产品质量控制考前整理..doc

什么是SPC（统计过程控制） （解释为运用统计方法于过程控制上以控制产品品质） SPC是透过运用统计学上的技巧如控制图分析过程或其输出，从而作出适当的行动以达至及保持统计控制状况及改善过程能力 控制图的两类错误，怎样避免：虚发警报的错误，也称第Ⅰ类错误 漏发警报的错误，也称第Ⅱ类错误。解决的办法是根据使两种错误造成的总损失最小这一点来确定UCL与LCL二者之间的最优间隔距离。经验证明休哈特所提出的3σ方式较好，在不少情况，3σ方式都接近最优间隔距离。 3σ方式就是两类错误造成的总损失最小的控制界限 休哈特控制图设计思想是什么？ 常规控制图的设计思想是先定α，再看β 常规控制图并非依据使两种错误总损失最小原则来设计。 直方图分析： 控制图分析的8大判读准则 ①超出控制界限的点：出现一个或多个点超出任何一个控制界限是该点处于失控状态的主要证据 ②连续9点位于平均值的一侧，选择9点的原因是为使其犯第一类错误的概率与第一准则接近 ③连续6点上升(后点等于或大于前点)或下降。产生这种现象的原因可能是因为工具磨损等原因 ④连续14点相邻点上下交替，造成这种现象的原因可能是分层不足 ⑤连续3点中有2点落在中心线的同一侧B区以外，出现这种现象的可能是中心值偏移 ⑥连续5点中有4点落在中心线的同一侧C区以外。出现这种现象的可能是中心值偏移 ⑦连续15点在中心线C区的上下，造成这种现象的原因可能是虚报数据或者是变异减小 ⑧连续8点在中心线两侧，但无一在c区内，造成这种现象的主要原因可能是出现了双峰 1.超几何分布 【例】一批产品，批量为100件，已知批不合格率为0.01，从批中随即抽取5件，求其中含有1件不合格品的概率和不超过1件不合格品的概率 2.二项分布 批量无穷大 3.泊松分布 4.正态分布 任意一正态分布仅由μ和σ确定， μ为位置参数， σ为分布的形状参数， σ越小，曲线越陡，数据离散程度越小 ，σ越大，曲线越扁平，数据离散程度越大 不合格品率 p＝pL+pU 第三章 1. 计量值管制图 (Control Charts for Variables) 均值—极差控制图(Xbar-R Chart) 均值—标准差控制图(Xbar-sChart) 中位数—极差控制图(Me-R Chart) 单值—移动极差控制图(X-Rs Chart) 计数值控制图 (Control Charts for Attribute) 不合格率控制图(P Chart) 不合格数控制图(Pn Chart) 缺陷数控制图(C Chart) 单位缺陷数控制图(U Chart) u=c/n 过程能力指数 某电机厂加工电机主轴，轴径的规格为Φ30 +0.017, 经抽样测定X－＝30.013mm，s=0.002mm,请计算过程能力指数,并分析清除偏移量以后，过程能力指数能提高到多少？ 可见，当N、A固定，n增加时，OC曲线急剧倾斜，致使生产方的风险率略有下降，而使用方的风险率显著减少 可见，A越大，OC曲线越平滑，接受概率变化越小 第七章 1.QC 7种工具： 2.直方图：（1）正常型 (2) 偏向型 (a)一些形位公差要求的特性值是偏向分布。 (b)加工者担心出现不合格品，在加工孔时往往偏小，加工轴时往往偏大造成。 (3) 双峰型 可能是由于把不同加工者或不同(4) 锯齿型 多半是由于分组不当或检测数据不准而造成(5) 平顶型 无突出顶峰，通常由于生产过程中缓慢变化因素影响(如刀具磨损)造成 (6) 孤岛型 由于测量有误或生产中出现异常() 3.头脑风暴法也称集思法、畅谈法 第八章 质量功能展开 99；QFD只是一种思想，一种产品开发管理和质量保证的方法论 1. 典型的QFD瀑布式分解模型示意图