可测性设计-1解读.ppt

在故障诊断中应用人工智能 “灵巧”BIT：应用简单的人工智能技术，用计算机模拟人的思维过程和处理问题的方法，对基本BIT的输出结果进行分析、推理和判断 综合分析型BIT：将分/子系统得到的BIT报告信息传到高级的系统进行综合分析处理，再将结果返回低级→提高诊断的准确性 信息增强型BIT：BIT的最终决断不仅根据被测单元内的基本BIT信息，还要根据其他装置提供的信息→提高决断准确性，减少虚警 改进决断型BIT：BIT采用更可靠的决断规则（如：动态设置门限、暂存监控、验证假设等）→提高诊断的准确性 维修经历型BIT：BIT利用被测单元的维修历史数据及相近或相关单元的历史数据，综合分析在执行任务期间得到的BIT信息→有效确定间歇故障，区分间歇故障和虚警 在故障诊断中应用CAD技术 自20世纪80年代以来，CAD（计算机辅助）测试性设计开始应用于航空电子系统、分系统和电路板设计 代表性软件工具：BIT计算机辅助设计（CAD BIT）、系统测试与维修程序（STAMP）、综合诊断保障系统（IDSS）、测试性工程和维护系统（TEAMS）等 CAD BIT：适用于PCB级产品的BIT设计 STAMP：适用于各类系统和设备的测试性/诊断的顶层设计 IDSS：适用于系统的设计研制和使用各阶段，包括多个软件工具：武器系统测试性分析器、自适应诊断分系统、自适应诊断编辑工具、反馈分析器和技术信息与训练编辑工具 TEAMS：适用于系统可测试性设计。提供集成的工具集，包括TEAMS-Designer（用于测试性设计和评估、生成诊断测试策略）、TEAM-ATE（自适应现场诊断指导）、TEAMS-RDS（故障测试与诊断引擎）、 TEAMS-RT（被测对象的实时诊断和系统健康监视） 1.3 常用测试性与诊断术语 测试性（testability）：使系统或设备（产品）能及时准确地确定其状态（可工作、不可工作或性能下降）并隔离其内部故障的一种设计特性。 固有测试性（inherent testability）：仅取决于系统或设备硬件设计，不受外部测试激励和响应数据影响的测试性。 机内测试Built-In Test（BIT）：①系统或设备内部提供的检测和隔离故障的自动测试能力；②利用设计到系统或设备内的测试硬件和软件对系统或设备全部或局部进行测试的方法。 机内测试设备Built-In Test Equipment（BITE）：①完成机内测试功能的装置（包括硬件和软件）；②被测单元中用于测试的、可以识别的装置。 主动BIT（active BIT）：测试时需要施加激励信号到被测单元之内，并中断其工作。 被动BIT（passive BIT）：测试时无需加入激励，也不中断被测单元工作。 连续BIT（continuous BIT）：连续不间断地监测系统工作。 周期BIT Periodic BIT（P BIT）：以规定时间间隔周期地启动测试。 启动BIT Initiated BIT（IBIT）：由某种事件或操作者启动进行测试。它可能中断系统工作，也允许操作者参与故障检测和隔离过程。 加电BIT（power-on BIT）：当系统接通电源时，启动规定测试程序。检测到故障或完成规定测试程序后就结束。是启动BIT的特例。 常用测试性与诊断术语（续1） 维修BIT（maintenance BIT）：在系统完成任务后用于进行维修、检查和校验测试的BIT。它可以启动运行系统所具有的任一种BIT，属于启动BIT类型。 灵巧BIT（smart BIT）：应用了人工智能技术的BIT。 被测单元Unit Under Test（UUT）：被测试的系统、分系统、设备、组件或部件等。 自动测试设备Automatic Test Equipment（ATE）：自动进行功能和（或）参数测试、评价性能下降程度或隔离故障的设备。 外部测试设备External Test Equipment（ETE）：在机械上与被测单元分开的测试设备。 测试点Test Point（TP）：UUT中用于测量或注入信号的电气连接点。 故障检测Fault Detection（FD）：①发现故障存在的过程；②为确定UUT是否存在故障而进行的一次或多次测试。 故障隔离Fault Isolation（FI）：①把故障定位到实施修理所要更换的产品组成单元的过程；②在知道有故障的情况下，准确确定发生故障部位的过程。 故障定位（fault localization）：在已知有故障的情况下，确定发生故障的大致部位的过程。不及故障隔离准确。 模糊组（ambiguity group）：具有相同或类似的故障特征，在故障隔离中不能分清故障真实部位的一组可更换单元。其中每个可更换单元都可能有故障。 常用测试性与诊断术语（续2） 模糊度（ambiguity gro