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300的mm晶圆化学机械抛光机关键技术研究与实现
No.5
第50卷第5期 机械工程学报 V01.50
2014年3月 MaL 2014
JOURNALOFMECHANICALENGINEERING
DOI:10.390l,JME.2014.05.182
300
mm晶圆化学机械抛光机关键技术研究与实现木
王同庆路新春赵德文 门延武何永勇
(清华大学摩擦学国家重点实验室北京 100084)
mech姐ical
摘要:在芯片微细化和互连多层化趋势下,化学机械抛光(CheIIlical
针对300mm晶圆CMP装备被极少数国外厂家垄断、国内300衄晶圆CMP装备水平远远落后的现状,开展300mm晶圆
CMP装备关键技术研究。研制出300mm晶圆多区压力抛光头及其压力控制系统,该抛光头具有多区压力、浮动保持环及真
空吸附等功能,每个腔室均可实现施加正压、抽负压、通大气和泄漏检测;压力控制系统性能测试结果表明,该系统可实现
689.5
l【Pa
机,创建出一套比较稳定、可靠的工艺流程,并利用该样机初步开展铜CMP试验研究。试验结果表明:抛光压力为15.169
时,材料去除率达671.3n州min,片内非均匀性为3.93%。
关键词:300mm晶圆;抛光头;多区压力:超低压力;化学机械抛光
中图分类号:THll7
Researchand on ofChemical
ImplementatiOnCritical,】1echnology
Mechanical for300mmWjjlfer
PoUshing,】’ool
WANG LUXinclnmZHAODewenMENY-an、ⅧHE
Tongqing Yongyong
of l
Laboratory
(S讹Key T柚olo鼢TsinghuaUnivers咄Beijing00084)
Abstract.Astllefeaturesizescalesdown蚰dt11e ofmultilcvel mech姐ical
implem曲训on nletallization,chemical
hasbecomeoneofmemost mm
in也e c珏cuib 300
importanttechnolo酉esuh孙large·scaleinte黜d m钺叫砬蛐g.However,the
waferCMPtoolis afew mereforcmeresearchlevelof300mm
beingincreasiIlglymonopolizedby砌y fore咖c唧anies,and
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waferCMPour is陆behindomercolIntriessuchas SoumK0rea.111ecritical ofme300mm
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