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B. 计算控制限 极差上控制限:UCLMR=D4R; 极差下控制限:LCLMR=D3R; 单值上控制限:UCLX=X+E2R; 单值下控制限:LCLX=X-E2R; *样本容量小于7时,没有极差的控制下限 0.98 1.01 1.05 1.11 1.18 1.29 1.46 1.77 2.66 E2 0.22 0.18 0.14 0.08 * * * * * D3 1.78 1.82 1.86 1.92 2.00 2.11 2.28 2.57 3.27 D4 10 9 8 7 6 5 4 3 2 n 2 计量型数据控制图 C. 过程控制解释 超出控制限的点,表明存在特殊原因; D. 过程能力解释 如果过程处于正态分布,只要过程处于统计控制状态,就可用σ的估计值来评价过程能力; 2 计量型数据控制图 2.3 计量型数据的过程能力和过程性能的理解 A. 过程术语的定义 过程固有变差:仅由于普通原因产生的过程变差; 过程总变差:由于普通和特殊两种原因所造成的变差; 过程能力:仅适用于统计稳定过程,是过程固有变差的6σ; 过程性能:过程总变差的6σ范围; 2 计量型数据控制图 B. 过程量度的定义 B.1 指数 Cp:能力指数,定义为容差宽度除以过程能力; Pp:性能指数,容差范围除以过程性能; CPU:上限能力指数; CPL:下限能力指数; Cpk:过程中心的能力指数; Ppk:过程中心的性能指数; 2 计量型数据控制图 3 用于计数型数据的控制图 3.1 不合格品率的p图 A. 收集数据 A.1 选择子组的容量,频率及数量 a)子组容量—一般要求较大的子组容量(50-200); b)分组频率—根据产品的周期分组; c)分组的数量—25或更多的子组; A.2 计算每个子组内的不合格品率(p) 被检项目的数量—n; 发现的不合格项目的数量—np; 不合格品率:p=np/n; A.3 选择控制图的坐标刻度 不合格品率为纵坐标,子组频率为横坐标,纵坐标的刻度从0到最大不合格率的1.5-2倍; A.4 绘制控制图 描绘p值点并连线检查; 3 用于计数型数据的控制图 * Statistical Process Control 1 持续改进及统计过程控制概述 统计技术与统计过程的联系与区别 适用范围不同 SPC仅适用于过程控制 统计技术理论是SPC基础与工具 SPC的目的是研究变差并持续改进 1.1 预防与检测 a.检测---容忍浪费 b.预防---避免浪费 c.预防的核心是过程控制 1 持续改进及统计过程控制概述 1.2 过程控制系统 a.过程: 人(供方生产者)机料法环及顾客; b.性能信息: 重点是过程特性; c.对过程采取措施: 重要特性改变操作或基本因素; d.对输出采取措施: 检验和不合格处理; 1 持续改进及统计过程控制概述 1.3 变差的普通及特殊原因 a.变差:过程的单个输出之间不可避免的差别; 如:电机轴外径尺寸;汽车发动机的怠速油耗和扭矩等; b.普通原因:造成随着时间推移具有稳定的且可重复的 分布过程中的许多变差原因,如刀具或机器磨损造成的 变差等;此种称之为“受统计控制”; c.特殊原因:造成不是始终作用于过程的变差的原因,如 设备故障,人员更换,环境条件明显变化等; d.数据分布图形的特性:位置,分布宽度,形状; 1 持续改进及统计过程控制概述 1.4 局部措施和对系统采取措施 a.特殊原因的措施: 简单的统计过程控制技术可检查变差的特殊原因;应由操作直接有关的人员采取局部措施;可纠正大约15%的过程问题; b.普通原因的措施: 简单的统计过程控制技术可检查变差的范围;由管理人员采取系统措施; 1 持续改进及统计过程控制概述 1.5 过程控制和过程能力 过度控制:平衡不需控制而采取措施; 控制不足:需要控制时未采取措施; 过程能力:一个稳定过程的固有变差的总范围;过程能力由造成变差的普通原因来确定; 过程能力与顾客期望:检查并消除变差的特殊原因,使过程处于受统计控制状态,其性能可预测,则可评定满足顾客期望的能力; 1 持续改进及统计过程控制概述 过程分类: 4类 2类 不可接受 3类 1类 可接受 不受控 受控 满足要求 控制 1 持续改进及统计过程控制概述 可接受的过程:处于统计控制状态并且固有变差必须 小于图纸的公差; 1类过程:受统计控制并且满足要求,可接受; 2类过程:受统计控制但因普通原因造成过大的变差; 3类过程:符合要求,可接受,但不受控,需识别特殊原因 并消除; 4类过程:即不受控,又不可接受; 1 持续改进及统计过程控制概述 能力与能力指数 能力指数:过程的分布宽度或不合格的平均比例/比率; 计算过程能力的基本条件:受统计控制; 能力指数的分类:长期/