ICT测试介绍.doc

AGILENT 3070 测试库设计 摘 要 产品测试分为在线测试（ICT）、自动x光检测（AXI）和功能测试三大类，本论文的课题属于其中的ICT。本篇论文的定题和设计都是作者在伟创力实业(珠海)有限公司完成的，因为该公司使用的自动测试设备主要是Agilent3070测试系统进行在线测试，所以设计的程序是基于HP 3070作为平台的。HP 3070是一种专为ICT设计的针床式的测试系统，它要求在测试板之前把测试程序输入测试系统，再把电路板加载到测试系统上，系统自动对板的测试点进行测试，并把测试结果在显示屏上显示出来或打印出来。采用程序控制的自动化测试，操作简单，测试快捷迅速，单板的测试时间一般在几秒至几十秒，主要由电路板的复杂程度决定。 因为整个在线测试过程都是自动实现的，因此，要求测试程序的高可靠性和高效的运行,这也是测试的重点和难点。这就要求我们在设计测试程序时要根据不同的芯片、元件或电路按照其测试的原理、方法和步骤来进行。程序的编写要合乎向量控制语言（VCL）的语法、格式，使用相关的软件产生相关的文件以进行调试，试测。 整个测试的过程都是由一个叫测试计划（TestPlan）的主程序控制的，在测试计划程序中，包含了所有要测试的单元，包括测试点、模拟元件、数字元件和其它集成电路等。而这些元件的测试都是由一个测试库程序文件支持的，测试库程序有标准和自定义两种。标准测试库里记录的是常用的芯片、器件和集成电路；而自定义测试库是存放那些在标准测试库里没有记录的元件测试程序，一般都是因为一些待测试的板使用了特有的芯片，因此要测试该芯片的话，就要专门编写该芯片的测试程序，而多个不同的特有芯片的测试程序就够成了测试程序库。测试程序包含了各种芯片的测试方法，本课题的目标就是写出其中一个芯片的测试方法，并在测试系统上调试运行，最后达到成功测试的目标。 作者选用的是ATMEL公司的一个EEPROM产品AT25F1024芯片作为测试芯片。设计、编写、调试并修改测试该芯片的测试程序，成功后添加到自定义测试库中。EEPROM已成为PCBA板上不可缺少的一个芯片，通常是用来记录重要的数据。因此，对EEPROM的测试是在线测试ICT(In Circuit Test)中非常重要的一部分，也是在ICT测试程序的开发过程中比较困难的一部分。EEPROM/FLASH编写/调试、在线烧录Test Library是ICT测试开发的重点及难点。本篇论文简单介绍了AGILENG3070测试平台的硬件结构、UNIX系统的基本操作以及BT-BASIC测试编程语言的基本格式和用法。重点论述了在线测试的测试原理、测试方法和按照数字芯片测试库程序的标准格式设计与开发测试程序。附录中的程序是NVIDIA显卡板上的EEPROM芯片AT25f1024的测试库程序，也是作者毕业设计的成果和设计目标。 关键字 ICT AT25F1024A BT-BASIC 上电测试 短路测试 数字测试 TESTJET测试 ABSTRACT There are three types of product test, they are ICT, AXI and FCT, and this paper is about the ICT. The theme and the design develop all are finished at Flextronics industry(zhuhai) Co. Ltd, and the automatic test equipment (ATE) the company mainly used are HP 3070 test system for the in-circuit test, so the test program design is base on the HP3070. The HP 3070 is especially designed for the ICT and it is nail-bed test system. Before testing the board, you need to load your test program down the test system, and put on the board to test, after this ,the system will display the result on the screen or print the result if needed. The program automatic control test is easy to be ope