SPC X-R图 讲义.ppt

4、过程控制分析 4-2-2 链 4-2 分析均值图上的数据点 有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势： 连续 7点在平均值一侧或7点连续上升或下降 a 与过程均值有关的链通常表明出现下列情况之一或两者。 a-1 过程均值已改变 a-2 测量系统已改变（漂移，偏差，灵敏度） 注：标注这些使人们作出决定的点，并从该点做一条参考线延伸到链的开始点，分析时应考虑开始出现变化趋势或变化的时间。 4、过程控制分析 4-2-1 链 4-2 分析均值图上的数据点 不受控制的过程的均值（出现两条高于和低于均值的长链） UCL X LCL 不受控制的过程的均值（长的上升链） UCL X LCL 4、过程控制分析 4-2-3 明显的非随机图形 4-2 分析均值图上的数据点 a 非随机图形例子：明显的趋势；周期性；数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规 律的关系等。 b 一般情况，各点与 X的距离：大约2/3的描点应落在控制限的中间1/3的区域内，大约1/3的点 落在其外的2/3的区域；1/20的点应落在控制限较近之处（位于外1/3的区域）。 c 如果显著多余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25子组，如果超过90%的点落在控制限的1 /3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查： c-1 控制限或描点计算错描错 c-2 过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不 同的过程均值 的过程流的测量值（如：从几组轴中，每组抽一根来测取数据。 c-3 数据已经过编辑(极差和均值相差太远的几个子组更改删除） 4、过程控制分析 4-2-3 明显的非随机图形 4-2 分析均值图上的数据点 d 如果显著少余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25子组，如 果有40%的点落在控制限的 1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查： d-1 控制限或描点计算错描错 。 d-2 过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个不同的过程流的测量值（这可能 是由于对可调整的过程进行过度 控制造成的，这里过程改变是对过程数据中随机波动 的响应）。 注：如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。 同心同德 诚信经营 持续创新 追求卓越 品质成就未来 细节决定成败 A 制程控制系统 B 变差的普通及特殊原因 C 局部措施和对系统采取措施 D 过程控制和过程能力 E 过程改进循环及过程控制 F 控制图 工业革命以后， 随着生产力的进一步发展，大规模生产的形成，如何控制大批量产品质量成为一个突出问题，单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求，必须改进质量管理方式。于是，英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。 1924年，美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中，并发表了著名的“控制图法”，对过程变量进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础。 1、确保制程持续稳定、可预测。 2、提高产品质量、生产能力、降低成本。 3、为制程分析提供依据。 4、区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措 施或对系统采取措施的指南。 名称 解释 平均值 X 一组测量值的均值 极差 Range 一个子组、样本或总体中最大与最小值之差 σ Sigma 用于代表标准差的希腊字母 标准差 Standard Deviation 过程输出的分布宽度或从过程中统计抽样值（例如：子组均值）的分布宽度的量度，用希腊字母σ或字母s（用于样本标准差）表示。 分布宽 Spread 一个分布中从最小值到最大值之间的间距 中位数 ?x 将一组测量值从小到大排列后，中间的值即为中位数。如果数据的个数为偶数，一般将中间两个数的平均值作为中位数。 单值 Individual 一个单个的单位产品或一个特性的一次测量，通常用符号 X 表示。 中心线 Central Line 控制图上的一条线，代表所给数据平均值。 过程均值 Process Average 一个特定过程特性的测量值分布的位置即为过程均值，通常用 X 来表示。 名称 解释 链 Run 控制图上一系列连续上升或下降，或在中心线之上或之下的点。它是分析是否存在造成变差的特殊原因的依据。 变差 Variation 过程的单个输出之间不可避免的差别；变差的原因可分为两类：普通原因和特殊原因。 特殊原因 Special Cause 一种间断性的，不可预计的，不稳定的变差根源。有时被称为可查明原因，它存在的信号是：存在超过控制限的点或存在在控制限之内的链或其它非随机性的图形。 普通原因 Comm