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残余应力分析的X射线衍射法 XStress3000 便携式X射线应力分析仪 制造厂 中国总代理 芬兰应力技术有限公司 北京华欧世纪光电技术有限公司 STRESSTECH OY VolWin Technologi Co. Ltd TS-S/2004-05-04  X射线衍射 ? 关键词 : ? 晶体学 X射线和x射线管 布拉格定律 应力计算 微观应力和宏观应力 应力测试 残余奥氏体测量 TS-S/2004-05-04  晶体学 ? 晶体材料, 晶粒结构 ? 原子周期性排列 ? 几乎所有材料都是晶体材料 ? 晶体材料可以产生X射线的衍射花纹 ? 非晶体材料 ? 原子排列没有长程周期性对称排列 ? 很少的材料为非晶态, 如玻璃、快速冷却的二氧化硅等. ? 没有X射线的衍射花纹（或不清晰） TS-S/2004-05-04  Fe-结构 c c b b a a 面心立方, FCC 体心立方, BCC a=b=c a=b=c γ-Fe, Cu, Ni 等. α-Fe, Cr, Mo 等. TS-S/2004-05-04  晶体结构 1/2 TS-S/2004-05-04  晶体结构 2/2 TS-S/2004-05-04  晶面 ? 不同方向的晶面切割成晶包 ? 晶面由密勒指数{hkl}来表征 d表示一组平行晶面间的距离 晶格参数 a FCC 和 BCC: d=a/sqrt(h2+k2+l2) 例如 aα-Fe = 0.2867 nm, a γ-Fe = 0.3598 nm TS-S/2004-05-04  晶面指数的确定 ? 例子: ? 晶格参数 a, b, c ? 在 2a, 2b 和 3c构成的交叉面 ? 倒数 1/2, 1/2 and 1/3 ? 最小的公分母 3/6 3/6 2/6 = (hkl)/6 332 = hkl ? h, k ,l 总是整数 TS-S/2004-05-04  体心立方材料的密勒指数 ? 举例 TS-S/2004-05-04  X射线 1895年由德国人伦琴( W.C.R?ntgen)发现 短波长电磁辐射 λ = 0.001-10 nm (可见光波长 400-700 nm) 穿透力较强 容易对生物组织细胞引起变化 连续谱线 特征辐射 TS-S/2004-05-04  x射线源 ? 灯丝发出电子 ? 高压加速 ? 电子冲击靶材 ? x 射线 TS-S/2004-05-04  X射线管 TS-S/2004-05-04  X射线谱 TS-S/2004-05-04  X射线的过滤 X射线辐射产生几种波长 过滤? 单色辐射 强度降低 如: 铁素体-奥氏体两相材料 没有过滤时Kα 和 Kβ 峰叠加 TS-S/2004-05-04  X射线的吸收 ? 线性吸收系数 μ ? 密度 ρ ? 整体 吸收系数 μ/ρ, 经验表值 ? 强度正比于 e(?至表面距离 ) TS-S/2004-05-04  布拉格(Bragg)定律 λ = 2dsinθ TS-S/2004-05-04  布拉格(Bragg)定律 λ = 2d sinθ 有应力材料: λ 常数 d 未知 θ 从几个角度测得 应力引起d值的微小变化? θ角偏移 TS-S/20