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激光二极管LIV测试仪 苏美开 （济南福来斯光电技术研究室，flsoe@） 1.概述 激光二极管LIV测试仪是测量半导体激光器（LD）主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流，采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号，计算得出该LD的光电转换特性、伏安特性、光谱特性、远场/近场特性 近场特性正在开发中 和热特性。打印测试报告，保存数据。主要特点是： 1.1系统按功能模快化,采用单片机控制, 性能稳定可靠，维修使用方便； 1.2 测试功率覆盖范围宽：mW~1000W以上； 1.3 测试封装类型多：TO系列、光纤输出系列、Bar系列、管芯系列以及各种组件等等； 1.4 高质量的LD驱动电源：既可连续工作，又可脉冲工作，具有LD过流保护功能，低噪声、无浪涌和过脉冲； 1.5自动化程度高：整个测试、数据采集和数据处理、显示及打印都由系统自动完成； 1.6操作简单、测量速度快。 1.7 USB/RS232接口自选 2 功能 系统主要功能包括测量LD的光电特性（LI和LIM）、伏安特性（VI）、光谱特性（SP）、远场特性（FF）和热特性（R），具体如下： 2.1进行LIV和LI测试，绘制LIV曲线和LIM曲线，检测、推算工作电流、输出光功率、工作电压、阈值电流、功率效率、斜率效率、微分电阻、背光电流等参数； 2.2进行光谱测试：绘制光谱曲线，推算峰值波长、光谱谱宽； 2.3进行远场测试: 绘制远场曲线，推算水平发散角、垂直发散角； 2.4进行热阻测试； 2.5测试数据能够保存、导入，可打印标准测试报告。 2.6可测量参数见表1： 表1 可测量参数 IO 工作电流 Ith 阈值电流 PO 输出光功率 ES 斜率效率 VO 工作电压 EP 功率效率 Rd 微分电阻 λp 激光峰值波长 IM 背光电流 Δλ 波长宽度 θ∥ 远场水平发散角 θ⊥ 远场水平发散角 Rth 热阻 3主要技术指标 测试仪按照功率分类应包括小功率测试仪（0-100mW）；中功率测试仪（0-10W），大功率测试仪（0-100W以上）。表2给出了不同功率类型仪器的主要技术指标。 仪器类型 主要技术要求 小功率 中功率 大功率 功率测量范围与精度 1～100mW； 分档：0-10 mW, 0-50 mW, 0-100 mW ； 精度：量程的±5.0% 0.1～10W ； 分档：0-500 mW ,0-1000 mW， 0-3000mW, 0-10000mW； 精度：量程的±5.0% 1～100W, 或1-500W以上； 分档：1-10W, 1-50W，1-100W ,1-500W以上； 精度：量程的±5.0% 驱动电源控制范围与精度 电压范围0-5V，误差：±0.2V； 电流范围：0~400mA，连续和脉冲 脉冲参数: 占空比t:50~500us f:50~500Hz, t、f可任意匹配 ； 分档: 0-50mA, 0-100 mA, 0-400 mA； 误差：±0.5％ 电压范围：0-5V，误差：±0.2V； 电流范围：0~12000mA，连续和脉冲 脉冲参数: 占空比t:50~200us f:50~200Hz, t、f可任意匹配 ； 分档:0-500mA，0-1000mA，0-3000 mA，0-5000 mA, 0-8000mA，0-12000mA； 误差：±1％ 电压范围：根据需要，误差：±0.2V； 电流范围：0~150A，连续或脉冲 脉冲参数: 占空比t:50~200us f:50~200Hz, t、f可任意匹配,上升沿宽度：20us ； 分档: 0-10A; 0-50A; 0-100A, 0-150A； 误差：量程的±1.0％ 波长测量范围与精度 650-1650nm, 分辩率：0.1 nm 精度：±0.4nm 650-1650nm, 分辩率：0.1 nm 精度：±0.4nm 650-1650nm, 分辩率：0.1 nm 精度：±0.4nm 发散角测量范围与精度 θ⊥：-60～＋60o， θ∥：-30～＋30o, 分辩率：0.4o θ⊥：-60～＋60o， θ∥：-30～＋30o, 分辩率：0.4o θ⊥：-60～＋60o， θ∥：-30～＋30o, 分辩率：0.4o 温度控制范围与精度 TEC控制：0-50℃； 电加热控制：室温-100℃ 精度：±0.3℃ TEC控制：0-50℃； 水循环控制：0-60℃ 精度：±0.5℃ 水循环控制：0-60℃ 精度：±0.5℃ 济南福来斯光电技术研究室 Jinan FLS Optoelectronics Technology Co., Ltd.. 1 of 3 激光二极管（LD）管芯测试系统 10V60A,500W半导体激光器综合参数测试系统