td-scdma射频测试解决方案.doc

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td-scdma射频测试解决方案 篇一:TD-SCDMA射频测试总结 TD-SCDMA射频测试总结(一) TD-SCDMA终端一致性测试包括射频指标测试(参考标准:3GPPTS34.122),协议信令测试(参考标准:3GPPTS34.123)和其他测试(参考标准:3GPPTS31.120)三类测试。 其中射频指标测试分为“发射机特性测试”“接收机特性测试”“性能指标测试”和“支持无线资源管理测试”。 发射机特性测试:包括UE最大发射功率、频率稳定性、最小发射功率、占用带宽、邻道泄漏抑制比、杂散辐射、互调特性、开环功率控制、闭环功率控制、发射开关模板、发射关功率、频谱发射模板误差矢量幅度(EVM)、峰值域码误差(PCDE)等。接收机特性测试:包括接收灵敏度电平、最大输入电平、邻道选择性、阻塞特性、杂散辐射等。性能指标测试:包括静态传播条件下的解调、各种不同衰落条件下的DCH解调、下行链路的功率控制、上行链路的功率控制等。支持无线资源管理测试:包括小区选择、重选、切换等。协议信令测试主要是保证UE的信令、协议的一致性和规范化,这部分测试主要包括三项内容:3G网络的基本功能,电路域基本过程和分组域基本过程。TD其他测试部分的测试内容主要有UIGG/USM测试等。 目前,MORLAB已经正式对外开展了TD产品的相关测试服务项目,通过近期研究相关标准(YD/T1367-2006 2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网终端设备技术要求)并开展部分测试实验,我们将分期归纳TD终端产品的各个测试项目的具体内容。 现谈一谈TD终端产品发射机特性测试——UE最大发射功率的内容。 测试项目:UE最大发射功率(单码道) 测试目的:验证UE的最大发射功率误差不超过容限值。UE最大发射功率过大会干扰其他信道或其他系统,而UE最大发射功率过小会缩小小区的覆盖范围。 测试方法: 按照图示搭建测试系统平台 (2)建立UE和SS之间的通话,设置UE为回环测试模式,通过SS测量UE上行时隙的输出功率。 (3)对RF信道Low/Mid/High进行相同的测试。测试限值: UE的标称最大发射功率取决于UE的功率等级,其最大发射功率应满足下表值: Maximum Output Power single code 摩尔实验室(MORLAB)必威体育精装版引进了中国电子科技集团第四十一研究所研制的TD-SCDMA终端综合测试仪AV4943,可模拟基站、RNC和核心网的信令功能。该设备能精确测量TD终端的各项射频指标及性能指标;也可搭建测试系统来完成EMC和SAFETY的测试。 以上是对UE最大发射功率的简要介绍,由于TD是个才投入实际应用的技术,对其测试上还有很多不完善的地方,我们将在今后的测试服务中进一步探索、不断提高和完善。 TD-SCDMA射频测试总结(二) 本期总结将介绍TD终端产品发射机特性测试——上行功率控制。根据3GPP TS34.122标准规定,UE上行功率控制分为上行开环功率控制和上行闭环功率控制。现具体谈谈相关内容。 一、 功率控制的主要目的: 1.保证链路质量Qos要求 2.提高系统容量 3.延长手机待机时间 功率控制分为开环功率控制、内环功率控制和外环功率控制。由于下行不存在远近效应的问题,因此TD系统以上行功率控制为主。 开环功控制伴随着随机接入过程对各个信道初始功率进行设置。TDD方式中,开环功率控制算法能够利用上下行链路特性对称的特点,快速而准确地调整功率。先测量下行导频,然后估算出下行链路的损耗,再将该损耗值等同于上行链路的损耗,最后计算出上行链路的发射功率。 二、 上行开环功率控制 定义:上行开环功率控制指设置UE的UpPCH的发射电平为特定的值,系统将通过高层信令指示一个上行发射功率的最大允许值,这个值应低于由UE 功率等级确定的最大功率值。 测试目的:验证UE开环功率控制的容限是否超过指标要求,该项目测试强调UE接收机在接收范围内正确测量接收功率的能力。 测试标准: Table1: Open loop power control tolerance (1,28 Mcps TDD Option) 三、 上行闭环功率控制 定义:上行闭环功率控制是指UE发射机根据在下行链路接收 到的一个或多个功率控制 命令(TPC)而对UE发射机输出功率作出调整。 功率控制步长(ΔTPC)是指UE 根据接收到一个功率控制命令(TPC_cmd)时,UE 发射机输出功率的功率变化。 在UE 接收到功率控制命令(TPC_cmd)后的下一个时隙内,发射机要具有根据ΔTPC 或者ΔRP-TPC的数值改变其输出功率1、2 或3dB 的能力。 测试目的:验证UE闭环功率控制步长是否符合指标要求,考查UE是否能正确地获得

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