中山大学数电实验1.docxVIP

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中山大学数电实验1

实验一 TTL与非门的静态参数测试 一、实验目的 1. 掌握TTL与非门电路主要参数和电压传输特性的测试方法。 2. 熟悉数字电路试验箱、数字万用表的使用。 二、实验仪器及器件 1.数字电路试验箱、万用表、示波器. 2器件:74LS00 X 2.电阻:560Ω X 1,1OkΩ X 1 三、实验内容 1、低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH及静态平均功耗P: 与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。 ICCL:指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流.也称空载导通电流.测试电路如图(一)(a)所示。 ICCH:指输出端空载,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源提供器件的电流。也称空载截止电流,电路如图(二)(b)所示。 P: 为电路空载导通功耗Pon和空载截止功耗Poff的平均值,其值为: p=pon+pon2=VCCICCL+VCCICCH2 (通常PonPoff) 图(一) 2、输入短路电流IIS和输入漏电流IIH: IIS:(或IIL)指被测输入端接地,其余输入端和输出端悬空时.由被测输入端流出的电流。也称低电平输入电流。在由多级门构成的电路中,IIS 相当前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流。因此.IIS越小,前级门带负载的个数就越多。测试电路如图(二)(a)所示。 IIH:指被测输入端接高电平,其余输入端接地,输出端悬空时,流入被测输入端的电流。也称高电平输入电流。在由多级门构成的电路中,它相当于前级门输出高电平时,前级门的拉电流负载。IIH越小,前级门电路带负载的个数就越多。IIH较小,难以测量。测试电路如图(二)(b)所示。 图(二) 3、输出高电平UOH及关门电平Uoff 图(三) 测量电路如图(三)(a)所示。先调W,使输入电压为0V这时输出电压即为UOH。然后渐渐增大输入电压,当输出电压下降到90%UOH时,测得输入电压即为关门电平Uoff。 4、输出低电平UOL及开门电平Uon 测量电路如图(三)(b)所示。先调W,使输入电压为高电平,测得的输出电压即为UOL然后渐渐减小输入电压,测得使输出电压维持在UOL的最低输入电平,即为开门电平Uon。 5、测试TTL与非门的电压传输特性: 图(三)(b)断开RL即为测量电路。调W,使输入电压由小到大,用万用表对应地测出输入电压和输出电压,并一一记录在表中。测量时,对Voff和VON的附近,输入电压的变化可取消一点,即测量点取密一些。 6、平均传输延迟时间tpd tpd是衡量门电路开关速度的参数,它是指输出波形边沿的0.5V。至输入波形对应边沿0.5Vm点的时间间隔,如图(四)(a)所示。 图(四)(a)中的tpdL为导通延迟时间,tpdH为截止延迟时问,平均传输延迟时间为: tpd=tpdH+tpdL2 图(四) tpd的测试电路如图(四)(b)所示,由于TTL门电路的延迟时间较小,直接测量时对信号发生器和示波器的性能要求较高,故实验采用测量由奇数个与非门组成的环形振荡器的振荡周期T来求得。其工作原理是:假设电路在接通电源后某一瞬间,电路中的A点为逻辑“1,经过七级门的延迟后,使A点由原来的逻辑“1”变为逻辑”0;再经过七级门的延迟后,A点电平又重新回到逻辑 “1”。电路中其它各点电平也跟随变化。说明使A点发生一个周期的振荡,必须经过14级门的延迟时间。因此平均传输延迟时间为: tpd=T14 TTL电路的tpd一般在6nS ~ 30nS之间。 由于所用的74LS00四输入与非门的tpd很短,要用7个与非门连成环形震荡器,以便测量其周期T。 四、实验数据整理与分析 1、低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH及静态平均功耗P,数据记录为: ICCL=2.953mA,ICCH=0.9116mA,P=9.5533mW 2、输入短路电流IIS和输入漏电流IIH,数据记录为: IIS=0.231mA,IIH=0.000mA 由于输入漏电流过小,无法被万用表测到,因此记为0mA 3、输出高电平UOH及关门电平Uoff,数据记录为: UOH=3.947V,Uoff =0.9354V 4、输出低电平UOL及开门电平Uon,数据记录为: UOL=0.319V,Uon=1.128V 5、测试TTL与非门的电压传输特性,数据记录如表所示: Ui(V)00.20.40.60.80.90.951Uo(V)4.8414.7324.5884.4494.3063.9233.4643.032Ui(V)1.051.11.522.533.54Uo(V)2.4810.12520.12270.12280.1229

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