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厦门大学电子技术实验五场效应管放大器..doc

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厦门大学电子技术实验五场效应管放大器.

实 验 报 告 实 验 名 称:实验五 场效应管放大器 系别: 班号: 实验组别: 实 验 者 姓 名: 学 号: 实 验 日 期: 实验报告完成日期: 指导教师意见: 目录 二、实验原理 3 三、实验仪器 8 四、实验内容及数据 8 4、电路搭接: 8 5、静态工作点的调试测量: 9 6、场效应管放大参数测试: 12 五、 实验总结 15 一、实验目的 1. 学习场效应管放大电路设计和调试方法; 2. 掌握场效应管基本放大电路的设计及调整、测试方法。 二、实验原理 1. 场效应管的主要特点: 场效应管是一种电压控制器件,由于它的输入阻抗极高(一般可达上百兆、甚至几千兆),动态范围大,热稳定性好,抗辐射能力强,制造工艺简单,便于大规模集成。因此,场效应管的使用越来越广泛。 场效应管按结构可分为MOS型和结型,按沟道分为N沟道和P沟道器件,按零栅压源、漏通断状态分为增强型和耗尽型器件,可根据需要选用。那么,场效应管由于结构上的特点源漏极可以互换,为了防止栅极感应电压击穿要求一切测试仪器,都要有良好接地。 2. 结型场效应管的特性: (1) 转移特性(控制特性):反映了管子工作在饱和区时栅极电压VGS对漏极电流ID的控制作用。当满足|VDS||VGS|-|VP|时,ID对于VGS的关系曲线即为转移特性曲线。如图1所示。由图可知。当VGS=0时的漏极电流即为漏极饱和电流IDSS,也称为零栅漏电流。使ID=0时所对应的栅极电压,称为夹断电压VGS=VGS(TH)。 ⑵ 转移特性可用如下近似公式表示: 这样,只要IDSS和VGS(TH)确定,就可以把转移特性上的其他点估算出来。转移特性的斜率为: 它反映了VGS对ID的控制能力,是表征场效应管放大作用的重要参数,称为跨异。一般为0.1~5mS(mA/V)。它可以由式1求得: ⑶ 输出特性(漏极特性)反映了漏源电压VDS对漏极电流ID的控制作用。图2为N沟道场效应管的典型漏极特性曲线。 由图可见,曲线分为三个区域,即Ⅰ区(可变电阻区),Ⅱ区(饱和区),Ⅲ区(截止区)。饱和区的特点是VDS增加时ID不变(恒流),而VGS变化时,ID随之变化(受控),管子相当于一个受控恒流源。在实际曲线中,对于确定的VGS的增加,ID有很小的增加。ID对VDS的依赖程度,可以用动态电阻rDS表示为: 在一般情况下,rDS在几千欧到几百欧之间。 ⑶ 图示仪测试场效应管特性曲线的方法: ①连接方法:将场效应管G、D、S分别插入图示仪测试台的B、C、E。 ②输出特性测试:集电极电源为+10v,功耗限制电阻为1kΩ;X轴置集电极电压1V/度,Y轴置集电极电流0.5mA∕度;与双极型晶体管测试不同为阶梯信号,由于场效应管为电压控制器件,故阶梯信号应选择阶梯电压,即:阶梯信号:重复、极性:一、阶梯选择0.2V∕度,则可测出场效应管的输出特性,并从特性曲线求出其参数。 ③转移特性测试:在上述测试的基础上,将X轴置基极电压0.2V∕度,则可测出场效应管的转移特性,并从特性曲线求出其参数。 ⑷ 场效应管主要参数测试电路设计: ①根据转移特性可知,当VGS=0时,ID=IDSS,故其测试电路如图3所示。 ②根据转移特性可知,当ID=0时,VGS=VGS(TH),故其测试电路如图4所示。 3. 自给偏置场效应管放大器: 自给偏置N沟道场效应管共源基本放大器如图5所示,该电路与普通双极型晶体管放大器的偏置不同,它利用漏极电流ID在源极电阻RS上的压降IDRs产生栅极偏压,即: VGSQ=-IDRS 由于N沟道场效应管工作在负压,故此称为自给偏置,同时Rs具有稳定工作点的作用。该电路主要参数为: 电压放大倍数:AV=V0/Vi=-gmRL 式中:=RD‖RL‖rDS 输入电阻:Ri≈RG 输出电阻:RO=RD‖rDS 4. 恒流源负载的场效应管放大器: 由于场效应管的gm较小,提高其放大倍数的一种方法代替,如图6所示。它利用场效应管工作在饱和区时,静态电阻小、动态电阻较大的特性,在不提高电源电压的情况下,可获得较大的放大倍数。 6. 场效应管放大器参数测试方法: ⑴静态工作点调试:同单极放大器调试方法; ⑵电压放大倍数测量:同单极放大器调试方法; ⑶放大器频率特性测量:同单极放大器调试方法; ⑷输入阻抗测量:放大器输入阻抗为从输入端向放大器看进去的等效阻抗,即:Ri=Vi/Ii该电阻为动态电阻,不能用万用表测量。输入阻抗Ri测量装置图如图7所示。 测量图中,R为测量Ri所串联在输入回路的已知电阻(该电阻可根据理论计算Ri选择,为减小测量误差,一般选择与Ri同数量级),其目的是避免测量输入

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