VDIVDE2634第一部份.docx

VDI/VDE準則2634?第1部分?德國工程師協會(VEREIN?DEUTSCHER?INGENIEURE，簡稱VDI?)?德國電氣工程師協會 ( VERBAND?DER?ELEKTROTECHNIK?ELEKTRONIK?INFORMATIONSTECHNIK，簡稱VDE )?光學三維測量系統，逐點探測成像系統?準則內容?初步說明（）?1適用範圍?2符號參數?3驗收檢測和複檢原則?4驗收檢測?4.1品質參數“長度測量誤差”的定義?4.2檢測樣本?4.3測量程式?4.4結果評估?4.5等級評定?5檢查?5.1測量流程?5.2評估?5.3檢測間隔（時效）和報告?參考書目?初步說明（概述）?光學三維測量系統是一種通用的測量和測試設備。在所有情況下，使用者一定要確保使用中的光學三維測量系統達到所需的性能規格，特別是最大允許測量誤差不能超出要求。就長遠而言，這只能通過統一的驗收標準和對設備的定期複檢來確保。這個職責歸測量設備的製造者和使用者共同所有。?使用價位合理的檢測樣本且快速簡單的方法被各種樣式、自由度、型號的光學三維測量系統的驗收和複檢所需要。這個目的可以通過長度標準和跟典型工件同樣方式測量的檢測樣本實現。?本VDI/VDE準則2634的第一部分介紹了評估逐點探測式光學三維測量成像系統的準確性的實用的驗收和複檢方法。品質參數“長度測量誤差”的定義與ISO?10360-2中的定義類似。獨立的探測誤差測試是不需要的，因為這個影響已經在長度測量誤差的測定中考慮進去了。?VDI/VDE準則2634的第二部分介紹了用於表面探測的系統。?本準則由VDI/VDE協會測量與自動控制（GMA）的“光學三維測量”技術委員會和德國攝影測量與遙感協會的“近景攝影測量”工作組起草。在聯合委員會中，知名用戶的代表與來自大學的專門研究光學三維測量系統領域的成員合作。?1適用範圍?本準則適用於可移動的、靈活的光學三維測量系統，該系統有一個或幾個起三角測量（如攝影測量）作用的成像探頭（如相機）。使用者可以配置設備來適應特別的測量任務。工件通過接觸探測或光學探測進行測量。這兩種情況下，要測量的數值都是通過分析工件的離散特徵的圖像或輔助設備（測量適配器）的圖像應用光學的方法記錄下來。這些特徵以例如圓形反射測量標誌或LED的形式表現出來。?本VDI/VDE準則2634的第一部分介紹了用於測試逐點探測式光學三維測量系統的方法和檢測樣本。這些方法同樣適用於：?1.光學三維測量系統的驗收?2.光學三維測量系統的複檢（如DIN?ISO?9000到DIN?ISO?9004所規定的那樣以檢查測試設備為目的）。?我們規定了用於驗收和複檢的檢測樣本需要滿足的條件，並且描述了檢測樣本的範例。對於本準則的目的，檢測樣本是一個將被探測的線性的、二維的或三維的特徵排列。範例是一些用光學手段可提取的邊緣交叉點、圓或球和用機械手段可探測的表面。檢測樣本必須就其尺寸和形狀進行校準。?定義一個品質參數用來確認對測量系統精確度的評估生效。品質參數的允許限度，對於測量系統的驗收檢測由製造者確定，對於系統的複檢由使用者確定。?品質參數用於確定光學三維測量系統和比較不同測量系統之間的差別。因為品質參數的值取決於操作方式和條件，因此建議為驗收和複檢選擇並確定特定的操作方式和條件來確保測試結果的可比性。同一個品質參數不能隨便用於其它測量任務。如果沒有對操作方式和條件規定限制，品質參數的指定範圍必須滿足所有可能的操作方式和條件。如果不滿足規定限制，超出品質參數的限定值是可能且可以的。?操作方式這個詞是指調整和配置儀器的設置，例如：?1.光照的類型和強度；?2.測量體積；?3.所用光感測器的類型、數量和排列佈局；?4.圖像採集及評價過程的類型和持續時間?5.特徵分析的類型、數量和形式。?操作條件這個詞是對光學三維測量系統的外部影響。它們包括如下一些例項：?1.溫度及變化率；?2.濕度；?3.震動（機械）；?4.電磁干擾；?5.環境光照條件；?6.灰塵。?2符號參數?本準則全文將用到以下符號參數，其具體意義如下：?E?——?長度測量誤差的特徵品質參數；?A?——?長度測量誤差的特徵品質參數的常量偏差部分；?B?——?長度測量誤差的特徵品質參數的最大值；?K?——?常數；?L?——?要測量的長度；?lm?——?長度的測量值；?lk?——?長度的校準值；?Δl?——?長度測量誤差。?3驗收檢測和複檢原則?光學三維測量系統的驗收檢測和複檢依靠於對已校準的檢測樣本的測量。這些應該妥善設計使它們的特性不會對將要確定的品質參數值造成重要的影響。做一個測試來驗證測量誤差在製造者或使用者所設定的範圍內。?對於驗收檢測和複檢來說，最大允許的長度測量誤差是需要確定的品質參數。這是用一個術語“基於長度的限制”來描述的。為了確定長度測量誤