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一、LED发光二极管等组成,可以测出你对信号的反应能力,并将反应能力分为8段,段数越高反应速度越快,经常进行反映测试训练,可以逐步提高你的反应速度。组装好后的测试器如图所示。
??????????????? 反映测试器由开机延时、测试信号灯、时钟脉冲、减法计数、启动显示、停止控制等部分组成。图二是控制原理方框图。图三是电路原理图。
一、LED发光二极管等组成,可以测出你对信号的反应能力,并将反应能力分为8段,段数越高反应速度越快,经常进行反映测试训练,可以逐步提高你的反应速度。组装好后的测试器如图所示。
??????????????? 反映测试器由开机延时、测试信号灯、时钟脉冲、减法计数、启动显示、停止控制等部分组成。图二是控制原理方框图。图三是电路原理图。?
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????????本电路主要由3种共4只CMOS数字集成电路构成。其中U1是双4位静态移位寄存器4015,其内部含有2组独立的4位串入一并出移位寄存器,在本电路中将两组级联使用。U2是四2输入端或非门电路4011,U3、U4是6位反相器,具有较大的驱动电流能力,可以直接驱动发光二极管。各集成电路的引脚序号标注在原理图中,欲了解更详细的芯片特性可查阅相关资料。
二、LED10电源指示发光管点亮,之后延迟数秒,测试信号灯LED1点亮,减法计数器电路在时钟脉冲的作用下开始递减,由LED2---LED9组成的测试显示发光管依次熄灭,在这个过程中,当被测试人按下停止按钮K2时,时钟脉冲停振,减法计数器处于保持状态,LED2――LED9的熄灭个数将记录为被测试者的反应速度。
三、U4E、U4F、R16、R17、C4等组成多谐振荡器,做为时钟脉冲,其振荡周期约为2.2×R17×C4,按照图中参数周期约为44ms,U2组成8位右移寄存器,U1B、R1、C1等组成开机延迟电路,当刚闭合电源开关K1时,U1B的输出端为“1”,在时钟脉冲的作用下,U2的8位寄存单元迅速全为“1”,几秒后,U1B的输出端变为“0”,经过U3A、U3B两级反向后,驱动测试信号灯LED1点亮,同时U2的8位寄存单元将在时钟脉冲的作用下,从左到右依次变为“0”,当被测试者按下停止按钮K2时,由U1C、U1D组成的RS触发器置“0”,使U4E、U4F停振,U2处于保持状态,结果通过U3C----U4D驱动发光二极管显示。这里的U1A的作用是只有当测试信号灯LED1点亮后,按下停止按钮K2才能有效,提前按下K2无效。
四、CMOS数字集成电路时要注意,电烙铁要可靠接地,或者拔下电源插头用余热焊接,防止感应静电击穿CMOS芯片。印制板上有6根跨接线,分别用J1—J6表示,可用剪下的多余元件引脚来焊装。发光二极管引脚较长的一级是正极,外圆带有一小段直线段的是负极,可按照印板上的字符标识安装。IN4148二极管管身带有黑色环的一端是负极。C1、C5是电解电容,引脚较短的一端是负极,外皮上一般也有“-”号标识。电池盒的引线按照印板标识的“+”、“-”极性正确连接,切勿接反。全部元件焊装完毕后,还要仔细检查一下,元件是否都已正确安装,焊点是否牢固,焊盘、走线之间是否存在短路的地方,以确保装配无误。
五、K1,发光二极管LED10点亮,表明电源已接通,紧接着LED2-LED9被迅速点亮,延迟几秒后,LED1点亮,表示测试开始,LED2-LED9迅速依次熄灭。此时按下停止按钮K2,则LED2-LED9立即停止熄灭,保留状态。由于多谐振荡器的周期大约为44ms,因此被测试人的反应速度为44ms×4=176ms,即0.176秒。如果电路工作不正常,请再仔细检查装配是否都正确,按照工作过程,比照原理图,分级分段检查故障点。
?????????实际上通过改变R17或C4的参数,可以调整多谐振荡器的频率,即可改变测试速度,已增加或降低测试难度。改变R1、C1的参宿阿可以改变通电后,测试延迟开始的时间,让被测试者不好掌握测试规律,提高测试的准确性和趣味性。当需要第二次测试时,现将电源开关K1关闭数秒后,再接通,进行新的测试
一、LED发光二极管等组成,可以测出你对信号的反应能力,并将反应能力分为8段,段数越高反应速度越快,经常进行反映测试训练,可以逐步提高你的反应速度。组装好后的测试器如图所示。
??????????????? 反映测试器由开机延时、测试信号灯、时钟脉冲、减法计数、启动显示、停止控制等部分组成。图二是控制原理方框图。图三是电路原理图。?
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????????本电路主要由3种共4只CMOS数字集成电路构成。其中U1是双4位静态移位寄存器4015,其内部含有2组独立的4位串入一并出移位寄存器,在本电路中将两组级联使用。U2是四2输入端或非门电路4011,U3、U4是6位反相器,具有较大的驱动电流能力,
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