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『润联网』 登录【润联网】查询价格登录“润联网” 可查找底价 热膨胀仪全系列和离子减薄仪GL2011价格 标题:微波测试仪器和离子减薄仪价格库号：JX164127 价格：百度搜【润联网】查询主要技术参数： 仪器简介：离子减薄仪（Precision Ion Polishing System ）：为整套TEM样品制备的最后一道工序，经氩离子减薄的样品可在TEM 下直接观察。GATAN型号691必威体育精装版一代精密离子减薄仪在标准配置中增加了低能量离子枪功能，最低离子枪能量只有0.1KeV，尤其适合能量敏感性样品。此外，刚刚新推出的可选配置液氮冷台，可满足用户对温度敏感性样品减薄的需求。技术参数：离子源 离子枪 两个潘宁离子枪与微型稀土永磁体 减薄角度 +10° 到 -10°，每个离子枪均独立可调节 离子束能量 100eV 到6.0 KeV 光束直径 5keV 下350μm FWHM - 宽离子枪5keV 下800μm FWHM 离子电流密度 最大 10mA/cm2 离子束调制 通过荧光屏精密调整离子束 离子束尺寸 通过气体控制调整 样品台 样品尺寸 3mm或2.3mm 底座 专利DuoPost?（标准）或者石磨载台（可选配） 旋转速率 1rpm - 6rpm 离子束调制 针对特殊横截面可选择单面或双面减薄 观测器 双目显微镜 40X或80X CCD标题:微波测试仪器和耐折度仪AT-NZ价格库号：JX164128 价格：百度搜【润联网】查询主要技术参数： 仪器简介： 功能最强大的离子减薄仪器，RES102多功能离子减薄仪。 RES102 是一款独特的离子束研磨设备，带有两个鞍形场离子源，离子束能量可调，以获得最佳离子研磨结果。这一款独立的桌面型设备集 TEM，SEM和LM样品制备功能于一体，这与市面上其它设备截然不同。除了高能量离子研磨功能外，EM RES102还可用于低能量极温和的离子束研磨过程。功能介绍.透射电镜TEM样品离子减薄 .扫描电镜SEM样品大面积平面离子抛光 .扫描电镜SEM样品离子刻蚀 .扫描电镜SEM样品截面切割 .聚焦离子束FIB样品去除非晶损伤层全马达控制的双离子枪和样品台 技术参数：减薄角度可调由0o至90o 主机内置2级泵,确保高真空加速电压范围：800V～10kV（100V步进） 最大离子电流：不小于4.5mA（单把离子枪） 离子枪倾斜角：±45度（精确到0.1度） 样品台倾斜角：-120度～210度（精确到0.1度） .四级系统隔膜泵和涡轮分子泵 .真空度优于1标题:氧指数测定仪XZT-100A和短路测试仪价格库号：JX164129 价格：百度搜【润联网】查询主要技术参数： 多功能离子减薄仪EM RES102Leica EM RES102 通过离子枪激发获得离子束，以一定入射角度对样品进行轰击，以去除样品表面原子，从而实现对样品的离子束加工。Leica EM RES102主要功能为：对无机薄片样品进行离子减薄，使得薄片样品可被透射电子穿过，从而适宜TEM透射电子显微镜观察；对无机块状样品进行离子束抛光、离子束刻蚀，样品表面离子清洗及斜坡切割，便于SEM扫描电子显微镜观察样品内部结构信息。* 具有2把离子枪，离子束能量为0.8keV-10keV，相对位置，可分别±45°倾斜，样品台倾斜角度-120°至 210°，离子束加工角度0°至90°，样品平面摆动角度360°， 垂直摆动距离±5mm。实际操作参数根据具体应用需要选择（系统备有参考参数，也可自行设置参数并存储）* 可选配样品台：TEM样品台（?3.0mm或?2.3mm），FIB样品清洗台，SEM样品台，斜坡切割样品台（对样品35°或90°斜坡切割）等* SEM样品台可容纳最大样品尺标题:纸板测定仪SKZ103A和白度测定仪ZB-B价格库号：JX164130 价格：百度搜【润联网】查询主要技术参数： 工作原理离子减薄制样技术属于离子束加工范畴。其方法是用高能离子束轰击样品表面、高能离子与样品表面原子发生弹性碰撞、样品表面原子能量增大至高于该原子逸出功时，便飞离样品，从而使样品逐渐减薄。离子减薄仪通常用双枪从样品两侧轰击。样品随着支架旋转，使得离子束轰击均匀。 产品描述 GL2011型离子减薄仪由国内顶尖专家精心设计制作，性能稳定，应用广泛，可对金属、非 金属、陶瓷、矿物、半导体、骨骼、牙齿等几乎所有固体材料进行精密减薄处理。 产品特点 多功能样品台，兼具离子减薄和离子抛光功能 离子束流自动控制 监视系统采用光源 减薄过程无离子束遮挡 精心设计防污染观察系统 结构紧凑，体积小，精密 设计，防误操作系统 样品洁净，样品信息更为 真实可靠 技术参数 产品名称离子减薄仪离子束加速电压0-10KV 连续可调最大束流