第六章光学显微分析解析.ppt

当知道了刻度目镜每小格所代表的长度后，就可以测定薄片或光片中矿物颗粒直径的大小。粒状颗粒，一般测定其平均直径；板状、柱状、针状等晶体，要测量其长与宽两个尺寸，用长与宽两个数据来表示。 6.5矿物颗粒大小及含量的测定 6.5.1矿物颗粒大小的测量 测定方法 面积法——薄片中各矿物所占面积百分比，近似等于其体积百分比； 计点法——统计各矿物在视域中心出现的次数，各矿物点数的比例与其面积成正比，亦与其体积成正比(点数的测量由电动计点器完成，该仪器包括机械台和自动记录器二部分)； 目估法——用一套已知百分比的参比图，直接估计各矿物的百分比。 直线法——薄片中各矿物的线长度百分比相当于其体积百分比； 6.5矿物颗粒大小及含量的测定 6.5.1矿物颗粒大小的测量 6.5矿物颗粒大小及含量的测定 6.5.2矿物百分含量的测定 目估法参比图如图所示。 目估法参比图如图所示。 * 石英垂直光轴切面的光性确定 方解石垂直光轴切面的光性确定 2、斜交光轴切片的干涉图 (1)形象特点：由于光轴出露点不在视域中心，干涉图为不完整的黑十字和干涉色圈组成。 根据切片法线与光轴夹角的大小，可分成两种情况，如图所示。 干涉图的成因与垂直光轴切片的干涉图相同。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 2、光性正负的测定 （1）当干涉图中黑十字交点在视域内时，测定方法与⊥OA切片干涉图相同； （2）当干涉图中黑十字交点在视域外时，首先要确定视域属于哪一象限，即黑十字交点在视域外的位置，其方法有： ①消光影细端靠近光轴方向，粗端远离光轴；②干涉色圈凹向光轴出露点； 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 ③旋转物台，由黑带的移动情况判断象限（如图）。 ★确定了视域属于哪一象限后，测定方法与⊥OA切片干涉图相同(如图)。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 3、平行光轴切片干涉图 (1)形象特点: 当光轴与PP、AA方向平行时，干涉图为粗大模糊的黑十字；少许转动物台，黑十字即分裂并沿光轴方向退出视域。因变化迅速而称为瞬变干涉图或闪图；当光轴与PP、AA方向成45°时，出现对称干涉色（由内向外，垂直光轴方向升高，沿光轴方向降低，如图）。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 (2)成因（如图2-68） 在平行光轴切面的光率体椭圆半径分布图中，当光轴与上、下偏光镜振动方向之一平行时，大部分的光率体椭圆半径都与上、下偏光镜振动方向平行或近于平行，在正交偏光镜间，应当消光或近于消光，故形成粗大模糊的黑十字，稍转动物台，则大部分光率体椭圆半径与上、下偏光镜振动方向斜交，故黑十字迅速分裂退出视域，而使视域变亮，出现干涉色。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 4、干涉图的应用 ★一轴晶垂直光轴和斜交光轴（光轴倾角不大）的切片，其干涉图可用于确定轴性、测定光性符号和确定切片方向。 ★平行光轴切片的干涉图，当轴性已知时，可用于确定切片方向和测定光性符号。测定光性正负，只需测出光轴方向Ne是Ng或Np，即可决定光性正负。如图2-70所示。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.3二轴晶干涉图 二轴晶光率体有五种主要切面，对应五种干涉图（ ⊥Bxa、 ⊥OA、⊥Bxo 、‖AP及斜交OA切面）。 1、⊥Bxa切面的干涉图 （1）形象特点 ★当AP面与PP、AA方向平行时： ①干涉图上出现一黑十字消光影，黑带粗细不等，沿光轴方向较细，最细位置为光轴出露点。垂直光轴方向较粗，黑十字交点为Bxa出露点； ②双折射率大的晶体，视域中有“∞”形等色曲线出现，双折射率小的晶体，等色曲线少或仅有一级灰干涉色； ③转动物台，黑十字从中心分裂为一对弯曲的黑带，在AP面与PP、AA方向成45°时，弯曲黑带呈对称的双曲线形。弯曲黑带的顶点为二光轴出露点。 ④转动物台时，干涉色圈随光轴面的移动而移动，但形态不变。 干涉图上各部位的名称：Bxa出露点，OA出露点， AP迹线，Nm方向。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.3二轴晶干涉图 2、成因 可用Bite-Fresnel定律解释。 Bite-Fresnel定律：光沿任意方向射入二轴晶晶体中，垂直此入射光的光率体切面的椭圆半径，必定是入射光与二光轴所构成的二平面的夹角的两个平分面与切面的交线。即在⊥Bxa切面上，任一点的光率体椭圆半径方向，是该点与二光轴出露点连线夹角的分角线方向，如图2-72。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.3二轴晶干涉图 如图2-73光率体椭圆半径的分布可见，当AP迹线与PP、AA方向平行时，在AP迹线和Nm方向的十字丝平面内，光率体椭圆半径与PP、AA方向平