符合测量实验报告介绍.doc

实验三 符合测量 实验概述 符合测量技术在核物理实验各领域中有着广泛的应用，在核反应的研究中用来确定反应物的能量和角分布，在核衰变测量中可以用来研究核衰变机制，级联辐射之间的角关联，短寿命放射性核素的半衰期等。 实验目的 通过调整符合系统参量，选定工作条件，观察各级输出信号波形及时间关系； 测量符合装置的的分辨时间； 测量绝对活度。 实验装置 实验装置如图所示，包括β，γ探头，线性放大器2个，定时单道分析器2个，高压电源2个，精密脉冲发生器1个，低压电源1个，符合电路1个，插件机箱1台，三路定标器1台，SR-8双源示波器1台，放射源，各1个，铝挡片1个。 实验原理 符合法的几个基本概念 符合事件 两个或两个以上同时发生的事件称为符合事件。符合法就是利用符合电路来甄别选出符合事件的方法， 探测器输出的脉冲总要经过放大、整形，使之具有一定的宽度，当这样的两个脉冲达到符合电路的时间间隔小于这一宽度时，将被当作同时发生的时间记录下来。时间间隔大于的两个脉冲才能被符合电路分辨为不同时事件，小于则分辨为同时时间，称为符合分辨时间。符合事件实际上就是指相继发生的时间间隔小于符合分辨时间的事件。 延迟符合和反符合 除符合电路外，还发展了延迟符合与反符合电路， 选择不同时的，但有一定延迟时间联系的脉冲符合称为延迟符合。而反符合电路与符合电路的逻辑功能相反，两个符合道同时有脉冲输入时，反符合无输出脉冲；两个符合道中任一道有脉冲输入时，反符合门有脉冲输出。 真符合与偶然符合 一个原子核级联衰变时接连放射β和γ射线，这一对β、γ如果分别进入两个探测器，将两探测器输出的脉冲引到符合电路输入端时，便可输出一个符合脉冲，这种一个事件与另一个事件具有内在因果关系(即相关性)的符合输出称为真符合。 对于大量的独立事件来说，两个探测器的输出信号同时发生在τ时间内，这时符合电路也输出符合脉冲，但这个事件是不具有时间关联的事件，这种符合称偶然符合。 偶然符合和符合分辨时间 在符合分辨时间内的两个事件，均可能使符合装置产生一次符合计数。符合计数中包括真符合计数和偶然符合计数。每当在时间间隔内存在两个独立事件引起的脉冲时，就可能被符合装置最为符合事件记录下来，这种符合叫偶然符合。越大，偶然符合计数率也将越大。 下图为偶然符合示意图及发生符合的脉冲间隔。 第一道平均计数： 第二道平均计数： 第一道脉冲可能从到时间内进入第二道脉冲发生偶然符合，如上图。 平均符合率： 第一道偶然符合计数为： 则有 可看出，减少能够减少偶然符合概率。但减少到一定程度会引起时间离散，造成真符合丢失。 测量符合分辨时间的两种方法 偶然符合方法测量分辨时间 利用测量瞬时符合曲线的方法来测定符合的分辨时间 用脉冲发生器作脉冲信号源，人为改变两输入道的相对延迟时间时，符合计数率随延迟时间的分布曲线称为延迟符合曲线。对于瞬发事件，即发生的时间间隔远小于符合的分辨时间τ的事件，测得的延迟符合曲线称为瞬时符合曲线，如下图（a）所示。 由于标准脉冲发生器产生的脉冲基本上没有时间离散，测得瞬时符合曲线为对称的矩形分布。通常把瞬时符合曲线的宽度定为2τ，τ称为电子学分辨时间。 实际上，由探测器探测并拾取信号的过程中，辐射粒子进入探测器的时间与探测器输出的脉冲前沿之间的时距(由于光电转换传输等过程的不确定性)并不是固定不变的，该时距变化叫时间离散，脉冲前沿的时间离散是探测器输出脉冲所固有的。用放射源的β-γ瞬时符合信号，作瞬时符合曲线的测量，其结果如上图(b)所示。以瞬时符合曲线的半宽度来定义符合分辩时间(即最高符合计数率一半处的全宽度)。又称物理分辩时间。在慢符合（）情况下， . β-γ符合测量放射源绝对活度的方法 实验装置作β-γ符合。两个探测器都采用闪烁计数器。β探测器用塑料闪烁体，用来测量β粒子，它对γ射线虽然也很灵敏，但探测效率低。γ探测器用NaI(Tl)闪烁体，并外加铝屏蔽罩，将发出的β射线完全挡住，而只能测量γ射线。 设的放射源的活度为(衰变数/秒)，分别表示β粒子在β探测器中引起的计数率，γ粒子在γ探测器中引起的计数率以及β-γ真符合计数率。 则放射源的活度表示为： 由上式可以看出活度只与两个输入道和符合道计数有关，与探测器的效率无关，这给测量带来很大的方便。但是从实验数据准确地得到活度尚需进行一系列修正，因为实际测到的符合计数中包括了偶然符合计数、本底符合计数及γ-γ符合计数，各道计数还要扣除本底，此外还应考虑所测核素衰变图的特点，如角关联、内转换等修正因素。 β道、γ道和符合道计数的实