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● 电 场 很 强 x △p 0 △po Lp(ε) △po/e Lp(ε)称为牵引长度 空穴在电场作用下,在寿命τ 时间内漂移的距离 ● 电 场 很 弱 ?p?p?很低,Lp(?)Lp (2) 光激发载流子的衰减(例子) 均匀掺杂的N型半导体,光均匀照在半导体上,其内部均匀地产生非子,没有电场,内部也没有其它产生,求光照停止后的衰减方程。 ●均匀掺杂,均匀光照: ●无 电 场:E=0 ●内部无其它产生:gp=0 t=0,停止光照,?p(0)=?p0,?A=?p0 (3) 扩 散 方 程 光照均匀掺杂的N型半导体,无电场,无其它产生时的稳态方程。 E=0,gp=0, 稳态 均匀掺杂: 一、非平衡载流子的产生、平均寿命、 平均扩散长度及浓度的计算 小 结 小注入,大注入 二、非平衡载流子的复合 1.直接复合:小注入时,非子寿命决定于多子浓度 大注入时,非子寿命决定于注入。 2.间接复合: (1)、小注入的N 型材料: (2)、小注入的P型材料: 小注入时:非子寿命决定于少子寿命 3.有效复合中心: Et=Ei 大注入时: 三、陷 阱 效 应 (Trap effect) 1. 有效陷阱: 2. 电子陷阱 是存在于P型材料中 空穴陷阱 是存在于N型材料中 四、非平衡载流子的运动 1. 载流子的扩散电流和漂移电流 各种电流的方向 2. 爱 因 斯 坦 关 系 3.少子的电流连续方程 (1) N型: (2)P型: ●稳态时非平衡少子的分布 ●光激发非平衡载流子的衰减 ●扩散方程 扩散长度: 本章习题:(共七题) Page 156 4、5、7、12、13、14、16 The End By Dr. J. Zhu of UESTC 1956年小组的三位成 员获诺贝尔物理奖。 巴丁 布拉颠 肖克来 在x+?x处,流密度为Sp(x+?x) 在1秒钟内,在1??x体积内的非子数为: Sp(x)-Sp(x+?x) 单位时间、单位体积中积累的非子为: 由表面注入的空穴,不断向内部扩散中,不断复合 而消失。在恒定的光照射下,表面非子浓度恒定。 称为 恒定扩散 2、稳态扩散方程 单位时间单位体积被复合掉的非子为 : 单位时间单位体 积积累的非子数 当: 上式为 在稳态时,积累的载流子应等于复合掉的载流子 通解为: 其中: ? 稳态扩散方程 3.典型样品的分析 (1) 足够厚的样品 WLp W>>Lp x hν 为解的形式,指数衰减 x △p 0 Lp ↑ ↑ ↑ 速度量纲 ∵ ∴ ∴ w 注入 抽出 即小于扩散长度 ∴ 求出A和B代入稳态 扩散方程的普遍解 ∴ x △p 0 w 这时扩散流密度是个常数,即非平衡载流子在 样品中没有复合。 非子在半导体体 内呈线性分布 浓度梯度为: 扩散流密度 类似有, 电子的扩散定律与稳态扩散方程 4.非平衡载流子的扩散电流密度 电子和空穴是带电粒子,它们扩散形成了 扩散电流。 空穴扩散电流密度: 电子扩散电流密度: (Jp)扩→ (Jn)扩← (Jp)漂→ (Jn)漂→ N-type 均匀半导体的电流: E (四种电流) 反方向 ? §5.7 载流子的漂移运动 与爱因斯坦关系 一、扩散电流密度与漂移电流密度 1.少子空穴电流 (N型材料,在x方向方向加光照、电场 ) 非平衡少子扩散电流: +x方向 非平衡空穴和平衡空穴形成的漂移电流: +x方向 少子电流密度: 2.多子电子电流密度 非平衡多子形成的扩散电流: --x方向 平衡多子与非平衡多子的漂移电流: +x方向 ?多子电流密度: 3.总的电流密度 J=Jp+Jn 联系? 二、爱 因 斯 坦 关 系 考虑一块处于热平衡状态的非均匀的N型半导体,其中施主杂质浓度随x增加而下降,电子浓度为no(x)。扩散导致出现静电场,静电场又使得载流子产生漂移。 扩散系数和迁移率的关系 D(扩散系数) μ(迁移率) 电子扩散电流密度: 漂移电流: 平衡时,不存在宏观电流,电场方向是反抗扩散电流,电子的总电流等于0 Jn=(Jn)漂+(Jn)扩=0 考虑附加的静电势,导带底的能量应为: Ec-qV(x) 非简并时的 电子浓度为: ∴ 对于空穴: 室温时:KT=0.026eV Si中:?n=1350cm2/vs ∴ 利用爱因斯坦关系,可得总电流密度: 对非均匀半导体,平衡载流子浓度也随x变化,扩 散电流由
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