(材料分析方法第7章.pptVIP

* 第五节 反极图的测定 反极图表示宏观坐标轴相对于晶体坐标系的取向分布密 度—轴密度，实际上轴密度是?hkl?法线与宏观坐标轴平行的 晶粒所占的体积分数。轴密度的表达式为 (7-19) 式中，Ihkl 和 IR(hkl) 分别为织构试样和无序取向试样?hkl?的衍 射强度， Phkl为多重性因数 以待测轴密度的宏观坐标轴的法平面为测试面， 采用较慢速 度作的2? /?扫描，试样以表面法线为轴旋转， 以使更多的晶 粒参与衍射，在相同的测试条件下分别测量Ihkl和IR(hkl)，代入 式(7-19)计算轴密度 ，标在标准投影三角形相应的位置， 画出等密度线，即可绘成反极图 * 第一篇 材料X射线衍射分析 第一章 X射线物理学基础 第二章 X射线衍射方向 第三章 X射线衍射强度 第四章 多晶体分析方法 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第六章 宏观残余应力的测定 第七章 多晶体织构的测定 * 第七章 多晶体织构的测定 本章主要内容 第一节 极射赤面投影法 第二节 织构的种类和表示方法 第三节 丝织构指数的测定 第四节 极图的测定 第五节 反极图的测定 * 理想多晶体中各晶粒的取向呈无规分布，宏观上表现为各向同性 实际的多晶体材料的晶粒存在择优取向，称这种组织状态为织构 多晶体材料织构的形成往往与其制备和加工过程有关，如铸造、镀膜、塑性变形、退火等 织构使多晶体材料的物理、化学、力学等性能发生各向异性。这种性质有时是有害的，有时又是有益的 X射线衍射是织构测定的主要方法，近年来电子背散射衍射(EBSD)技术在织构分析方面亦得到广泛应用 第七章 多晶体织构的测定 * 一、极射赤面投影法的特点 极射赤面投影法用以表达晶向、晶面的方位，见图7-1 1) 被投影晶体置于参考球球心O?，假定晶体的所有晶向、晶面均通过球心 2) 投射点B为球面上一点的射线，投影 面是与过B点直径垂直的任一平面，平 行于投影面且通过球心的平面与球交成 一大圆， B点向大圆上各点的投影线在 投影面上的交点构成基圆(NESW) 3) 晶向或晶面法线与球面交点称露出点, 投影线与投影面的交点即为晶向或晶面 的投影点，称极点 第一节 极射赤面投影法 图7-1 极射赤面投影法 * 二、乌氏网 如图7-2a，为确定极点在极射赤面投影面上的位置，以及 测量各极点间的夹角，需在参考球上建立坐标网 取参考球的一直径NS作为南北极，过球心O?且垂直于NS的大 圆称为赤道，平行于赤道大圆的一系 列等角距离平面与参考球交成纬线， 通过NS轴的等角距离平面与球面交成 经线 球面上某极点 M 的位置可用经度(? ) 和纬度(? )表示 第一节 极射赤面投影法 图7-2a 参考球上的坐标网 * 二、乌氏网 在图7-2a中，若以赤道平面上一点(如E点)为投射点，投 影面平行