07 20 0.0418 6.32 50 0.1757 2.75 25 0.0550 检验/校准——pH表的检验 pH表的检验通常采用两点“标准溶液法”（pH缓冲液） 需要注意两个事项： 1.两种pH缓冲液必须相差大于3个pH（国内通常采用pH 6.86和pH 9.18，国外采用pH 7.00和pH 9.00或pH 10.01 ）； 2. pH缓冲液必须严格控制温度在25℃（＜±0.5℃或更小)。 注：两点检验虽与通常的仪表校准类似，但它是在测量状态下进行，所以它不是校准。 在有条件的单位可以采用“标准仪表法”进行“比对”检 验，但必须注意个事项： 1.必须具有比被检仪表精度高一个数量级的“标准仪表”（必须经过检定），同等级的仪表绝不能作为“标准仪表”； 2. “标准仪表”和被检仪表必须采取在同一个取样点并列同步取样（不同于电导率表的串联取样），同时必须严格保证两台仪表流量的一致性。 注：1.测量高纯水时，拟保持较小的流量（可控制在 100mL/min ～ 150mL/min左右）。 2. “比对法”比较适用在现场进行检验。 检验/校准—— pH表的检验 检验/校准—— pH表的检验 pH表的其他检验项目由于需要一些专门的设备 和条件，一般不提倡自己进行检验，应该用经 过计量确认的在线化学仪表检验装置进行检验。 检验/校准——SiO2和Na表的检验 SiO2和Na表的检验 SiO2和Na表可采用标准物质——SiO2和Na标准溶液 进行检验，但必须注意： 1.标准溶液的可溯源性﹑正确性和有效期限； 2.被检仪表的工作试剂和其他性能状态（如Na表的电极﹑水样碱化的pH值等）必须正常。 检验/校准——溶氧表的检验 溶氧表的检验由于没有合适的标准物质，因此 电厂（也包括目前一般的《 电厂化学仪表实验 室》自检是有困难的。但在具有在线化学仪表 检验装置的单位，可以开展自检的试验。 硅（磷）酸根表的样品处理系统 加温：为了保证待测样品（硅钼蓝）的发色 度＊ ，必须对样品进行升(恒)温处 理。常用的方法有两种： 管路加热—将样品软管环绕在热柱上 进行直接加热。 箱体恒温—保持仪表箱体的恒温，间 接恒温样品。 ＊：发色度 发色受温度的影响，发色度的高低会直 接影响颜色梯度，从而影响标定的斜率值 （变低）和测量时的分辨率及精度。 实验表明，当硅钼蓝比色法的发色温度 ≧25℃时，硅钼蓝颜色的发色度最高（换言 之：当发色温度＜ 25℃时，硅钼蓝的发色受 温度影响，与温度成正比关系。）。 硅（磷）酸根表的样品处理系统 搅拌：搅拌的目的是为了充分混和样品和试 剂。 常用的方法有电动（磁力）搅拌和压 缩空气搅拌。 硅（磷）酸根表的样品处理系统 硅(磷)酸根样品处理系统常见故障及处 理方法： ① 斜率值低① 表面现象：示值分辨率降低，误差增大；待 测样品温度过低（发色欠佳）。 产生原因：样品加热器故障。 处理方法：恢复加热器的正常加热。 硅（磷）酸根表的样品处理系统 ② 斜率值低② 表面现象：示值分辨率降低，误差增大。 产生原因：蠕动泵泵管堵塞或试剂失效。 处理方法：换新堵塞的蠕动泵泵管；更换全 部试剂。 硅（磷）酸根表的样品处理系统 ③ 斜率值低③ 表面现象：示值分辨率降低，误差增大。 产生原因：样品内氧化物或垃圾过多，致使 比色皿（流动池）透光窗表面严 重污染。 处理方法：清洗比色皿（流动池）透光窗。 硅（磷）酸根表的样品处理系统 ④ 误差明显增大 表面现象：测量示值重复性明显变差。 产生原因：供光源的稳压电压不稳定。 处理方法：查找稳压电源故障，恢复稳定的 光源供电。 硅（磷）酸根表的样品处理系统 ⑤ 斜率值为零 表面现象：无法进行正常标定，斜率值为 零。 产生原因：光源器件或光电元件（光电