18.4色谱-质谱联用仪精读.ppt

* MS-MS 联用方式示意图 BE型 BEB型 Q-Q-Q型 三级四极质谱仪 * 混合型MS-MS 联用方式示意图 BEQQ组合 QEB组合 * （2）时间串联 MS 活化 MS 前一时刻选定-离子，在分析器内打碎后，后一时刻再进行分析。 两类：离子阱质谱仪；回旋共振质谱仪 时间上进行选择。 无论是哪种方式的串联，都必须有碰撞活化室，从第一级MS分离出来的特定离子，经碰撞活化后，再经第二级MS进行质量分析，取得更多的信息。 * 3.碰撞活化分解 软电离：准分子离子峰，碎片很少，缺结构信息。 准分子离子?“打碎” ?碎片离子 ?质谱分析 串联质谱：碰撞活化、碰撞诱导分解 Collision activated dissociation, CAD；Collision Induced dissociation, CID 技术把离子“打碎”。 磁式质谱仪：离子加速电压超过1000V，高能CAD方式 四极杆，离子阱：不超过100V，低能CID。 Ar 碰撞室 离子 能量E MS1 MS2 * 4.MS-MS串联质谱工作方式和主要信息 （1）三级四极 Q-Q-Q 的工作方式和信息 Q1：四级杆用于质量分离 Q2：四极杆用于碰撞活化 CID Q3：四极杆用于质量分离 主要工作方式有四种 * 主要工作方式： a 子离子扫描：MS1选定-质量，CID碎裂，MS2扫描得子离子谱。 b 母离子扫描：MS2选定一子离子，MS1扫描，得到的是能产生选定子离子的那些离子，即母离子谱。 c 中性丢失谱扫描：MS1和MS2同时扫描。保持固定的质量差，只有满足相差-固定质量的离子才得到检测。 d 多离子反应监测：MS1选择一或几个特定离子，碰撞碎裂,由其子离子中选出一特定离子，只有同时满足MS1和MS2选定的一对离子时,才有信号产生。 * 2 离子阱质谱仪MS-MS工作方式和信息 A阶段：打开电子门，基础电压置于低质量的截止值，使所有的离子被阱集,利用辅助射频电压抛射掉所有高于被分析母离子的离子。 B阶段：增加基频电压，抛掉低于被分析母离子的离子。收集即将碰撞活化的离子。 C阶段：利用加在端电极上的辅助射频电压激发母离子，使其与阱内本底气体碰撞， D阶段：扫描基频电压,抛射并接收所有CID过程形成的子离子，获得子离子谱。 多级子离子谱，还可以提供母离子谱,中性丢失谱和多反应监测（MRM）。 * 3 FT质谱仪MS-MS工作方式和信息 FTMS的扫描方式：快速扫频脉冲对所有离子“同时”激发。 MS-MS功能的FTMS： 其快速扫频脉冲可以选择性的留下频率“缺口”，用频率“缺口”选择性的留下欲分析的母离子，其它离子被激发并抛射到接收极。 使母离子受激，使其运动半径增大又控制其轨道不要与接收极相撞。此时母离子在室内与本底气体或碰撞气体碰撞产生子离子。 再改变射频频率接收子离子。还可由子离子谱中选一个离子再做子离子谱。 离子损失很少，FTMS可以做到5-6级子离子谱。 * 4 飞行时间质谱仪的源后裂解 离子在飞行过程中如果发生裂解，新产生的离子仍然以母离子速度飞行。因此在直线型漂移管中观测不到新生成的离子。 采用带有反射器的漂移管； 新生成的离子与其母离子动能不同，可在反射器中被分开。这种操作方式称为源后裂解（Post source decomposition ，PSD）。 通过PSD操作可以得到结构信息，可以认为反射型TOFMS也具有MS-MS功能。 TOF-TOF串联质谱仪已经出现。 * 18.4.7 质谱仪性能指标 1.质量范围 质谱仪所能够进行分析的样品的相对原子质量（或相对分子质量）范围。 通常采用原子质量单位（unified atomic mass unit，符号u）进行度量。 原子质量单位是由12C来定义的，即一个处于基态的12C中性原子的质量的1/12，即 * 质量范围: 质量范围是质谱仪所能测定的离子质荷比的范围。 GC-MS ：质量范围达到800即可； LC-MS ：质量范围要宽。 对于单电荷离子，质量范围实际上就是可以测定的分子量范围； 对于电喷雾源，形成的多电荷离子，尽管质量范围只有几千，但可以测定的分子量可达10万以上。 质量范围的大小取决于质量分析器。四极杆分析器的质量范围上限一般在1000左右，也有的可达3000，而飞行时间质量分析器可达几十万。 * 2.分辨率 定义1：将相邻两个质量分开的能力。常用R表示： 两峰分开是指两峰间的“峰谷”是峰高的10% 每个提供5% 定义2：质量为M的质谱峰其峰高5%处的峰宽（半峰宽）为ΔM。则分辨率为： * 分辨率 单聚焦：5,000 双聚焦：50,000 离子回旋共振：250,000 N2：28.0061；CO：27.9949 ；C2H