GB/T 14849.5-2014工业硅化学分析方法　第5部分：杂质元素含量的测定　X射线荧光光谱法.pdf

ICS 77.120.10 H 12 中华人民 主t 和国 国家标准 /、 GB/T 14849.5-2014 代替 GB/T 14849.5-2010 工业硅化学分析方法 第 5 部分:杂质元素含量的测定 X 射线荧光光谱法 Methods for chemical analysis of silicon metal 一 Part 5: Determination of impurity contents 一 X-ray f1uorescence method 2014-12-05 发布 2015-05-01 实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 G8/T 14849.5-2014 前言 GB/T 14849((工业硅化学分析方法》分为 9 个部分: 一一第 l 部分:铁含量的测定 ，10 二氮杂菲分光光度法: 一一第 2 部分:铝含量的测定络天青 -S 分光光度法， 一一第 3 部分:钙含量的测定火焰原子吸收光谱法、偶氮氯麟 I分光光度法: 第 4 部分:杂质元素含量的测定电感藕合等离子体原子发射光谱; 第 5 部分:杂质元素含量的测定 X 射线荧光光谱法; 第 6 部分 z 碳含量的训 tl 定红外吸收法; 一-第 7 部分:磷含量的测定铝蓝分光光度法; 一-第 8 部分:铜含量的测定 PADAP 分光光度法; 第 9 部分:钦含量的测定二安替比林甲;院分光光度法。 本部分为 GB/T 14849 的第 5 部分。 本部分按照 GB/T 1.1-2009 给出的规则起草。 本部分代替 GB/T 14849.5-2010(( 工业硅化学分析方法第 5 部分:元素含量的测定 X 射线荧 光光谱法儿 本部分与 GB/T 14849.5-2010 相比，主要有如下变动: 一一增加了规范性引用文件; 增加了锤、镇、铁、铜、磷、侯、铭、饥、钻的检测; 一一样品应破碎通过 0.074 mm 筛，改为应能通过 0.149 mm 标准筛; -一将粘结剂砌酸改为淀粉或棚酸; 一一-将试料中压片压力 20 kN ，保压时间20 5 ，改为30 t 压力下保压 30 5; -一补充了重复性限及再现性限，增加了试验报告。 本部分由全国有色金属标准化技术委员会 (SAC/TC 243) 归口。 本部分负责起草单位:昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有 限公司。 本部分参加起草单位:中国铝业股份有限公司郑州研究院、通标标准技术服务有限公司、包头铝业 有限公司、蓝星硅材料有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、云南出入境检验检疫局。 本部分主要起草人=刘英波、赵德平、杨海岸、周杰、杨毅、张爱玲、胡智弦、张晓平、刘汉士、刘维理、 马启坤、唐飞、白万里、王宏磊、常智杰、聂恒声、金波、王云舟。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为: 一一一GB/T 14849.5