实验一 基逻辑门电路实验.ppt

74XX32引脚图 74XX86引脚图 数字电子技术实验内容 实验一 基本逻辑门电路实验 一、基本逻辑门电路性能（参数）测试 （一）实验目的 １.掌握TTL与非门、或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。 ２.熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。 （二）实验所用器件 ｌ.二输入四与非门74LS00 1片 ２.二输入四或非门74LS02 1片 ３.二输入四异或门74LS86 1片 一、基本逻辑门电路性能（参数）测试 （三）实验内容 １．测试二输入四与非门74LS00一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系。 ２．测试二输入四或非门74LS02一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系。 ３．测试二输入四异或门74LS86一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系。 一、基本逻辑门电路性能（参数）测试 （四）实验提示 1.将器件的引脚７与实验箱的“地（GND）”连接，将器件的引脚１４与实验箱的十5Ｖ连接。 2.用实验台的电平开关输出作为被测器件的输入。拨动开关，则改变器件的输入电平。 3.将被测器件的输出引脚与实验箱上的电平指示灯(LED)连接。指示灯亮表示输出低电平（逻辑为０），指示灯灭表示输出高电平（逻辑为1）。 （五）实验接线图及实验结果 7400中包含４个二输入与非门， 7402中包含４个二输入或非门， 7486中包含４个二输入异或门，它们的引脚分配图见附录。下面各画出测试7400第一个逻辑门逻辑关系的接线图及测试结果。测试其它逻辑门时的接线图与之类似。测试时各器件的引脚７接地，引脚１４接十５Ｖ。图中的Ｋ1、Ｋ2接电平开关输出端，LED0是电平指示灯。 1、测试74LS00逻辑关系接线图及测试结果 2、测试74LS02逻辑关系接线图及测试结果 3、测试74LS86逻辑关系接线图及测试结果 二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性 (一)、实验目的 １.掌握TTL、和 HC器件的传输特性。 (二)、实验所用器件 １.二输入与非门７４ＬＳ０0 1片 ２.二输入与非门７４ＨＣ０0 1片 * 二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性 （五）、实验接线图及实验结果 １.实验接线图由于 74LS00、74HC00的逻辑功能相同，因此三个实验的接线图是一样的。下面以第一个逻辑门为例，画出实验接线图（电压表表示电压测试点）如右图 二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性 （三）、实验内容 １.测试TTL器件７４ＬＳ０0一个非门的传输特性。 ２.测试HC器件７４ＨＣ０0一个非门的传输特性。 二 、 TTL、HC器件的电压传输特性 （四）、实验提示 １.注意被测器件的引脚７和引脚１４分别接地和十5Ｖ。 ２.将实验箱上４.７ＫΩ电位器RTL的电压输出端连接到被测非门的输入端，RTL的输出端电压作为被测非门的输入电压。旋转电位器改变非门的输入电压值。 ３.按步长0.2Ｖ调整非门输入电压。首先用万用表监视非门输入电压，调好输入电压后，用万用表测量非门的输出电压，并记录下来。 二 、 TTL、HC器件的电压传输特性 输入Vi(V) 输出Vo 74LS00 74HC00 0.0 0.2 … 1.2 1.4 … 4.8 5.0 ２.输出无负载时74LS00、74HC00电压传输特性测试数据 二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性 ３.输出无负载时74LS00、74HC00和 74HCT00电压传输特性曲线。 ４.比较三条电压传输特性曲线的特点。 尽管只对三个芯片在输出无负载情况下进行了电压传输特性测试，但是从图２.２、图２.３和图２.4所示的三条电压传输特性曲线仍可以得出下列观点: （1）74LS芯片的最大输入低电平VＩＬ低于74HC芯片的最大输入低电平VＩＬ，74LS芯片的最小输入高电平ＶＩＨ低于74HC芯片的最小输出高电平ＶＩＨ。 （２）74LS芯片的最大输入低电平ＶＩＬ、最小输入高电平ＶＩＨ与74HCT芯片的最大输入低电平ＶＩＬ、 最小输出高电平ＶＩＨ相同。 （３）74LS芯片的最大输出低电平ＶＯＬ高于74HC芯片和74HCT芯片的最大输出低电平ＶＯＬ。74LS芯片的最小输出高电平ＶＯＨ低于74HC芯片和74HCT芯片的最小输出高电平ＶＯＨ。 （４）74HC芯片的最大输出低电平 ＶＯＬ、最小输出高电平 ＶＯＨ与 74HCT芯片的最大输出低电平ＶＯＬ、最小输出高电平ＶＯＨ相同。 二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性 5．在不考虑输出负载能力的情况下，从上述观点可以得出下面的推论 （１）74H CT芯片和74HC芯片的输出能够作为 74LS芯片