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两位flash ADC设计.doc
华侨大学电子工程系
两位flash ADC设计
设计课题: 两位flash ADC设计 姓 名: 连炳发 专 业: 集成电路设计与集成系统 学 号: 1015251015 日 期 2013 年7 月 1 日——2013 年9 月 4日 指导教师: 杨骁
华侨大学厦门专用集成电路与系统重点实验室 -2013-
一、两位flash ADC设计实验分析:
设计一个采样时钟为200MHz的2位Flash ADC,参考电路如图所示。
电路包括:两相不交叠时钟电路设计,比较器电路、温度码转二进制码电路设计.
Flash ADC核心电路实现结果:
当(VIP-VIN)-0.5时,输出000
当-0.5( VIP-VIN)0时,输出001
当0( VIP-VIN)0.5时,输出011
当(VIP-VIN)0.5时,输出111
温度码转二进制码电路设计把上述结果转换为二进制码(2位):
000――――00
001――――01
011――――10
111――――11
(a)参考电平的设计
选择合适的电阻值,使得,
(b)
Vin+,Vin-为要比较的输入信号,Vref3,Vref1为参考电压,Vref2为共模电平和0的比较电平。为两相不交叠时钟。
(c)两相不交叠时钟电路设计
(d)
比较器的输出级
(d) 温度码转二进制码电路设计
二、各模块的具体设计
本试验,采用和实验设计题目提供的不同设计架构。本设计由差分放大器、反相器串联形成的缓冲器组合形成比较器,由D触发器在时钟的控制下锁存比较器输出的比较结果。使用组合逻辑搭建温度码到二进制码的编码。具体电路细节如下所示:
温度码生成器:
D触发器:
顶层设计:
各个模块的仿真波形如下:
差分放大器(单级测试):
差分放大器(两级级联):
比较器斜坡信号测试:
比较器正弦信号测试:
正弦信号测试下的温度码:
正弦信号下的二进制码:
从以上波形仿真中可见,本设计基本符合设计要求,但是在速度和精度方面仍有欠缺,有待改进。
.三、设计体会总结:
通过此次的设计,我们收获了很多。对集成电路的设计有了一定的认识,设计前必须对设计内容有详细的了解,精细地划分各个模块,做好工作分配工作。充分利用网络书籍资料,为自己的设计提供理论依据和实际设计。
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