基于工业总线控制的在线聚合物杂质测量仪的设计.doc

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基于工业总线控制的在线聚合物杂质测量仪的设计

基于工业总线控制的在线聚合 物杂质测量仪的设计 摘要 聚合物材料的洁净度是衡量聚合物产品质量的重要指标之一,如何提高聚合物产品的洁净度,是众多聚合物生产企业以及以聚合物为原材料的企业所面临的重要问题。为了解决这一难题,本文针对工业总线控制的在线聚合物杂质测量系统及其相关技术进行了研究。本文应用光学成像思想,采用实时测量技术与数字图像处理技术,完成了对聚合物杂质测量系统的设计。 通过对聚合物进行一公斤抽样检测来评价聚合物原料的洁净度。聚合物杂质测量系统是在散射光的照射下,通过线阵CCD(TCD132D)检测电路获得聚合物在薄膜形态下的杂质信号,经过单片机系统对一维CCD信号进行采集、处理,传输,借助于计算机进行分析处理,从而精准地检测出聚合物内杂质的信息。论文以光学图像传感技术取代了传统的激光式测量方式,详细分析了它的工作原理,制定了本设计的主电路的构成方案:以线阵CCD(TCD132D)的驱动电路与检测电路为重点,以单片机与部分检测、控制、通信单元为核心的设计方案。 论文叙述了聚合物杂质测量系统的整体结构设计方法,对其中的驱动电路、检测电路、通信电路作了详实的分析与设计。并阐述了该系统的实验方法,通过大量的实验数据验证了文中的理论分析、设计的合理性,本系统可对70μm~1500μm5%以内。 关键词 CCD;信号处理;单片机;工业总线 Based on the Control of the Bus-line Industrial Polymer Impurities in the Design of Measuring Instrument Abstract Cleanliness of the polymer material is an important indicator of the quality of polymer products. How to improve the cleanliness of polymer products is an important issue that many polymer production enterprises have to face as well as the enterprises which use polymer materials. the paper studies polymer impurities measurement system controlled by the industry bus-line and related technology. In order to solve this problem, in this paper, we choose the optical imaging method, the real-time measurement technology and the digital image processing technology to complete the design of a polymer impurities measurement system. In order to assess the cleanliness of polymer materials, we test one kilogram polymer as sample. The system of polymer impurities measurement is in the scattered light exposure using the array CCD (TCD132D) circuit detecting the impurities signal in polymer film form. Then it uses CM system to do the collection, processing and transmission of the one-dimensional CCD signal. Under the help of the computers for analysis, we can precisely detect impurities information in the polymer. In this thesis, we used the optical image sensor technology instead of the traditional laser measurement method, detailed analyze its working principles, and then developed the program of the m

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