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XRD基础性问题.
XRD图谱可分为大角度和小角度之分,如果是小角度的强度问题,一方面由于两次测量误差引起的,但写文章时你不可能这样写吧,再说这个对同一样品两次测量或许是这个原因,但我想可能与你的结构的有序性有关的,有序性好多轻度大,有序性差的强度低点。如果是大角度,可能与你的粒径大小有关的。同一负载量,强度大的粒径大,强度小的粒径小,半峰宽窄的大,宽的小。与浓度没有多大关系,即使负载量大的,粒径小的强度也可能小。XRD中,峰是不同晶面的衍射峰。也就是说不同峰的相对强度代表着晶面的含量的。如果是你最高峰与文献的不同,也就是说在你的物质中,某些晶面或者是全部晶面的比例与文献不同,我认为你合成的东西可能不是那文献说的那种物质。物理学中,干涉(interference)是两列或两列以上的波在空间中重叠时发生叠加从而形成新波形的现象。强度只能说明结晶度的情况,峰的位置是证明晶型的标准,如果峰位置对的上证明是同一种晶型,使用不用的机器同种物质的峰强可能不一样,并且同一台机器如果步长不一样也会出现不同的峰强度,所以不能证明你的强度跟标准谱图的强度关系来判定结晶度的高低,标准谱图一般是经过计算得到的,并不是制备的衍射(英语:diffraction)是指波遇到障碍物时偏离原来直线传播的物理现象。散射(Scattering)分子或原子相互接近时,由于双方具有很强的相互斥力,迫使它们在接触前就偏离了原来的运动方向而分开,这通常称为“散射”。散射是指由传播介质的不均匀性引起的光线向四周射去的现象。如一束光通过稀释后的牛奶后为粉红色,而从侧面和上面看,却是浅蓝色的。光束通过不均匀媒质时,部分光束将偏离原来方向而分散传播,从侧向也可以看到光的现象,叫做光的散射散射是指光线被无数小微粒各自反射到四面八方,比如说晚上在外面打开手电会看见光柱,按理说手电不对着你的眼睛,光线不会自己拐弯钻进你的眼睛,那你怎么会看见光柱呢?那是因为手电光被小尘埃阻挡并反射到四面八方,一部分反射到你的眼睛里。这就叫散射。衍射是指波在经过缝隙或障碍物在它并未经过的部位也引起了波的现象(看看物理书上的图),缝隙或障碍物的尺寸跟波长差不多或比较小时这种现象才会明显。瑞利散射英文名称:Rayleigh scattering 其他名称:分子散射定义1:尺度远小于入射光波长的粒子所产生的散射现象。根据英国物理学家瑞利(Lord John William Rayleigh,1842—1919)研究指出,分子散射强度与入射光的波长四次方成反比,且各方向的散射光强度是不一样的。应用学科:大气科学(一级学科);大气物理学(二级学科)。定义2:在介质中传播的光波,由于材料的原子或分子结构随距离变化而引起的散射。应用学科:通信科技(一级学科);通信原理与基本技术(二级学科)。当一束单色x射线人射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与人射 x 射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的x 射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强x 射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。这就是x射线衍射的基本原理。衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示。2dsinθ=λn式中d为晶面间距;n为反射级数;θ为掠射角;λ为x射线的波长。布拉格方程是 x 射线衍射分析的根本依据。普通的2θ扫描是样品或x射线管转动θ,探测器转动2θ,一般依据峰位分析物相;ω扫描,即摇摆曲线,入射的X光保持不变,探测器保持不变,同时入射光同探测器之间的夹角也保持不变(固定在2theta)。然后样品围绕着平行于样品表面的一根轴(此轴也垂直于由入射光和探测器两相交直线构成的平面)来回转动,用来描述某一特定晶面在样品中角发散大小的测试方法;φ扫描,即phi-scan,是样品先倾斜一个角度(要扫的面和生长面的夹角)再自身旋转360度,一般用来分析样品面内排布(对称性,有无孪晶等)。XRD实验样品如何制作?XRD衍射试样可以是金属、非金属的块体、片体或者粉末。?对于块状、板状、圆柱状样品,必须将其磨成一个平面,面积不能小于10*10mm。如果面积太小可以用几块粘贴在一起。如果是片状、圆柱状样品可能会存在严重的择优取向,衍射强度异常,给定性定量分析带来麻烦。因此测试时应该合理选择响应的方向平面。对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求样品不能简单粗磨,要求制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,消除表面应变层。对于薄膜样品,需要特别注意薄膜的厚度。由于XRD分析中X射线的穿透能力较强,所以适合比较厚的薄膜样品的分析,X射线测量的膜厚度约20个纳米。此外,样品应该有较大的面积,薄膜比较平整,表面粗糙度小。对于纤维样品的测试应该提出测试纤维的照射方向,是平行照射还是垂直照射,因为取向不同衍射强度也不相
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