福禄克网络产品DTX介绍2讲述.ppt

现场需要测试的参数 所需测试的参数与应用的测试标准有关 Wire Map接线图（线序图） Resistance（环路）电阻 Impedance 阻抗 Length长度 Propagation Delay传输时延 Delay Skew 时延偏离 Insertion Lose插入损耗/Attenuation衰减 RL回波损耗（@主机、@远端） NEXT近端串扰（@主机、@远端） PS NEXT综合近端串扰（@主机、@远端） ACR-N衰减近端串扰比（@主机、@远端） PS ACR-N综合衰减近端串扰比（@主机、@远端） ACR-F衰减远端串扰比（@主机、@远端） PS ACR-F综合衰减远端串扰比（@主机、@远端） PS ACR-F综合衰减远端串扰比 一对线感应到其他线对的ACR-F的总和 Attenuation FEXT PS ACR-F ACR-F (信号的分贝差) 信号 PS ACR-F综合衰减远端串扰比 PS ACR-F实测曲线 极限值 PS ACR-F综合衰减远端串扰比 PS ACR-F是一个计算值 通常适用于2对或2对以上的线对同时在同一方向上传输数据（例如1000Base-T） 布线系统中的信号噪声比 影响高性能网络传输的重要因素 都来自于布线系统本身 RL回波损耗 ACR-N衰减近端串扰比 ACR-F衰减远端串扰比 现场测试参数回顾 Wire Map接线图（线序图） Resistance（环路）电阻 Impedance 阻抗 Length长度 Propagation Delay传输时延 Delay Skew 时延偏离 Insertion Lose插入损耗/Attenuation衰减 RL回波损耗（@主机、@远端） NEXT近端串扰（@主机、@远端） PS NEXT综合近端串扰（@主机、@远端） ACR-N衰减近端串扰比（@主机、@远端） PS ACR-N综合衰减近端串扰比（@主机、@远端） ACR-F衰减远端串扰比（@主机、@远端） PS ACR-F综合衰减远端串扰比（@主机、@远端） 测试结果分析 测试报告中有关PASS/FAIL的规定 PASS和PASS*都是标准认可的通过 FAIL和FAIL*都是需要修复并重新测试的 测试结果 评估结果 所有测试都Pass PASS 一项或多项 Pass* 所有其它测试都通过 PASS 一项或多项 Fail* 其它所有测试都通过 FAIL 一项或多项测试是Fail FAIL 最差余量与最差值 标准要求同时报告最差余量与最差值 余量：实际测试值与极限值的差值 最差余量：在测试通过时全频率量程范围内实际测试值与极限值最接近点处的差值，如测试不通过，就是差值的绝对值最大值 最差值：全频率量程范围内测量到的最差值 最差余量与最差值：测试通过 最差余量与最差值：测试失败 测试仪器的精度 测试结果中出现*，表示该结果处于测试仪器的精度范围内，测试仪无法准确判断 测试仪的精度范围也被称作是“灰区”，精度越高，灰区越小，测试结果越可信 +0.6dB和-0.4dB 分别小于测试仪在各自频 点处的精度范围内 更高的精度 更少的误判 Fail* Pass* 提高链路性能 Fail Pass 测试极限 提高测试仪器的精度可有效减小“灰区” 灰 区 测试仪的精度 DTX 系列电缆认证测试仪达到并超越了IV级精度 CAT6A DTX-1800 CAT6 DTX-1200 CAT6 DTX-LT CAT5e DTX-CLT 故障诊断 HDTDX和HDTDR HDTDX：高精度时域串扰分析 FLUKE网络公司专利技术 用于解决与NEXT有关的故障定位 在一对线上发信号，在另一对线上测量时域内的近端串扰幅值 HDTDR：高精度时域反射分析 通用技术 用于解决与特性阻抗不匹配有关的故障定位 在一对线上发信号，在同一对线上测量时域内的反射值 HDTDX 3,6-4,5线对间NEXT不合格，HDTDX显示在3米处NEXT不合格 现场需要测试的参数 所需测试的参数与应用的测试标准有关 Wire Map接线图（线序图） Resistance（环路）电阻 Impedance 阻抗 Length长度 Propagation Delay传输时延 Delay Skew 时延偏离 Insertion Lose插入损耗/Attenuation衰减 RL回波损耗（@主机、@远端） NEXT近端串扰（@主机、@远端） PS NEXT综合近端串扰（@主机、@远端） ACR-N衰减近端串扰比（@主机、@远端） PS ACR-N综合衰减近端串扰比（@主机、@远端） ACR-F衰减远端串扰比（@主机、@远端） PS ACR-