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普天TD-LTEeBPLUPA模块测试说明概要.doc

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普天TD-LTEeBPLUPA模块测试说明概要

所需仪器及工具 参考型号 数量 备注 矢量网络分析仪 E5062A,ZVB4 1 ESD外壳接地 Network Analyzer 信号发生器 E4438C,N5182A 1 ESD外壳接地 Signal Generator 频谱仪(带扫源) E4443A,RS FSQ8 1 ESD外壳接地 Spectrum Analyzer 噪声系数测试仪 N8973A 1 ESD外壳接地 Noise Figure Meter 直流电源 GPC-3060D 1 ESD外壳接地 DC Power Supply 50ΩSMA 终端负载 SMA 1   大功率衰减器 40dB 200W 1 频谱仪及矢网用 50Ω N 终端负载 N型 1 转换头1 N阳→SMA 阴 1 校验时用 转换头2 SMA阴→SMA阴 1 校验时用 2.6G频段隔离器 信号源用 RX接收链路测试 1)接收链路增益、带内波动以及输入输出驻波比 测试步骤/信号流程: 测试步骤: 步骤1:)正确连接至已校准好的网络分析仪; 步骤2:设模块工作常收状态; 步骤3: 通过网络分析仪测试接收链路的增益曲线,通带内的最大增益、最小增益,算出带内波动;步骤4:通过网络分析仪测试链路的S11,S22曲线,分别读出带内最大驻 波比; 步骤5:分别测试条通路。 预期结果: 增益:dB(±1.5dB) 带内波动:.0dB@40MHz带内 输入驻波比:输出驻波比: 2)接收链路带外抑制测试 测试步骤/信号流程: 测试步骤: 步骤1:)步骤2:正确连接至已校准好的网络分析仪; 步骤3:设模块工作常收状态; LNA_EN1(11) 高 PD_EN1(15) 低 RX2 LNA_EN2(12) 高 PD_EN2(14) 低 RX3 LNA_EN3(36) 高 PD_EN3(32) 低 RX4 LNA_EN4(35) 高 PD_EN4 (33) 低 住:接收链路测试时,模块只需连接6V电源 步骤步骤步骤 步骤预期结果: 频率(MHz)抑制(dB)~1367MHz ≥25dB 1526~2500MHz ≥25dB 2500~5000MHz ≥50dB 5000~12750MHz ≥50dB 3)接收链路噪声系数测试 测试步骤/信号流程: 测试步骤:步骤1:)步骤2:正确连接至已校准好的网络分析仪; 步骤3:设模块工作常收状态; 2dB@40MHz带内 矢网校准: Center freq: 1.447GHz, Span :1GHz, Power: -30 dBm S11测试 步骤1:预期结果:输入驻波比: -9.5dB 2)发射链路增益,带内波动(20MHz80MHz),带外抑制测试 有以下两种方法可供选择 方法一 测试连接框图如下: 测试前先进行校准,把信号发生器到被测射频板的电缆损耗记入信号发生器;信号源需外加隔离器;下行链路输出端功率较大,所以端口必须加衰减40dB以上的衰减器,将被测射频板和频谱仪之间的电缆损耗合计衰减器自身差损共同记入频谱仪。 信号源Agilent N5182A设置: a) Amptd= -20dBm b)设置信号源输出方式为扫频输出:MHz Freq stop :1487MHz Points: 500(可以适当调节) sweep freq 设置为on 频谱仪RS FSQ8 1155.5001.08设置: a) Center Freq :1447MHz SPAN :80 MHz RBW :30 kHz(可以适当调节) AMPLITUDE Ref Level :40dBm Attenuation :Auto Scale/Div:1dB b) Trace/View: Max Hold 发射链路增益测试: 步骤1:正确连接RPLU至信号源、频谱仪,设置模块工作在常发状态。 常发状态时,接插件引脚电平设置如下: 通道号 前向检测引脚编号 状态 检测与上行输出切换引脚编号 状态 TX1 PA_EN1(5) 高 LNA_EN1(11) 低 TX2 PA_EN2(6) 高 LNA_EN2(12) 低 TX3 PA_EN3(30) 高 LNA_EN3(36) 低 TX4 PA_EN4(29) 高 LNA_EN4(35) 低 住:发射链路增益测试时,模块需同时连接6V和28V电源,加电时必须进行限流保护 步骤: dBm)。 步骤:步骤1:的最大、最小,算出带内波动步骤1:最大增益、最小增益,算出带内波动预期结果: 增益:dB(±2dB) 带内波动:1.5dB@20MHz 3dB@8

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