OTDR测试培训入门.ppt

* * * * 工程 分辨率（数据采样间隔） 确定了事件点的定位精度 OTDR在测试时沿光纤长度方向以固定的间隔进行数据采样，采样间隔越短，采集的数据也越多，同时意味着定位精度越高，但与此同时测试花费的时间也会越长，测试结果文件也越大。 文件大小: 8m 采样 = 4kbytes 1m 采样= 32kbytes 1 m 采样 8 m 采样 光纤端点的读出值可能由于+/-一个采样点而不同。在此情况下，由于分辨率设置而导致的读出误差可能达到 8米 。 红线 = 1m 分辨率 绿线 = 8m 分辨率 分辨率 平均 平均 (有时也称为扫描) 可降低测试结果曲线的噪声水平，提高判读精度。测试时，可以设定扫描次数为快, 中, 慢等三挡或一个特定的时间长度。长的平均时间使你能够获得较好的结果曲线。 如果你使用较短的测试脉宽或测试较长的光缆区段，就应该选择较长的平均时间。 噪声 会导致曲线的变化， 增加平均次数可降低噪声电平. 慢扫描 快扫描 工程 OTDR测试曲线是将每次输出脉冲后的反射信号采样，并把多次采样做平均处理以消除一些随机事件 OTDR动态范围是按贝尔实验室TRTSY-00196中定义的平均时间为3min时的指标 为提高测试速度，缩短整体测试时间一般测试时间可在0.5~3min内（建议≥30s） 平均时间 噪声电平 越长 越接近最小值 平均-平均时间对动态范围的影响 工程 10s后 3min后 平均－平均时间对动态范围的影响 目录 1 概述 2 基本术语 3 专 题 ４ 曲线分析 5 应用 2-PT LSA A B LSA 法排除了由于曲线噪声导致的接续损耗判读误差 “采样区” 采样区必须位于接头点两侧的线性区，不可跨越接头点。 LSA法与2-点法接头损耗测试的比较 无衰耗 0.3dB 接头衰耗 A B -0.5dB A B 0.5dB A B -0.2dB A B 0.8dB 真实衰耗 = (-0.5 + 0.5) / 2 = 0.0dB 真实的熔接衰耗 = (-0.2 + 0.8) / 2 = 0.3dB 假增益的来源 工程 采样间隔的影响 时钟的影响 折射率的影响 光缆成缆因数 的影响 仪表的测试误差 距离精度（一） 采样间隔 越小 仪表测试精度越高 由采样点偏差 带来的测量 误差越小 仪器距离计算公式：L = V * T = T * C/n C光在真空中的速度 n纤芯的折射率 T光在光纤中传播时间的一半 为减小折射率的影响，输入的折射率必须准确；当几段光缆折射率不同时可分段测试，以减小测试误差 当采用仪表内部时钟时，对测试精度影响较小 当采用外部时钟时，测量精度取决于外部时钟的精度 OTDR测试的是光纤的长度，通常光纤长度大于光缆长度 光缆成缆时扭绞系数一般为0.7%左右 仪表的设计 仪表的制造技术 仪表应用软件 CO SP#1 SP#2 SP#3 光缆敷设时可能不直或上下左右偏离路由. 每一光纤在光缆内是松弛的，且在接头盒内有不同长度的盘留。 测试距离较短: 沿着地面. 测试距离较接近: 沿着光缆. 测试距离较长: 光纤长度. OTDR测量光纤长度 ! 断点位置 距离精度（二） CO SP#1 SP#2 SP#3 断点位置 技巧: 1. 根据参考地标提高断点定位精度. 2. 从故障点附近的已知点进行判读. 3. 从光缆的两端进行测试. 距离精度（三） 回波损耗（回损）：光波反向传输时的损耗 反射损耗：光波正向传输时由于反射造成的损耗 回波损耗与反射损耗 回损越小，反射波越大，链路性能越差；回损越大，反射波越小，链路性能越好 反射损耗越大，反射波越大，链路性能越差；反射损耗越小，反射波越小，链路性能越好 减小反射峰的措施 OTDR的输出端面应经常清洗，每次测试都要清洗被测光纤端面 处理好光纤端面 目录 1 概述 2 基本术语 3 专 题 4 曲线分析 5 应用 工程 典型的后向散射信号曲线 DB/DIV d b c e a M/DIV a、输入端的Fresnel反射区（即盲区） b、恒定斜率区 c、局部缺陷、接续或耦合引起的不连续性 d、光纤缺陷、二次反射余波等引起的反射 e、输出端的Fresnel反射 工程 A 为盲区， B 为测试末端反射峰。测试曲线为倾斜的，随着距离的增长，总损耗会越来越大。用总损耗（ dB ）除以总距离（ km ）就是该段纤芯的平均损耗（ dB/Km ）。 原因：（1）仪表的尾纤没有插好，光脉冲根本打不出去； （2）断点位置比较进， OTDR 不足以测试出距离来； 方法：（1） 要检查尾纤连接情况 （2） 把 OTDR 的设置改一下，把距离、脉冲调到最小，如果还是这种情 况的