IC测试实践李月资料讲解.ppt

Linux下启动modelsim 用user***用户名登陆，不要用root登陆 source nfs.setup cd /home/EDA/mentor_setup source all.setup cd /home/user*** vsim 人有了知识，就会具备各种分析能力， 明辨是非的能力。 所以我们要勤恳读书，广泛阅读， 古人说“书中自有黄金屋。 ”通过阅读科技书籍，我们能丰富知识， 培养逻辑思维能力； 通过阅读文学作品，我们能提高文学鉴赏水平， 培养文学情趣； 通过阅读报刊，我们能增长见识，扩大自己的知识面。 有许多书籍还能培养我们的道德情操， 给我们巨大的精神力量， 鼓舞我们前进。 * 测试参数 测试Id-Vg—Application test 测试Id-Vg—Classic test 测试Id-Vd—Application test 测试Id-Vd—Classic test 测验2 画出增强型nmos 管I/V传输特性曲线和转移特性曲线 Hspice和Pspice的区别 数字电路故障检测 测试 测试的目的：检查电路设计和制造的正确与否。 测试的一般过程： 建立模型 设计能检验好坏的测试数据 把数据加到被测电路（CUT，circuit under test）上 观察被测输出结果 分析测试结果是否与理想结果一致。 故障诊断 故障检测：表示发现和识别电路中存在某种故障 故障定位：表示识别出导致电路发生故障的具体器件或电路位置。 故障诊断：既包括故障检测有包括故障定位。 测试向量：逻辑电路故障检测中，在电路输入端输入逻辑序列，然后观察输出结果是否正确，如果输出结果与预想不一致，根据输入序列来确定电路故障。这里的输入逻辑序列就是测试向量。 测试向量的多少关系着测试时间和测试成本。最好能用最少的向量反映所有可能的故障。 非冗余电路：电路如果出现故障，任何故障导致电路所处状态和电路正常状态都不一致， 对于非冗余电路，有n个逻辑输入，则有2的n次幂个测试输入向量的组合可以检测出所有故障。如果n很大，测试的时间可能要达到几年，几万年。所以要使用尽可能少的测试向量进行测试。 定义区别 缺陷——物理级缺陷 工艺缺陷（氧化层击穿、寄生电阻、开路、短路） 材料缺陷 寿命缺陷（温度、电迁移） 封装缺陷（密封泄漏、触电退化） 故障——物理缺陷在逻辑级中的描述，故障可能导致电路失效，也可能不导致电路失效。 错误——输出端逻辑不对 失效——设计偏差，电路所表现的性能与原设计 不一致 例子 缺陷——b端短路到地 故障——b短路到地，在逻辑级被描述为stuck-at-0（s-a-0） 错误——当a=b=1时f=0，输出错误 失效——设计偏差，电路所表现的性能与原设计不一致，可能导致系统崩溃。 故障有关 故障特征分类 逻辑故障：影响电路中某点的逻辑值，从而改变电路的逻辑状态。 非逻辑故障：信号失灵、电源电压没有加到电路。 故障值：故障所产生的错误逻辑值是固定的还是可变的。 故障范围：故障是局部的还是可传播的。 故障持续时间：故障是暂时的还是持久的。 常见的故障模型 故障模型 描述 经典故障 单固定故障 一条线固定到逻辑0或1 多重故障 多条线固定到逻辑0或1 桥接故障 互不衔接的两条或两条以上的信号线发生电连接 晶体管故障 桥接故障 恒定开路故障 CMOS上拉或下拉失效 恒定通路故障 MOS恒导通 故障模型 描述 性能故障 延迟故障 路径延时造成的故障 间歇故障 内部参数改变引起的故障 瞬态故障 耦合干扰引起不正确的信号值 存储单元故障 模拟电路故障 灾难性故障 模拟元件开路或短路 参数性故障 RLC或晶体管跨导等参数值变化超出范围 故障覆盖率 1. 数字电路中的冗余故障会导致电路面积、延迟、功耗的 增加，而且对于多个固定型故障，如果多个故障中的一个是冗余的，则冗余故障的出现可能屏蔽其他可测试故障的存在。 2. 理论上，故障覆盖率可以度量测试质量，高覆盖率代表 高测试效率。但是100%故障覆盖率不等于电路无故障。 0~70%——不好 70%~95%——一般 95%~100%——很好 单固定故障模型（SSA） 逻辑电路中最常用的故障模型 假设一个逻辑门的故障导致其中的输入或输出值被固定为逻辑0或逻辑1。 固定在逻辑0的故障称为stuck-at-0，缩写为s-a-0或a/0。 固定在逻辑1的故障成为stuck-at-1，缩写为s-a-1或a/1。 Out A Out V DD GND B C=-AB = C=1 与非门故障及故障检测 1.有故障时输出响应有时与无故障时候相同。例如：b/1只有当ab=10时候响应不同，所以说ab=10是