高压拉孤[精选].doc

电弧等级代表侦测的电流峰值,通常采用第5级电弧侦测灵敏度设定 侦测峰值电流值Level 9 2.8mApeakLevel 8 5.5mApeakLevel 7 7.7mApeakLevel 6 10mApeakLevel 5(出厂默认值) 12mApeakLevel 4 14mApeakLevel 3 16mApeakLevel 2 18mApeakLevel 1 20mApeak一般高阻抗电弧与电晕产生的高频脉冲,其频率可在低于30千赫至高于1兆赫范围内变动,而且持续时间可能很短.这些脉冲常常持续不足10微秒,这些短时脉冲或尖峰信号不一定会立即导致击穿放电,但属潜在品质影响. 安规测试面面观 ─高阻抗电弧的深度探讨 前言： 以全球市场的观点而言，产品制造厂商必须依照不同的安规测试标准来生产符合不同国界产品的需要。例如销往欧洲的产品要符合如IEC（国际电工技术委员会）或EN（欧洲标准），或是以美国市场为主的UL标准等。就提高产品的安全性与可靠性来说，抗电测试（通常称为高压测试、瞬间测试或安规测试）就是产品的品质保证，也是日后产品能正常运作的依据。所谓的高压测试就是把比正常电压高的电压加在被测设备（DUT）的通电流导体与不通电流部件之间，其目的是检测绝缘超过正常运作上可能遇到的情况。而高压测试则是被用来证明被测设备能在额定电压下安全地运作，而且能够「抵抗」由电源开关而来或其它类似的市电输入电压现象引起的瞬间超压。这种测试也是用来寻找产品缺陷非常有效的方法，例如：导体之间的间隔减小或是绝缘损坏。是什么构成介质电击穿呢？应该把高阻抗打飞弧(Arcing)的情况看作一种介电失效吗？最大容许泄漏电流该怎样正确设置呢？当使用不同高压测试仪来测试产品时，其产生的测试结果常常出现这些问题。在高压仪器中使用的失效探测线路类型与电流灵敏度设置常常因几个原因而改变。这些原因包括所测试产品的类型与结构和它们所必须符合的技术规格（标准）。为了确任适合用途的正确设置，我们必须先弄清楚“介电击穿(Dielectric Breakdown)”和“击穿放电(disruptive discharges)”的一般定义。 什么是介质崩溃？（Dielectric Breakdown） 介质崩溃的定义是：介电击穿是当加在电介质材料上的电场强度超过临界值时，流过该电介质材料电流的突然增大，而电介质材料完全失效的特征是由于一个突然增加的高电压而导致其击穿放电。 什么是击穿放电（Disruptive Discharge）？ 依照美国电气电子工程师学会给予的定义：破坏性放电（Disruptive discharge）是在电压作用下与绝缘失效有关的现象。在试验中，放电全部桥接了绝缘，电极间的电压降低到零或接近零。击穿放电受随机变化的影响，为了得到统计上有效击穿放电的电压值必须进行大量的观察。 一般定义击穿放电是这样描述：固体、液体、气体介质及其组合介质在高电压作用下，介质强度丧失的现象；破坏性放电时，电极间的电压迅速下降到零或接近于零。这些定义使我们对这些专业名词有了基本的了解。同时，许多安全机构标准给我们进一步定义应看作失效的情况。然而，他们往往没有对高压测试仪的击穿或电弧灵敏度应该如何设置提供具体的界限。 IEC 60601医疗电子设备节20.4F规定 试验时不得发生闪络或击穿。如发生轻微的电晕放电，但当试验电压暂时降到高于基准电压（U）的较低值时，放电停止，且这种放电现象不会引至试验电压的下降，则这种电晕放电可以不考虑。（摘自IEC601-1---1988） IEC60950信息技术设备的安全5.2.2规定 （耐压）测试期间，绝缘不应击穿。当由于加上试验电压而引起的电流以失控的方式迅速增大，即绝缘无法限制电流时，则认为已发生绝缘击穿。电晕放电或单次闪络不认为是绝缘击穿。（摘自IEC60905-1－2001）。 UL 544医疗与牙科设备64.1.3节这样定义不能接受的性能表现 不能接受的性能表现通常由测试设备中一个适当过载保护器的跳闸来表示，但是电压表读数的突然减小、滞后的非线性增加或电流的突然增大也都可能是绝缘失效的表示。必须特别注意电器中的高阻抗电路，以便探测出造成着火或电击危险的击穿情况。」UL 511还进一步规定「测试设备的最大灵敏度必须符合UL120,000欧姆要求，这要求按测试电压来设定允许的泄漏电流。 有些安规标准建议泄漏电流最大允许值应该由制造产品的厂家来决定，透过确认的良品进行多次测试并记录其泄漏电流，然后把高压仪的漏电流上限值调到比这个漏电流值稍高的值，并以此值为跳闸电流值。 上