三极管的简单检测方(经验判断).doc

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三极管的简单检测方(经验判断)

一、三极管的简单检测方法(经验判断) 冒状的三极管: 对于这种冒状三极管,一般都有个凸出的部分,则突出部分对应为E极,然后B极应该为中间的引脚,另外一脚则为C极; 普通的三极管: 对于这种三极管,首先用数字万用表检测出B极(万用表打到导通挡,若测得某一引脚与其他两引脚的压降为无穷大,调换表笔,测得此引脚与其他两引脚都存在一定的压降,则可判定此引脚为B极),检测出B极后,将万用表打到导通挡(即二极管挡),分别测量另外两支引脚对B极的正向偏压,其中偏压较大的为E极,偏压较小的为C极; (注:一般三极管若检测出B极在一端,则另一端为E极,中间为C极) 二、电容的串、并联: 1.电容串联电路的基本特征: a):电容串联后总电容的倒数等于各电容容量的倒数之和,即1/C=1/C1+1/C2+…,这一点与电阻并联电路相同。(记住一个特例:当两个容量相等电容串联后,其总的电容容量为原来单个电容容量的一半。) b):在电容串联电路中,容量大的电容两端电压小,容量小的电容两端电压大(由Q=C*U,存储在串联电路中各个电容的电荷量Q相等,所以容量越大,电容两端电压越小。),当某个电容的容量远大于其他电容时,该电容相当于通路,此时电路中起决定性作用的是容量小的电容。 c):两只有极性电解电容顺串联的结果仍然为一只有极性的电容,总电容的容量减小,总电容的耐压提高;逆串联后电容没有极性,两根引脚可以任意接入电路中。 2.电容并联电路的基本特征: a):电容并联电路中的总电容等于各电容的容量之和,即总容量C= C1+C2+…,这一点与电阻串联特性相似。 b):电容并联电路中各电容上电压相等,各电容支路中,大容量电容支路中的电流大,小容量电容支路中的电流小。(因为并联电路两端电压相等,容量大容抗小,电流大) 说明:(平板电容公式为c=εs/4πkd.平行板电容器的电容c跟介电常数ε成正比,跟正对面积成s正比,跟极板间的距离d成反比,其中式中的k是静电力常量。 π约等于3.1415926 直径(mm) 25℃时的零功率电阻(Ω) 25℃时的最大稳态电流(A) 最大电流时的电阻(mΩ) 热时间常数(s) SCK-035 10 3 5 119 45 SCK-054 10 5 4 180 33 SCK-103 10 10 3 297 46 SCK-152X 10 15 2.5 442 51 SCK-1R58 15 1.5 8 62 66 SCK-2R58 15 2.5 8 75 63 SCK-075 15 7 5 161 79 SCK-105 15 10 5 178 79 SCK-473 15 47 3 501 77 SCK-802X 15 80 2.5 693 71 四、常用集成电路的检测(数字IC多用+5V的工作电压,模拟IC工作电压各异) 1.微处理器集成电路的检测:微处理器集成电路的关键测试引脚是VDD电源端、RESET复位端、XIN晶振信号输入端、XOUT晶振信号输出端及其他各线输入、输出端。 在路测量这些关键脚对地的电阻值和电压值,看是否与正常值(可从产品电路图或有关维修资料中查出)相同。 不同型号微处理器的RESET复位电压也不相同,有的是低电平复位,即在开机瞬间为低电平,复位后维持高电平;有的是高电平复位,即在开关瞬间为高电平,复位后维持低电平。 2.开关电源集成电路的检测:开关电源集成电路的关键脚电压是电源端(VCC)、激励脉冲输出端、电压检测输入端、电流检测输入端。测量各引脚对地的电压值和电阻值,若与正常值相差较大,在其外围元器件正常的情况下,可以确定是该集成电路已损坏。?内置大功率开关管的厚膜集成电路,还可通过测量开关管C、B、E极之间的正、反向电阻值,来判断开关管是否正常。 3.音频功放集成电路的检测:检查音频功放集成电路时,应先检测其电源端(正电源端和负电源端)、音频输入端、音频输出端及反馈端对地的电压值和电阻值。若测得各引脚的数据值与正常值相差较大,其外围元件与正常,则是该集成电路内部损坏。 对引起无声故障的音频功放集成电路,测量其电源电压正常时,可用信号干扰法来检查。测量时,万用表应置于R×1档,将红表笔接地,用黑表笔点触音频输入端,正常时扬声器中应有较强的“喀喀”声。 4.运算放大器集成电路的检测:用万用表直流电压档,测量运算放大器输出端与负电源端之间的电压值(在静态时电压值较高)。用手持金属镊子依次点触运算放大器的两个输入端(加入干扰信号),若万用表表针有较大幅度的摆动,则说明该运算放大器完好;若万用表表针不动,则说明运算放大器已损坏。 5.时基集成电路的检测:时基集成电路内含数字电路和模拟电路,用万用表很难

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