光子系统故障原因分析及处理流程-499光子.doc

光子探头系统故障分类及处理流程 （499光子设备参考资料） 注意：本流程适用于499光子设备，对于THDS-A型及双探设备中的光子故障原理与本流程相同，但具体参数及故障处理方法要根据机型的不同有相应改变，适用于A型机与双探的故障流程经整理后另行发布！  1 着重提示： 3 2 轴温波形异常和温度输出异常类 3 2.1 探头输出的轴温波形图（1-1） 3 2.2 温度输出异常 4 2.3 与保护门有关的故障 4 3 自适应故障类 5 3.1 热靶损伤故障（0x01） 5 3.2 热靶加热不足（0x02） 5 3.3 曲线异常故障（0x04） 6 3.4 探头输出溢出（0x08） 6 3.5 探头输出异常（0x10） 7 3.6 热靶输出异常（0x20） 8 3.7 热靶起始温度异常（0x40） 9 3.8 热靶加热过快（0x80） 9 着重提示： 下列情况之一会使曲线校对不成功和过车轴温探测无效： HTK-499主机上电2分钟以内。 光子控制箱上电在2分钟以内。 轴温波形异常和温度输出异常类 探头输出的轴温波形图（1-1） 图（1-1）所示的异常波形图通常情况下是探头电缆接头的接触问题所致，图（1-1）a可能与探头信号线的瞬间断路有关，图（1-1）b可能与探头制冷电源线的瞬间断路有关，而图（1-1）c可能与探头信号线的断路有关。出现上述 a、b、c情况，但还要检查以下部分： 瞬间发生或影响几列车，过后又恢复正常，应考虑探头电缆接触不良，包括室内控制箱一侧的探头电缆接触问题。 同一种现象反复出现时，还应考虑探头本身故障。 在两侧反复出现同一故障时，应更换光子控制板。 1、2、3处理均无效果，应考虑AD板故障。 温度输出异常 全列某侧有90%为一个温度值，该温度值远低于箱温或环温，且多列出现。 全列轴温有很大的起伏变化，小到温度负值，大到100多度。 处理意见： 针对问题1，应考虑更换探头，送厂家鉴定，不要自行拆卸。 问题2的出现，一般情况是来车之前，刚把探测站主机或光子控制箱上电，探头制冷未稳定。 与保护门有关的故障 全列轴温为一个温度值，且接近环温或箱温。 全列轴温的绝对温度偏高，背景温度偏高，但温升正常，波形的起点偏高。 处理意见： 问题1：保护门在过车前没打开，无法探测到轴温，只能探测到保护门温度。 问题2：保护门在过车前没关，可能对着天空或低温度热源校零，出现此类情况。 检查保护门的机械性能，若有必要，更换上箱体。 自适应故障类 热靶损伤故障（0x01） 连续出现下列情况，系统将输出此类故障： 1、开始校对曲线时，连续出现温度0值。 2、在曲线校对过程中，温度跳变过大。 故障产生原因及处理方法： 1、热靶铂电阻断线或接触不良。更换热靶总成。 2、控制电缆6、7、8、9脚断线或连接不良。检查电缆连接头和查线。 3、如果两侧同时出现此类故障，应考虑加热板或控制板问题。 热靶加热不足（0x02） 曲线校对后，温升达不到指定值，系统将输出此类故障。 故障产生原因及处理方法： 热靶烧黑变色，加热膜受损加热慢。更换热靶总成。 加热板故障或挎接套线长选择过小，加热功率不足。正确选择挎接套位置或更换加热板。 控制电缆18、19脚线阻过大。检查控制电缆18、19脚是否有虚接接触不良的现象。 曲线异常故障（0x04） 故障产生原因及处理方法： 热靶表面热辐射涂料变色发黑，起泡脱落等原因引起的辐射率降低的现象，导致曲线斜率过小（测温偏高）。更换热靶总成。 探头制冷电流过大、过小，导致斜率过大或过小。检查制冷电流是否在正常范围内，600~1000mA，测量为-1.2~-2.0V（Ⅲ型控制板为-1.0~-2.0V）间为正常，若制冷电流在正常范围内，考虑是探头故障，不能达到要求的制冷深度，可更换探头（一般为单侧故障时）。 3、更换探头、热靶、或主机板后没清除全部曲线，新曲线与旧曲线斜率不符。清除全部曲线后重新测曲线。 探头镜片上或热靶内侧面上有污物、冰雪等情况时，探头采样值过低，形成此类过障。开箱检查并清洁探头镜片或热靶面。 两侧同时出现此故障，还应考虑控制板故障。 探头输出溢出（0x08） 曲线最后一个点幅值超出4000时系统输出此类故障。 故障产生原因及处理方法： 1、探头板故障或插接不可靠，前插头插接不可靠。检查探头板连接情况或更换探头板。 2、探头故障或输出饱和。检查探头电源是否正常（17.8V）,制冷电流是否正常（600~1000mA）。 3、光子控制板故障，不能正确转换探头输出。更换光子控制板。 探头输出异常（0x10） 在校对曲线过程中，热靶输出的温度正常，但探头输出的幅值不正常，系统输出此类故障。 故障产生原因及处理方法： 初装或大修时出现此故障，以人为原因引起的为主。 应从以下几个方面检查：