MS7000常用语句详解.ppt

* / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your Testing The Better Choice For Your Testing 上海宏测半导体科技有限公司 MacroTest Semiconductor, Inc. 上海集成电路设计孵化基地技术服务中心 Shanghai Integrated Circuit Design Incubator Technical Service Center The Better Choice For Your Testing 上海宏测半导体科技有限公司 MacroTest Semiconductor, Inc. 上海集成电路设计孵化基地技术服务中心 Shanghai Integrated Circuit Design Incubator Technical Service Center 上海宏测半导体科技有限公司 MacroTest Semiconductor, Inc. MS7000 常用语句 作者：王 骏 加电压测电流（FVMI） 加电流测电压（FIMV） 测量频率（Fosc） AWG的使用 DCBL的使用 扫描 多级扫描 断电(Poweroff) 良品分BIN 测量漏电流 void __stdcall FVMI_fun() { double adresult[10];//定义数组adresult[10] OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceV,1,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);//给“Bin”脚施加1V电压，电压档位为2V，电流档位为5mA，电流范围限制为-5~5mA OVI.OVIAdcSet(Bin,OVI_Adc_I,10,10,FALSE);//在“Bin”脚采样，采样次数为10，采样间隔为10，不开启Digitizer功能 delay(5);//延时5ms OVI.OVIMeasure(Bin,OVI_MeasureI,adresult,OVI_2V,OVI_5mA);//在“Bin”脚测量电流，结果存到adresult数组中，电压档位为2V，电流档位为5mA OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceOff);//关闭“Bin”脚OVI通道 AddTestResult(SITE_1,FVMV,adresult[0]);//在工位1上将adresult[0]中的数值显示出来，显示名为FVMI } 加电压测电流（FVMI） 加电压测电流（FVMI） 加电流测电压（FIMV） 测量频率（Fosc） AWG的使用 DCBL的使用 扫描 多级扫描 断电(Poweroff) 良品分BIN 测量漏电流 void __stdcall FIMV_fun() { double adresult[10];//定义数组adresult[10] OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceI,1,OVI_30V,OVI_5mA,-50,50);//给“Bin”脚施加1mA电流，电压档位为30V，电流档位为5mA，电压范围限制为-50~50V OVI.OVIAdcSet(Bin,OVI_Adc_V,10,10,FALSE);//在“Bin”脚采样，采样次数为10，采样间隔为10，不开启Digitizer功能 delay(5);//延时5ms OVI.OVIMeasure(Bin,OVI_MeasureV,adresult,OVI_30V,OVI_5mA);//在“Bin”脚测量电压，结果存到adresult数组中，电压档位为30V，电流档位为5mA OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceOff);//关闭“Bin”脚OVI通道 AddTestResult(SITE_1,FIMV,adresult[0]);//在工位1上将adresult[0]中的数值显示出来，显示名为FIMV } 加电流测电压（FIMV） 加电压测电流（FVMI） 加电流测电压（FIMV） 测量频率（Fosc） AWG的使用 DCBL的使用 扫描 多级扫描 断电(Poweroff) 良品分BIN 测量漏电流 void __stdcall Fosc() { TMU.TMU_SET(Bin,TMU_FREQAN,10,1,TMU_10V,TMU_100K,TMU_FNONE);//设定TMU测量模式为测量频率、采样次数为10、timeout时间为1ms、测量档位为100kHz、不用滤波 TMU.TMU_START(Bin,TMU_SLOP_NEG,0.5,0);//在“Bin”脚测量波形，下降沿0.5V位置开始触发 TMU.TMU_STOP(Bin,TMU_SLOP_NEG,0.5,