单片机原理及应用实验指导1..doc

单片机原理及应用实验教案 目 录 实验一 P1口实验一 3 实验二 P1口实验二 1 实验三 简单I/O口扩展实验一（交通灯控制实验） 4 实验四 中断实验 6 实验五 定时器实验 6 实验六 8255A可编程并行接口实验 8 实验七 串－并转换实验 9 实验一 P1口实验一 一、实验题目 1、P1口做为输出口，接8只发光二极管，编写程序，使发光二极管循环点亮。 2、P1口做为输入口，接8个扭子开关，以实验台上74LS273做输出口，编写程序读取开关状态，将此状态，在发光二极管上显示出来。 二、实验目的 1、学习P1口的使用方法。 2、学习延时子程序的编写和使用。 三、实验说明 P1口为准双向口，P1的每一位都能独立地定义为输出线或输入线，作为输入的口线，必须向锁存器的相应位写入“1”，该位才能作为输入。8031中所有口锁存器在复位时均置为“1”，如果后来在口锁存器写入过“0”，在需要时应写入一个“1”使它再成为一个输入。 可以用第二个实验做一下试验。先按要求做好程序并调试成功后，可将P1口锁存器中置“0”，此时将P1做输入口，会有什么结果。 再来看一下延时程序的实现。现常用的有两种方法，一是用定时器中断来实验，一是用指令循环来实现。在系统时间允许的情况下可以采用后一种方法。 本实验系统晶振为6.144MHZ，则一个机器周期为约为0.2us。现要写一个延时0.1S的程序，可大致写出如下： DEL1: MOV R2,#200 DEL2: MOV R3,#126 DEL3: DJNZ R3,DEL3 DJNZ R2,DEL2 RET 四、实验电路  五、连线方法 执行程序一时：P1.0—P1.7接发光二极管L1—L8。 执行程序二时：P1.0—P1.7接扭子开关K1—K8；74LS273（U4）的011—018接发光二极管L1—L8；74LS273片选端CS2接08—0F端。此时74LS273I/O口地址为1B08H。 六、程序框图 七、参考程序清单：T01_1.ASM （一）程序一　T01_1.asmST_ADDR EQU 4000H ORG ST_ADDR LJMP START ORG ST_ADDR+200H START: MOV A,#01H LOOP: MOV P1,A MOV R1,#10 DEL1: MOV R2,#200 DEL2: MOV R3,#126 DEL3: DJNZ R3,DEL3 DJNZ R2,DEL2 DJNZ R1,DEL1 RL A LJMP LOOP END （）程序二　T01_2.asmST_ADDR EQU 4000H PORT EQU 1B08H ORG ST_ADDR LJMP S1 ORG ST_ADDR+200H S1: MOV P1,#0FFH START: MOV A,P1 MOV DPTR,#PORT MOVX @DPTR,A LJMP START END 实验二 P1口实验二 一、实验题目 P1口做为输入、输出口。P1.0、P1.1接K1、K2；P1.2、P1.3接发光二极管L1、L2；P1.4、P1.5接L5、L6。K1作为左转弯开关，K2作为右转弯开关。L1、L2作为左转弯灯，L5、L6作为右转弯灯。要求编写程序实现如下功能：向上打K1时左转弯灯以一定频率闪烁，向上打K2时右转弯灯以一定频率闪烁，K1、K2同时向上或向下，发光二极管灭。 二、实验目的 1、学习P1口既做为输入，又做为输出的使用方法。 2、学习数据输入、输出程序的设计方法。 三、实验说明 P1口的使用方法见实验一。有兴趣者不妨将下面给出的程序中的“SETB P1.0 SETB P1.0”中的“SETB”改为“CLR”看看会有什么结果。 另外，下面给出的程序使用了一种N路转移的常用设计方法，该方法利用了JMP @A+DPTR 的计算功能，实现转移。该方法的优点是程序简单，转移表短，但转移表大小加上各个程序长度必须小于256字节。 四、实验电路 五、连线方法 见实验题目部分。 六、程序框图 七、参考程序清单：T02.ASM ST_ADDR EQU 4000H ORG ST_ADDR LJMP START ORG ST_ADDR+200H START: SETB P1.0 ? ? SETB P1.1　；用于输入时要先将口内锁存器置‘