光耦合器测试方法.docVIP

光耦合器简介 分类及参数 高线性光耦合器 高速光耦合器 逻辑输出光电耦合器 MOSFET输出光电耦合器 光隔离放大器 光电二极管输出光电耦合器 晶体管输出光电耦合器 三极与 SCR 输出光电耦合器 表一：光电耦合器的分类 输入类型 最大集电极/发射极电压 最大集电极/发射极饱和电压 绝缘电压 电流传递比 最大正向二极管电压 最大输入二极管电流 最大集电极电流 最大功率耗散 最大工作温度 最小工作温度 封装 / 箱体 系列 封装 600 表二：高线性光耦合器的参数 绝缘电压 输出类型 最大传播延迟时间 最大正向二极管电压 最大反向二极管电压 最大正向二极管电流 最大连续输出电流 最大功率耗散 最大工作温度 最小工作温度 封装 / 箱体 系列 封装 测试项目 参数 测试条件 判断标准 KFT FFCT ACCT FA 发光二极管正向压降VF 参照Datasheet Datasheet范围内 √ √ 正向电流IF 参照Datasheet Datasheet范围内 √ √ 输入级与输出级之间的绝缘电阻 参照Datasheet Datasheet范围内 √ 集电极-发射极反向击穿电压V(BR)CEO 参照Datasheet Datasheet范围内 √ √ 集电极-发射极饱和压降VCE(sat) 参照Datasheet Datasheet范围内 √ 上升时间、下降时间、延迟时间和存储时间 参照Datasheet Datasheet范围内 √ CTR（Current-Transfer Ratio） 参照Datasheet Datasheet范围内 √ 测试方法 参数/项目 设备 条件 方法 CTR（Curremt-Transfer Ratio） 2410数字源表，万用表 参照Datasheet VCC输入额定直流电压，用万用表mA档分别测量IF和IC处电流 发光二极管正向压降VF 2410数字源表 参照Datasheet 用数字源表测试，电流设为IF (参照Datasheet），测试CA和AN端电压VF。 反向电流IR 2410数字源表 参照Datasheet 用数字源表测试，设置电压为VR（参照Datasheet），反向接入电压输入，测试CATHODE和ANODE端的电流。 输入级与输出级之间的绝缘电阻 高精度万用表 参照Datasheet 集电极-发射极反向击穿电压V(BR)CEO 2410数字源表 参照Datasheet 用2410电流源测试，在输出端加上反向电流IC（ICEO100nA）。 集电极-发射极饱和压降VCE(sat) 2410数字源表 参照Datasheet 用2410电流设为20mA，正极接在AN端，负极接在CA端，另一个2410电流设置为1mA，保护电压设置为0.2V，显示设置为电压输出(参数根据不同芯片Datasheet设定)正极接COLLECTOR,负极接EMITTER，观察数字源表的示数。 上升时间、下降时间、延迟时间和存储时间 示波器和信号发生器 参照Datasheet 使用信号发生器产生5-0V方波，频率50KHZ（参照Datasheet），输入到ANODE和CATHODE端，电压源产生2V的电压，示波器的通道1接输入端，通道2接输出端。观察波形，判断Tr是否在规定范围。 案例 1、高速光电耦合器（以下的测试中将以PC187芯片为例） （1）PC187简介 制造商 产品种类 封装/箱体 通道数量 SHARP 高速光耦合器 PDIP-4 1 图一：原理及管脚分配图 （2）测试参数及方法 1）电流传输比测试： VCC输入额定直流电压（10V），IF端输入额定电流，用万用表mA档分别测量IF和IC处电流，计算是否在规定范围。 2）最大正向二级管电压测试： 用电流源测试，电流设为IF (一般为20mA），正极接在PIN1，负极接在PIN2，测试输出电压VF：范围（不能大于1.4V） 3）输入端反向漏电流测试 用电压源在输入端(PIN12)加反向电压(按该器件的标准条件），测电流，电流小于最大反向漏电流IR:Reverse Leakage Current（10uA) 4）输出端击穿电压测试： 用2410【1】电流源测试，在输出端加上反向电流IC（ 图二：波形图