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网络测试的整体解决方案 主界面 开机说明界面 palmOTDR工具栏图标 设置菜单 设置参数说明 palm OTDR信息窗 轨迹测量参数 事件列表 A/B标杆的信息 “A-B”：标杆间的距离； “两点损耗”：标杆间两点损耗，标识A、B标杆处纵向功率差； “两点损耗”：单位长度的两点损耗。 掌上型 OTDR —Palm OTDR仪表交流 公司简介 OTDR 技术简介 palm OTDR 操作简介 总结 主 要 内 容 公 司 简 介 Internet SDH Xdsl/Ethernet Xdsl/Ethernet PCM IP测试 TIMS测试 XDSL测试 传输测试 LAN测试 2M/E1测试 BERT测试 协议分析 光纤测试 ATM/FR 协议分析 OTDR 技术简介 OTDR是光时域反射仪的英文缩写，是光纤测试与维护中重要的常用的仪表。 OTDR的主要作用是全面分析光纤传输质量，并进行故障诊断和故障点的准确定位。 OTDR技术简介 一. OTDR简介 OTDR技术简介—相关技术背景 1. 瑞利散射和后向瑞利散射 散射是由光纤本身的杂质和非均匀性导致，是光功率损耗的主要因素。 瑞利散射是由比光波小的粒子引起的散射，是最主要的一种散射。 后向瑞利散射是和入射光相反的部分瑞利散射，其波长和入射光相同，功率和入射光功率成正比。 二. OTDR相关技术背景 2. 菲涅尔反射 菲涅尔反射是由光纤的几何缺陷或连接而产生的折射率突变所引起的，其功率值远远大于后向瑞利散射。 3. OTDR测试原理 后向散射法：OTDR输出一个光脉冲进入连接的光纤中，并及时接收来自该脉冲的后向散射功率和由于事件造成的反射，并在屏幕上显示采集到的轨迹曲线，纵轴为功率dB值，横轴为光纤距离。 OTDR技术简介—相关技术背景 OTDR测试结果 OTDR技术简介—相关技术背景 OTDR技术简介—相关技术背景 事件 光纤上事件是指除光纤材料自身正常散射以外的任何导致损耗或反射功率突然变化的异常点。包括各类连接及弯曲、裂纹或断裂等损失。 OTDR屏幕显示的事件点是光纤中引起轨迹从直线偏移的异常点。 事件可以分为反射事件和非反射事件。 OTDR技术简介—相关技术背景 5.1 反射事件 当一些脉冲能量被反射(例如在连接器上)，反射事件发生。反射事件在轨迹中产生尖峰信号。 典型的反射事件包括：光纤的断点、破损点，连接器，光纤的结束等。 OTDR技术简介—相关技术背景 5.2 非反射事件 非反射事件是指在光纤内有一些损耗但没有光反射的部分发生。非反射事件在轨迹上产生一个功率跌落。 典型的非反射事件包括：熔接点，光纤的弯曲，连接器等。 6. 重要参数 6.1 折射率 OTDR通过计算发射光到接收到背向反射光的时间，来对事件进行距离的定位。折射率的变化，会导致计算出的距离发生变化。 折射率 = 真空中的光速/光在光纤中的速度 OTDR显示的距离 = （测量时间 X 真空中的光速）/ 折射率 正确的设置折射率，对OTDR的距离定位结果有重要的意义。折射率取决于所用光纤的材料，因此应该由光纤生产厂家提供。 OTDR技术简介—相关技术背景 OTDR技术简介—相关技术背景 6.2 散射系数 散射系数是OTDR输出处的光脉冲功率，与光纤近端处的后向散射功率的比率，此比率以dB为单位。散射系数会影响回波损耗的测量值。 散射系数的具体值取决于波长和光纤的类型，通常由光纤生产厂家提供。 6.3 脉冲宽度 脉冲宽度是与动态范围和距离分辨率相关联的。在较短的脉冲宽度条件下，可以获得较高的距离分辨率，但短脉冲宽度同时意味着动态范围较小，且轨迹的噪声较大。如果要测试长距离光纤，则需使用长脉冲宽度，可以获得较高的动态范围，但同时意味着较低的距离分辨率。 在实际测试中，可以根据不同的测试目的，在高分辨率和高动态范围之间做出取舍。 OTDR技术简介—相关技术背景 6.4 测量跨距 测量跨距决定了OTDR的取样点数量和取样间距，因此，测量跨距的设置，会影响标识的位置。理想的测量跨距是比实际测试距离稍大即可。 OTDR技术简介—相关技术背景 6.5 测量时间 通常OTDR都是重复向光纤发送脉冲，将每个脉冲的结果进行平均。这样做的目的是通过多次平均来降低接收器的随机噪声对测试结果产生的影响。较长的测量时间可以降低OTDR固有噪声并提高动态范围。 palm OTDR 操作简介 No： 事件序号； Type：表示事件类型,共分为四种事件： 表示