SPC管理办法SPC管理办法.doc

有限公司 SPC管理办法 版 本 A/0 编 号 页 次 1/8 1 目的 在相关的过程使用控制图和计算过程能力，确保过程具有能力，从而预防缺陷的产生。 2 范围 适用于控制计划中规定使用的控制图。 3 定义 3.1-R图：均值和极差控制图 3.2 P图：不合格品率控制图 3.3 PPK：短期过程能力指数 3.4 CPK：长期过程能力指数 3.5 5MIE：人员、机器、材料、方法、环境及测量 4 职责 4.1 项目小组在产品质量先期策划及控制计划中规定统计技术的选用、包括控制图的使用。 4.2 生产部负责控制图的使用及采取纠正措施。 4.3 质保科负责计算PPK值、CPK值及不合格品率，并负责控制图相关使用人员的培训。必要时，指导生产部制定纠正措施。 4.4 综合管理部负责培训的计划安排及组织。 5 内容 5.1 说明 5.1.1 本公司目前只使用-R控制图和P图。 5.2 控制图格式 5.2.1 采用外来文件《统计过程控制SPC》（见附件一、附件三）之标准格式，若有客户要求时，则采用客户的规定格式。 5.3 描绘控制图的具体步骤（计量型的-R图） 5.3.1 收集数据 5.3.1.1 选择子组大小、频率和数据 子组大小 本公司的-R图的子组大小为5，即每次连续抽5个产品。 子组频率 每二小时抽一次。 子组数的大小 一般情况下，为25组。 5.3.1.2 建立控制图及记录原始数据。 由控制图使用者将相关的日期/时间/读数等记录于附件一中的相关栏位。 5.3.1.3 计算每个子组的均值（）和极差（R），并按下列公式计算，将结果记录于附件一中的相关栏位。 R=Xmax-Xmin 5.3.1.4 选择控制图的宽度 X图上的坐标之max-min=2X(max-min)，R图上的坐标之最大刻度值＝2Rmax 5.3.1.5 将均值和极差R画到控制图上。 5.3.2 计算控制限 有限公司 SPC管理办法 版 本 A/0 编 号 页 次 2/8 .3.2.1 计算平均极差（）及过程平均值（） K为子组的数量 5.3.2.2 计算控制限 UCLR=D4× UCLX=+A2× LCLR=D3× LCLX=-A2× 式中之D4、D3及A2为常数，见附件一。 5.3.2.3 画控制限 在平均值图（）和极差图（R）中用水平虚线将各自的控制限画上去，在初始研究阶段，这些控制限叫试验控制限。 5.4 过程控制解释 5.4.1 分析极差图（R图）上的数据点 超出控制限的点—出现一个或多个点超出任何一个控制限，是该点处于失控状态的主要 证据。因为在只存在普通原因引起变差的情况下，超出控制限的点会很少，我们便假设该超出的是由于特殊原因造成的。因此，任何超出控制限的点是立即进行分析，找出存在的特殊原因点的信号。 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种： 控制限计算错误或描点时描错； 零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏），这种增大可以发生在某个时间点上，也可能是整个趋势的一部分； 测量系统变化（例如，不同的检验员或量具）； 测量系统没有适当的分辨力。 有一点位于控制限之下（对于样本容量大于等于7的情况），说明存在下列情况的一种或几种： 控制限或描点错误； 分布的宽度变小（即变好） 测量系统已改变（包括数据编辑或变换） 链—有下列现象之一表明过程已改变或出现这种趋势： 连续7点位于平均值的一侧； 连续7点上升（后点等于或大于前点）或下降； 高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部： 输出值的分布宽度增加，其原因可能是无规律的（例如设备工作不正常或固定松动）或是由 于过程中的某个要素变化（例如，使用新的不是很一致的原材料），这些都是常见的问题，需要纠正； 测量系统改变（例如，新的检验员或量具） 低于平均极差的链，或下降链表明存在下列情况之一或全部： 输出值分布宽度减小，这常常是一个好状态，应研究以便推广应用和改进过程； 测量系统改变，这样会遮掩过程真实性能的变化。 注：当子组数（n）变得更小（5或更小）时，低于的链的可能性增加，则8点或更多点组 成的链才能表明过程变差减少。 有限公司 SPC管理办法 版 本 A/0 编 号 页 次 3/8 明显的非随机图形： 各点与的距离：一般地，大约2／3的描点应落在控制限的中间三分之一的区域内，大约1／3的点落在其外的三分之二的区域。 如果显著多于2／3以上的描点落在离很近之外（低于25个子组。如果超过90％的点落在控制限三分之一的区域），