《数字电路测试.ppt

Company Logo L o g o L o g o 数字集成电路测试技术 参考书目： 《必威体育精装版集成电路测试技术》 高成 张栋 王香芬 编著 《集成电路测试技术基础》 姜岩峰 张晓波 杨兵 编著 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 数字集成电路测试原理 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。 用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。  器件测试的关键目的就是帮助降低器件的生产成本。甚至在优化的条件下，测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右。良品率和测试时间必须达到一个平衡， 以取得最好的成本效率。 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 数字集成电路测试原理 数字集成电路测试原理图如下： 被测器件 （DUT） 输入 输出 测试向量 输出向量 测试图形1 0100X… HLXLH… … 10X10… HHLLX… 测试图形n …… …… 测试集 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 数字集成电路测试原理 主要测试其功能、时序关系和逻辑关系等 故障检测 仅测试电路是否存在故障。 故障诊断 不仅检测电路是否存在故障，而且要指出故障位置，进行故障定位。 测试 原理 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 数字集成电路常见故障类型 随着VLSI集成度的不断提高，信号线之间出现短路的概率大大增加，把这种由于信号线短路引起电路失效的故障称为“桥接故障”。 桥接故障 桥接故障分为三类：输入桥接故障、反馈桥接故障、非反馈桥接故障。 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 数字集成电路常见故障类型 在CMOS集成电路中的故障 桥接故障对应的模型一般用“线与”或“线或”来表示，这种模型能满足TTL电路需要，但是CMOS电路中，其故障就不能用此表示。 桥接故障与版图设计密切相关，所以在设计电路时必须严格遵守加工厂家规定的设计规则。 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 数字集成电路常见故障类型 1 中断故障 CMOS电路中的中断（也叫开路）是由实际工艺实施中某点处导电层淀积不充分或某点绝缘材料沉积太多所引起的。 用来解释各种中断故障的CMOS与非门电路 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 数字集成电路常见故障类型 2 晶体管固定关断故障 在设计集成电路时，为了考