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电荷的存储 CCD是利用电容存储电荷的功能来存储电荷的,所以CCD的基本单元是MOS(金属-氧化物-半导体)电容器,结构和原理如图 电荷的检测 电荷检测的结构主要有“电流输出”结构、“浮置扩散输出”结构和“浮置栅输出”结构,以“浮置扩散输出”结构为例介绍电荷检测的结构和原理 §7.2电荷耦合器件的分类 CCD摄像器件分为线阵器件和面阵器件,面阵器件又有黑白CCD和彩色CCD(单片CCD)摄像器件。 线阵CCD: 线阵器件分为双沟道传输和单沟道传输结构和原理如图 面阵CCD: 面阵CCD有行间转移结构、帧转移结构面阵CCD,结构如图,两种结构的CCD各有优点:前者转移次数少,后者的光敏区占空比大。线转移型面阵CCD间有前两种结构的优点,但电路复杂。 § 7.4 CCD 的基本参数 转移效率 ? 和转移损失率 ? : 工作频率 a.工作频率下限由少数载流子的平均寿命?决定: f ? 1/(3?) b.工作频率上限与电荷在两个的电极之间的转移时间t的关系 f ? 1/(3t) 驱动脉冲频率 f 与转移损失率 ? 间的关系如下图 光谱响应: CCD的光谱响应是指等能量相对光谱响应。最大响应值归一化为100%所对应的波长,定义为峰值波长。响应为峰值处的10%的波长定义为截止波长。两个截止波长间的光谱称为响应光谱范围。Si衬底CCD的响应光谱范围在0.4~1.1?m,峰值约在0.7?m左右。 动态范围和线性度: 分辨率(MTF): 用可分辨的电视线表示,与像元的尺寸和像元中心距成反比, 彩色CCD 彩色CCD 彩色CCD摄像机目前主要有三片式和单片式两种。 单片式彩色CCD的关键是滤色器阵列。滤色器阵列的制作有两种:滤色器阵列与CCD器件组合;直接将滤色器阵列制作CCD上。滤色器单元与CCD光敏单元对应。图所示是两种常用的滤色器形式,拜尔山方式和行间排列方式滤色器。 微光CCD 能够在10-1~10-4微弱光景物照度下正常摄像的CCD称为微光CCD。微光CCD有两类:单片式微光CCD和像增强型CCD。 Watt902K的技术参数 3.像增强型CCD: 像增强型微光CCD是将微光像增强器和CCD耦合器件, a.光纤光锥耦合方式--ICCD b.中继透镜耦合CCD c.电子轰击CCD--EBCCD ? 特点: ICCD结构简单、耦合效率高、调试方便;分辨率受光纤锥的限制,不会太高;中继透镜耦合CCD分辨率好,但耦合效率低; EBCCD结构简单、耦合效率高、暗电流小,因电子轰击形成CCD辐射损伤,寿命短、工艺难度高。 红外CCD-IRCCD ---红外焦平面器件-IRFPA 红外焦平面器件将CCD的概念和技术引入红外波段形成的新型的红外探测器件,主要用于红外成像、红外有哪些信誉好的足球投注网站与跟踪系统,导弹寻的器、空间监视和红外对抗。 IRFPA的工作波段在1~3?m、 3~5?m、8~12?m的红外谱区。在300K背景条件下的工作,探测300K背景中温度变化0.1K的目标。 1.IRFPA的结构: 按结构IRFPA分为单片式和混合式,根据工作波段在1~3?m波段(HgCdTe),3~5?m波段(HgCdTe、InSd和PtSi),8~12?m波段(HgCdTe)。 (1)单片式IRFPA 单片式主要由三种类型: a.非本征单片IRFPA:光敏部分做在P型非本征材料上,转移部分做在Si衬底上,二者要经过渡层耦合。 工作时需要制冷;量子效率低;均匀性差。 b.本征半导体IRFPA:光敏部分和转移部分制作在同一块窄禁带本征半导体上,原理和结构与普通CCD相似。 优点:量子效率高;结构简单。 缺点:转移效率低(?=0.9),响应均匀性差;外加电压低,存储容量小。 c.肖特基势垒单片式IRFPA:金属和半导体接触会形成肖特基势垒,在满足WMWS的条件下,由于电子的扩散界面附近形成内建电场,若金属中电子吸收光能,动能增加,在内建电场的作用下越过界面势垒进入半导体,形成信号电荷。Si衬底可以制成高性能的CCD转移机构。 优点:响应均匀性好,转移效率高。 缺点:量子效率低。 (2)混合式IRFPA 光敏阵列采用窄禁带本征材料制作,转移部分用Si材料。将两部分组合构成混合IRFPA,两部分电学连接分直接连接和间接连接。 直接
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