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CWDM模块测试方案对比 目前DWDM技术已经广泛应用于长距离高速光通信系统中如国家主干网、海底光缆通信系统上，但DWDM由于技术较复杂、成本高，不适合应用于城域网和接入网中。 随着越来越多的城域网运营商开始寻求更合理的传输解决方案，CWDM越来越广泛地被业界所接受。和DWDM系统不同，CWDM系统采用的是不带冷却器的分布式反馈（DFB）激光器和宽带光滤波器，因此CWDM系统具有以下优点：功率损耗低、尺寸小和成本低。CWDM系统的投放市场使得它在城域网和接入网中能够替代DWDM系统。 大多数CWDM系统工作在从1470nm到1610nm的范围内，其信道间距为20nm。 目前制作CWDM的技术有薄膜滤光片（Thin Film Filter, TFF）和全光纤耦合器（All Fiber Coupler）等方式。 不管哪一种CWDM器件的制作方式都存在同样一个非常重要的问题：技术指标的测试，这些指标包括插入损耗，通道带宽，隔离度，通带平坦度等重要指标。由于CWDM覆盖的波长范围非常宽（140nm）, 因此测试相对也较复杂。 一．常用测试方法有以下几种： 以白光源作为测试光源，再用光谱仪扫描 优点：白光源的波长覆盖范围很宽。 缺点：白光源的功率密度很小，-55dBm/nm, 因此隔离度指标测试只能到20dB左右，难以能满足要求。 以1550 nm LED光源作为测试光源，再用光谱仪扫描 优点：LED光源的波长覆盖范围较宽，价格较便宜。 缺点：LED光源的功率密度较小，在-40~-50dBm/nm范围内, 因此隔离度指标测试只能到20~30dB左右，当然如果光谱仪用高灵敏度的扫描方式也可达到30~40dB,但又存在测试效率很低的问题（扫描一个通道大约要5分钟）。 以可调谐激光器作为测试光源，再用光功率计检测 优点：还可测试PDL，回波损耗等指标。 缺点：一般单台可调谐激光器的波长覆盖不了CWDM的要求范围，所以需要2台；另外必须选较高档的可调谐激光器，否则一般的可调谐激光器由于ASE的影响隔离度指标也只能测到30dB左右。 还有测试速度、慢效率低，成本高，测试曲线易受PDL的影响。 以S+C+L宽带光源作为测试光源，再用光谱仪扫描 优点：测试效率高，结果直观。 缺点：成本高（特别是S波段的高功率宽带光源），仪器稀有。 以ASE-C+L宽带光源作为测试光源，再用光谱仪扫描 优点：测试效率高，结果直观，成本适中，是一种最常用的测试方案。 ASE-C+L宽带光源大约覆盖了1520~1620 nm的波长范围，在这个范围内光功率密度比LED光源约大3个数量级（可参考图一），因此CWDM的隔离度指标可测到50dB以上。 缺点：在1470~1520波段的光较弱，但它仍然有一些光，其光功率密度与LED光源相当，隔离度指标能测到20~30dB左右，当然也可用高灵敏度的扫描方式提高测试隔离度。 图一 ASE-C+L光源与1550 LED 光源光谱对照图 二．用ASE-C+L光源测试CWDM模块方案： 将ASE-C+L光源和光谱仪置于有空调的环境下，开机预热至少60分钟 用跳线将ASE-C+L光源和光谱仪连接起来，将测试分辨率设为0.1nm，灵敏度在1520~1620nm扫描可用Auto或Middle方式，在1470~1510nm扫描可用HIGH1或HIGH2方式，扫描一条曲线存到TRACE A，再FIX A，以后扫描的曲线存到曲线B，显示曲线C=B-A，即为器件的特性曲线。 按下图二将被测CWDM模块接入光路中，分别扫描出每一通道的特性曲线，从特性曲线可以得出插入损耗，通道带宽，隔离度，通带平坦度等重要指标。 ASE-C+L CWDM OSA 光源 模块 光谱仪 图二 CWDM 模块测量 连接图 注：以上介绍的是CWDM模块的测量方法，对于CWDM薄膜滤光片和CWDM 光纤耦合器等器件也可用类似的测量方法。 三．朗光ASE宽带光源简介： 1．概述 ASE光源是一种高稳定、高功率输出的宽带光源，广泛应用于光纤无源器件的生产与测试，在光纤光栅、DWDM薄膜滤波器、CWDM薄膜滤波器、AWG等器件的测试中采用ASE光源与采用白光源或可调谐激光器相比，可提高功效10倍以上，而且操作简单、测试精度高。此外ASE光源其它光纤器件如：光纤耦合器、隔离器、光环行器等无源器件的带宽特性测量。 2．C波段基本光路图 980 PUMP