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XJ4810晶体管特性图示仪.
单元六、晶体管特性图示仪
晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础,以半导体器件为测量对象的电子仪器。用以测试晶体三极管(NPN型和PNP型)的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性;测试各种反向饱和电流和击穿电压,还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。
一、XJ4810型晶体特性图示仪
采用集成电路及晶体管化电路,增设集电极双向扫描电路,能在屏幕上同时观察到二极管的正、反向特性曲线;具有双簇曲线显示功能,易于对晶体管的配对。此外,本仪器与扩展功能件配合,还可将测量电压升高至3kV;可对各种场效应管配对或单独测试;可测量TTL、CMOS数字集成电路的电压传输特性及有关参数。它主要由集电极扫描信号产生部分、阶梯信号产生部分、二簇电子开关、示波器、电源组成。
XJ4810型图示仪的面板介绍:
1. 集电极电源极性按钮,极性可按面板指示选择。
2. 集电极峰值电压保险丝:1.5A。
3. 峰值电压%:峰值电压可在0~10V、0~50V、0~100V、0~500V之连续可调。
4. 功耗限制电阻:它是串联在被测管的集电极电路中,限制超过功耗,亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。
5. 峰值电压范围:分0~10V/5A、0~50V/1A、0~100V/0.5A、0~500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时,须先将峰值电压调到零值,换挡后再按需要的电压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。
6. 电容平衡:为了尽量减小电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至最小。
7. 辅助电容平衡:是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,而再次进行电容平衡调节。
8. 电源开关及辉度调节:旋钮拉出,接通仪器电源,旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。
9. 电源指示。
10. 聚焦旋钮:调节旋钮可使光迹最清晰。
11. 荧光屏幕:示波管屏幕,外有座标刻度片。
12. 辅助聚焦:与聚焦旋钮配合使用。
13. Y轴选择(电流/度)开关:具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。
14. 电流/度×0.1倍率指示灯:灯亮时,仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。
15. 垂直移位及电流/度倍率开关:调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出,放大器增益扩大10倍,电流/度各挡IC标值×0.1,同时指示灯14亮.
16. Y轴增益:校正Y轴增益。
17. X轴增益:校正X轴增益。
18.显示开关:分转换、接地、校准三挡,其作用是:
⑴转换:使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换,便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。
⑵接地:放大器输入接地,表示输入为零的基准点。
⑶校准:按下校准键,光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度,以达到10度校正目的。
19. X轴移位:调节光迹在水平方向的移位。
20. X轴选择(电压/度)开关:可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换,共17挡。
21. “级/簇”调节:在0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。
22. 调零旋钮 :测试前,应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后,按下测试台上选择按键“零电压”,观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节零旋钮,使阶梯信号的起始级光点仍在该处。
23. 阶梯信号选择开关:可以调节每级电流大小注入被测管的基极,共22挡。
24. 串联电阻开关:当阶梯信号选择开关置于电压/级的位置时,串联电阻将串联在被测管的输入电路中。
25. 重复--关按键:弹出为重复,阶梯信号重复出现;按下为关,阶梯信号处于待触发状态。
26. 阶梯信号待触发指示灯:重复按键按下时灯亮,阶梯信号进入待触发状态。
27. 单簇按键开关:单簇的按动其作用是使预先调整好的电压(电流)/级,出现一次阶梯信号后回到等待触发位置,因此可利用它瞬间作用的特性来观察被测管的各种极限特性。
28. 极性按键:极性的选择取决于被测管的特性。
29. 测试台:
30. 测试选择按键:
⑴“左”、“右”、“二簇”:可以在测试时任选左右两个被测管的特性,当置于“二簇”时,即通过电子开关自动地交替显示左右二簇特性曲线。
⑵“零电压”键:按下此键用于调整阶梯信号的起始级在零电平的位置。
⑶“零电流”键:按下此键时被测管的基极处于开路状态,即能测量ICEO特性。
31、32. 左右测试插孔:插上专用插座(随机附件),可测试F1、F2型管座的功率晶体管。
33、34、35.晶体管测试插座。
36. 二极管反向漏电流专用插孔(接地端)。
37. 二簇移位旋钮:在二簇显示时,可改变右簇曲线的位置,更方便于配对晶体管各种参数的比较。
38. Y轴信号输入:Y
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