射线探伤题.doc

第二章、射线检测 一、判断题 1．具有不稳定原子核结构的同位素自发地放出射线而转变为其他元素。（ ） 2．每秒能产生3.7×109次核衰变的放射源，其放射强度即为1居里。（ ） 3．X射线是由阴极射线管产生的。（ ） 4．虽然X射线、γ射线产生的机制不同, 能量也可以不同, 但它们的量子都是粒子辐射。 （ ） 5．射线照射物质时，会与物质发生光电效应、康普顿效应、电子对效应、瑞利散射四种现象。（ ） 6. 随着透照深度的增加,射线强度线衰减系数μ逐渐减小,也就是表层物质对频率低的射线(软射线)的形成过滤作用,到达深层的射线是频率高的部分(硬射线)。（ ） 7.完好部位与缺陷部位的穿透射线强度差异是使底片产生对比度的根本原因,所以把称为胶片对比度。（ ） 8. 所谓胶片系统是指包括射线胶片、增感屏（材质、厚度）和冲洗条件（方式、配方、温度、时间）组合。（ ） 9．所谓射线照相灵敏度,是指发现和识别细小影像的难易程度。（ ） 10．射线照相灵敏度是射线照相对比度、不清晰度和颗粒度三大要素的综合结果。（ ） 11. 射线检测人员的未经矫正或经矫正的近(距)视力和远(距)视力应不低于5.0(小数记录值为1.0),测试方法应符合GB 11533 的规定。从事评片的人员应每2年检查一次视力。（ ） 12. 在射线检测之前，对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面作适当修整。（ ） 13．射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准及设计图样规定。承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时的射线检测，一般应采用AB 级射线检测技术进行检测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头，可采用B 级技术进行检测。（ ） 14．JB/T 4730．2-2005规定，垂直透照重叠成像时，一般应相隔90°透照2 次。（ ） 15. 用X射线透照小径管, DL/T821-2002允许的黑度范围为1.5≤D≤3.5,JB/T 4730．2-2005允许的黑度范围为1.5≤D≤4.0。（ ） 16．DL/T821-2002规定，采用双壁单投影法透照时，射线源至管子外表面的距离，当小于或等于15mm时，至少分3段透照，即每段对应的中心角应小于或等于120°;当大于15mm时，至少分4段透照，即每段对应的中心角小于或等于90°。（ ） 17．DL/ T 821一2002规定，对较大直径管道对接接头射线透照检验时，为提高横向裂纹检出率，应选用周向X射线机或γ射线源，采用中心全周透照法。若采用其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足:环缝K值不大于1.2，纵缝K值不大于1.03。（ ） 18．底片应清晰地显示出象质计、深度对比块、定位标记和识别标记，位置正确且不掩盖被检焊缝影像，此外应能清晰地看到长度不小于5mm的象质计钢丝影像。（ ） 19．采用γ射线源透照时，总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍。（ ） 20．胶片手工处理过程可分为显影、停显、定影、水洗和干燥五个步骤。（ ） 二、选择题 1．有的放射性同位素放出α射线（α衰变），有的放出β射线（β衰变），有的放出α射线或β射线的同时还放出（ ）γ射线 C.中子射线 D.质子涉嫌 2. X射线管发射的X射线最高频率与（ ））γ射线是放射同位素在α衰变或β衰变过程中，（ ）））黑度D定义为）与）之比的常用对数值照射光强L0透射光强L透射光强L照射光强L0照射光强L0射光强L射光强L照射光强L0））））））））JB/T 4730．2-2005规定，小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像。 A． T（壁厚）≤8mm；g（焊缝宽度）≤Do /4 B． T（壁厚）≤10mm；g（焊缝宽度）≤Do /4 C．T（壁厚）≤8mm；g（焊缝宽度）≤Do /5 D．T（壁厚）≤10mm；g（焊缝宽度）≤Do /5 14．JB/T 4730．2-2005规定，X射线照相，当焦距为700mm 时，曝光量的推荐值为：A 级和AB 级射线检测技术不小于（ ））））））保证X射线管使用寿命的措施主要有二、一、判断题 1．√2．×3．√4．×5．√6.√7.×8.√9．√10．√11.×12.√13．√14．×15.√16．√17．×18．×19．√20．√二、选择题 1．B2. A3. D4．B5．A6. C7 D8．9．D10. B 11. C12．B13A14．C15. B16．A17. C18．C19．D20．B 三、简答题保证X射线管使用寿命的措施主要有保证X射线管使用寿命的措施主要有：a）送高压前，灯丝必