数字信号处理实验(一).docVIP

实验报告正文 1.分析理想采样信号序列的特性。 1000H n=0:50; A=444.128; a=50*sqrt(2.0)*pi; T=0.001; w0=50*sqrt(2.0)*pi; x=A*exp(-a*n*T).*sin(w0*n*T); subplot(1,1,1);stem(n,x); title(理想采样信号序列) 300H n=0:50; A=444.128; a=50*sqrt(2.0)*pi; T=0.03; w0=50*sqrt(2.0)*pi; x=A*exp(-a*n*T).*sin(w0*n*T); subplot(1,1,1);stem(n,x); title(采样信号序列) 200H n=0:50; A=444.128; a=50*sqrt(2.0)*pi; T=0.02; w0=50*sqrt(2.0)*pi; x=A*exp(-a*n*T).*sin(w0*n*T); subplot(1,1,1);stem(n,x); title(采样信号序列) 2.离散信号，系统和系统响应的分析 (1)绘制信号x(n)的幅度谱和信号谱 k=-25:25; W=(pi/12.5)*k; f=(1/25)*k*1000; X=x*(exp(-j*pi/12.5)).^(n*k); magX=abs(X); subplot(2,1,1);stem(f,magX);title(理想采样信号序列的幅度谱) angX=angle(X); subplot(2,1,2);stem(f,angX);title(理想采样信号序列的相位谱) k=-25:25; W=(pi/12.5)*k; f=(1/25)*k*300; X=x*(exp(-j*pi/12.5)).^(n*k); magX=abs(X); subplot(2,1,1);stem(f,magX);title(300H采样信号序列的幅度谱) angX=angle(X); subplot(2,1,2);stem(f,angX);title(300H采样信号序列的相位谱) k=-25:25; W=(pi/12.5)*k; f=(1/25)*k*200; X=x*(exp(-j*pi/12.5)).^(n*k); magX=abs(X); subplot(2,1,1);stem(f,magX);title(200H采样信号序列的幅度谱) angX=angle(X); subplot(2,1,2);stem(f,angX);title(200H采样信号序列的相位谱) 理想采样信号 k=-25:25; W=(pi/12.5)*k; f=(1/25)*k*1000; X=x*(exp(-j*pi/12.5)).^(n*k); magX=abs(X); subplot(2,1,1);stem(f,magX); title(理想采样信号序列的幅度谱); angX=angle(X); subplot(2,1,2);stem(f,angX); title(理想采样信号序列的相位谱); 改变参数为:A=1;a=0.4;w0=2.0734;T=1 k=-25:25; W=(pi/12.5)*k; X=x*(exp(-j*pi/12.5)).^(n*k); magX=abs(X); subplot(3,1,2);stem(k,magX);title(理想采样信号序列的幅度谱); angX=angle(X); subplot(3,1,3)stem(k,angX);title(理想采样信号序列的相位谱); subplot(3,1,3);stem(k,angX);title(理想采样信号序列的相位谱); 改变参数 （2）卷积计算 hb(1)=1;hb(2)=2.5;hb(3)=2.5;hb(4)=1; n=1:50; hb=zeros(1,50); hb(1)=1;hb(2)=2.5;hb(3)=2.5;hb(4)=1; close all; subplot(3,1,1);stem(hb);title(系统hb[n]); m=1:50;T=0.001; A=444.128;a=50*sqrt(2.0)*pi; w0=50*sqrt(2.0)*pi; x=A*exp(-a*m*T).*sin(w0*m*T); subplot(3,1,2);stem(x);title(输入信号x[n]); y=conv(x,hb); subplot(3,1,3);stem(y);title(输入信号y[n]); 改变参数 输入输出幅度相位 k=-25: