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X-射线荧光光谱分析报告
图6—14给出了脉冲高度分析器和各部分信号的方块图。从探测器来的信号按比例放大,然后进入上限和下限选择电路,这些电路只输出超过一定电平(上限或下限)的信号,经选择后进入下一个电路。在这电路中有两个输入端,如果两个输入端中有一个有输入,一个没有输入,电路有输出;如果两个输入端都有输入或都没有输入,电路没有输出。联合使用这些电路,就得到一定范围内的脉冲信号,这就是脉冲高度分析器的工作原理。 下限电平就叫做电平,上限与下限电平差叫做道宽或窗域。电平与道宽可以调节,根据需要预先设置好,可以先作出能量分布函数,从能量分布函数中选择有用的信号,确定电平与道宽。 图6—14 脉冲高度分析器和各部分信号方块图 6.2.3 能量色散型X射线荧光光谱仪的构造 仪器主要组成由: 激发源(X光管) 样品室 Si(Li)探测器 多道分析器 记录和数据处理系统等组成。 1)X光管:由于能量色散型X射线荧光光谱仪使用的是Si(Li)探测器,它的最大计数率仅为104cps,所以用低功率的X光管。一般用30W或40W的侧窗铑(Rh)靶 X光管。由于侧窗管是负高压的,功率又低,不必用水冷却,用空气冷却就可。 2)样品室: 根据测试样品的要求,有不同大小的样品室,一般能谱仪的样品室与波谱仪的一样。美国EDAX International Inc.产的EAGLE-IIμ型和EAGLE-IIIμ型能量色散型X射线探针使用的是大样品室,样品室的直径为33cm,深度为31cm,室中有三维移动的样品架,样品在样品架上可在上、下、左、右、前、后自由地移动。 3)毛细管聚焦: 根据全反射原理: 毛细管聚焦:毛细管聚焦基于全反射原理:当X射线以掠入射角(入射射线与管壁表面之间的夹角)不大于全反射临界角ψc 入射到3μm~50μm的空心玻璃毛细管光滑内管壁上,射线将以全反射在管壁之间传输,传输原理见图1。在X射线毛细管中,空心玻璃毛细管起波导作用,X射线在其中进行多次反射传输,而不像其他掠入射反射镜系统中只有一到两次反射,从而可以有效地控制X射线的方向。 图6.2.3-1 X射线毛细管光学原理示意图 4)Si(Li)探测器: Si(Li)探测器由单晶硅半导体圆片组成,在其正、负区(p型和n型)之间夹一层本征型(i型)补偿区。是一种p-i-n型二极管,把锂扩散到P-型硅中而形成补偿区,以补偿已存在的杂质和掺杂物。 半导体表面的P-型层不参于探测过程,故称为半导体探测器的死层。在半导体[Si(Li)]片的两面,用真空镀膜法镀一层金,形成两个电极,与场效应晶体管前置放大器装在一起,然后设置一个厚度约为10微米的铍窗,并用胶密封其底面和边缘,形成一密封壳。X射线光子射入后,在锂片飘移层中被吸收,被吸收的每个X射线光子,将其能量转移给一个光电子,这个光电子又在引起新的电子-空穴对的过程中耗尽其能量,每3.8eV的光子能量可产生一电子-空穴对,X射线光子的能量越大,产生的电子-空穴对就越多,这就为Si(Li)探测器的输出脉冲高度与X射线光子能量成正比提供了依据。 Si(Li)探测器,应始终保持在真空恒温器的液氮温度(-196℃,77K)之下,即使闲置不用,也应如此。当探测器使用时,液氮致冷可以降低噪声,从而获得最佳分辨率,而且液氮致冷可使非常活泼的锂原子,在任何情况下都能保持最低的扩散速率。 5)多道分析器: 多道分析器有两类: 1.是单道分析器演变而来的多阈式多道分析器, 2.是模拟--数字变换(ADC)式多道分析器。 现代应用较多的ADC式的多道分析器。其电路由输入电路(ADC测量电路)、存储器和数据输出三部分组成。输入电路对输入脉冲信号进行编码,存储器按照编码结果进行分类记录,数据输出设备把记录的结果以数据形式或者曲线形式输出。道数有256、512、1024、4096、8192道等,一般能谱仪用几千道就可以了,如一个0~20keV的谱用2048道,道宽约为9.8eV。 记录仪记录下的是每道的光子数,通过光滑化程序,就可以得到一张强度I随能量E连续分布的光谱图。 第三节 样品的制备 在X射线荧光光谱分析中,对于定性分析仅要求样品固定以防样品在真空中扩散;而对于定量分
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