上海光源光束线站配置.doc

SSRF首批光束线和实验站配置一览表 软X射线谱学显微光束线/实验站 BL08U1 A 光源类型和参数 椭圆极化波荡器 EPU100，周期长度100mm，4.2米 样品处同步辐射光特性 能量范围 250 - 2000 eV 能量分辨 3000@410eV, 1500@1840eV 样品处光通量 108 phs/s @ 410 eV ≥107 phs/s @ 1840 eV 样品处光斑尺寸 150nm 实验站 实验站设备 主体STXM显微镜一台 快速正比计数管、光电二极管 湿样品槽二个（供湿样品用） 工作站一台 分析软件：NEXAFS分析软件、元素成分分析软件、三维图像分析 光学显微镜 实验方法 透射软X射线近边吸收谱分析（NEXAFS谱） 光谱显微分析—空间、能量三维（x,y,E）扫描 形态三维显微成像—空间三维（x,y,?）扫描 X射线成像及生物医学应用光束线/实验站 BL13W1 光源类型和参数 多极Wiggler ， 1.944T/16poles/14cm。 样品处同步辐射光特性 能量范围 10-60keV 能量分辨 5×10-3 样品处光通量 1×109 phs/s/mm2@20keV 样品处光斑尺寸 45mm H ×5mm V @30m@20keV 实验站 实验站设备 精密隔振平台、高分辨X射线CCD、多维样品台、精密导轨、电离室、快门、斩波器等。 实验方法 同轴相衬成像（IL-PCI） 显微CT（MCT） 衍射增强（DEI）等 XAFS 光束线/实验站 BL14W1 光源类型和参数 多极 Wiggler 38 极 1.2 T，周期长度80mm 样品处同步辐射光特性 能量范围 4 ～22.5 keV 能量分辨 2×10-4 Si 111 晶体@10keV 样品处光通量 2×1012 phs/s 100mA @10keV 样品处光斑尺寸 0.5×0.5 mm2 H×V 实验站 实验站设备 32元Ge固体探测器Oxford 闭气路谱学电离室Lytle荧光电离室高低温原位设备 10K~1000K 5维样品平台 实验方法 透射XAFS荧光XAFS掠入射XAFS 时间分辨QXAFS原位XAFS X射线衍射光束线/实验站 BL14B1 光源类型和参数 弯铁，电子能量3.5GeV，束流300mA，磁场强度1.27T，临界能量10.35keV，水平自然发射度3.9nmrad 样品处同步辐射光特性 能量范围 4-22keV 能量分辨 2×10-4@10keV 样品处光通量 2×1011phs/s 样品处光斑尺寸 H 0.4mm× V 0.4mm 实验站 实验站设备 Huber5021型6圆衍射仪及相关附件 NaI闪烁体探测器电离室固体荧光探测器 实验方法 粉末衍射 XRD 掠入射衍射/掠入射反常衍射 GID/GIXAD 反射率测量 XRR 倒易空间二维强度分布测量 RSMs 衍射异常精细结构 DAFS 硬X射线微聚焦光束线/实验站 BL15U1 光源类型和参数 真空室内波荡器，周期数80，长度2m 样品处同步辐射光特性 能量范围 5-20 keV 能量分辨 E/E~2×10-4 样品处光通量 ~6×1010phs/s @ 10keV，200mA 样品处光斑尺寸 3 m 实验站 实验站设备 探测器：7元Si Li 探测器，硅漂移探测器，成像用X射线CCD，电离室。样品台：7轴高精度电动扫描台，2维压电陶瓷扫描台。其他：样品对光显微镜，调光X-CCD 实验方法 微束X射线荧光分析 -XRF ：探测样品中微区元素含量和分布,2维，3维。 微束近边X射线吸收精细结构 -XANES ：特定的元素在样品中的化学种态。 微束X射线衍射、散射 需要借用X射线面探测器 表面分析实验方法X射线成像 小角散射光束线/实验站 BL16B1 光源类型和参数 弯铁光源电子能量3.5GeV； 自然水平发射度3.9nm.rad；流强300mA； 磁场强度1.27T 样品处同步辐射光特性 能量范围 5-20keV 能量分辨 6.0×10-4@10keV 样品处光通量 3×1011phs/s@200mA 样品处光斑尺寸 0.4×0.5mm @10keV 实验站 实验站设备 一维广角气体探测器、一维小角气体探测器、成像板探测器单色光狭缝电离室系统掠入射小角散射样品台真空管道及支架系统等。 实验方法 小角散射同时广角和小角散射掠入射小角散射反常小角散射 生物大分子晶体学光束线/实验站 BL17U1 光源类型和参数 真空室内波荡器,周期长度为2.5cm, 最小磁隙为6mm 样品处同步辐射光特