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实验3.3 组合逻辑电路设计2 数字电子技术实验 一、实验目的 1.掌握使用中规模集成芯片译码器和数据选择器设计组合逻辑电路的方法。 1.设计一个1位二进制全减器,要求: ⑴ 用芯片74LS138译码器及74LS20“与非”门各一片实现(表3.3.1)。 ⑵ 用两片数据选择器74LS151芯片实现(表3.3.1) 。 二、实验任务 数字电路实验箱( 74LS20、74LS138、74LS151数字集成芯片、脉冲源 )、数字万用表、示波器、导线。 三、实验设备 四、实验原理及步骤 74LS138引脚图 74LS151引脚图 74LS138逻辑符号 输入输出端说明 E1、 :使能控制端, E1=1, 时芯片正常工作,输出与输入二进制码相对应，其它状态无译码输出。 C、B、A：输入端 Y7～Y0：输出端(低电平有效) 输入高位 输入低位 输 入 输 出 E1 E2A+E2B A2 A1 A0 Y7 Y6 Y5 Y4 Y3 Y2 Y1 Y0 0 × × × × × 1 × × × 1 0 0 0 0 1 0 0 0 1 1 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 1 0 0 1 0 1 0 1 1 0 1 1 0 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 74LS138 功能表 低电平有效 输出端低电平有效 按右图接线(输入接电平开关，输出接发光二极管)，控制电平开关K1～K3，使得A2A1A0从000～111变化，输出二极管应为对应的一盏灯不亮(低电平输出)。亮灯情况符合功能表的芯片则为好的。 根据74LS138功能表判断芯片好坏： 74LS138 E1 E2A E2B +5V “0” K1 K2 K3 输入电平开关 输出发光二极管 74LS151 74LS151逻辑符号 低电平有效 A2、A1、A0：地址输入端 D7～D0：数据输入端 Y，Y：输出端 输入输出端说明 E:使能输入端,E =0时芯片工作，由地址输入端控制输出选择相应的数据输入端 E =1时禁止状态 = m7D7＋ m6D6 ＋ m5D5＋ m4D4 ＋m3D3＋ m2D2＋ m1D1＋ m0D0 输入高位 输入低位 输 入 输 出 E A2 A1 A0 D7～D0 Y Y 1 × × × 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 × 0 1 D7～ D0 D0 D0 D7～ D0 D1 D1 D7～ D0 D2 D2 D7～ D0 D3 D3 D7～ D0 D4 D4 D7～ D0 D5 D5 D7～ D0 D6 D6 D7～ D0 D7 D7 74LS151 功能表 使能端低电平有效 按左图接线,控制电平开关K1～K3来改变地址端，使A2A1A0从000～111变化，同时仅让对应的数据端接高电平，其它接低电平。则输出亮灯应与对应的数据端高、低电平相对应，表明芯片是好的。 根据74LS151功能表判断芯片好坏： 输出发光二极管 “0” +5V 74LS151 A2 A1 A0 0 K2 K4 K5 K6 K7 K8 K9 K10 K11 K3 K1 输入电平开关 函数变量数 = 输入二进制代码位数 据题目输入和输出要求及相互关系，进行逻辑抽象,即说明逻辑变量；