田书林教授检索报告.doc

编号：J 教育部科技查新工作站（D01） 检 索 报 告 项目名称：田书林提供的部分论著的收录及他引情况 委 托 人：成都电子科技大学 田书林 检索单位：教育部科技查新工作站（D01） 委托日期：2012年 3 月 01日 完成日期：2012年 3月 05 日  接受用户controlled terms”的文章，即被光盘版收录 3.CNKI收录 检索系统：国知识资源总库平台《CNKI》中的四个数据库 中国期刊全文数据库中国优秀硕士论文全文数据库中国博士论文全文数据库中国重要会议论文全文数据库”; CNKI平台中四个数据库引用319次，他引280次。具体情况如下： 收录情况 《SCI》引用情况 CNKI引用情况 《SCI》 EI 2007-2011年引用总计次数 2007-2011年他引总计次数 2007-2011年单篇他引最高次数 引用次数 他引次数 8 56 7 2 1 319 280 SCI收录论文 第 1 条，共 8 条 标题: Application of Heuristic Graph Search to Test-Point Selection for Analog Fault Dictionary Techniques 作者: Yang, CL (Yang, Chenglin); Tian, SL (Tian, Shulin); Long, B (Long, Bing) 来源出版物: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT??卷: 58??期: 7??页: 2145-2158??DOI: 10.1109/TIM.2008.2006725??出版年: JUL 2009?? 在 Web of Science 中的被引频次: 3 被引频次合计: 5 文献类型: Article 地址: [Yang, Chenglin; Tian, Shulin; Long, Bing] Univ Elect Sci Technol China, Sch Automat Engn, Chengdu 610054, Peoples R China 通讯作者地址: Yang, CL (通讯作者),Univ Elect Sci Technol China, Sch Automat Engn, Chengdu 610054, Peoples R China 电子邮件地址: yangclin@ IDS 号: 458YA ISSN: 0018-9456 来源出版物页码计数: 14 第 2 条，共 8 条 标题: Test Points Selection for Analog Fault Dictionary Techniques 作者: Yang, CL (Yang, Chenglin); Tian, SL (Tian, Shulin); Long, B (Long, Bing) 来源出版物: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS??卷: 25??期: 2-3??页: 157-168??DOI: 10.1007/s10836-008-5097-8??出版年: JUN 2009?? 在 Web of Science 中的被引频次: 2 被引频次合计: 4 文献类型: Article 地址: [Yang, Chenglin; Tian, Shulin; Long, Bing] Univ Elect Sci Technol China, Sch Automat Engn, Chengdu 610054, Peoples R China 通讯作者地址: Yang, CL (通讯作者),Univ Elect Sci Technol China, Sch Automat Engn, Chengdu 610054, Peoples R China 电子邮件地址: yangclin@ IDS 号: 448MM ISSN: 0923-8174 来源出版物页码计数: 12 第 3 条，共 8 条 标题: Multidimensional Fitness Function DPSO Algorithm for Analog Test Point Selection 作者: Jiang, RH (Jiang, Ronghua); Wang, HJ (Wang, Houjun); Tian, SL (Tian, Shulin); Long, B