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现代分析方法纳米材料的表征与测试技术
现代分析方法 纳米材料的表征与测试技术
分析科学现代方法正是人类知识宝库中最重要、最活跃的领域之一,它不仅是研究的对象,而且又是观察和探索世界,特别是微观世界的重要手段,各行各业都离不开它。随着纳米材料科学技术的发展,要求改进和发展新分析方法、新分析技术和新概念,提高其灵敏度、准确度和可靠性,从中提取更多信息,提高测试质量、效率和经济性。
纳米科学和技术是在纳米尺度上(0.1-100nm之间)研究物质(包括原子、分子)的特性和相互作用,并且利用这些特性的多学科的高科技。纳米科技是未来高科技的基础,而适合纳米科技研究的仪器分析方法是纳米科技中必不可少的实验手段。因此,纳米材料的分析和表征对纳米材料和纳米科技发展具有重要的意义和作用。
纳米技术与纳米材料是一个典型的新兴高技术领域。虽然许多研究人员已经涉足了该领域的研究,但还有很多研究人员以及相关产业的从业人员对纳米材料还不很熟悉,尤其是如何分析和表征纳米材料、如何获得纳米材料的一些特征信息。为了满足纳米科技工作者的需要,本文对纳米材料的一些常用分析和表征技术,主要从纳米材料的成分分析、形貌分析、粒度分析、结构分析以及表面界面分析等几个方面进行简要阐述。
1. 纳米材料的粒度分析
1.1粒度分析的概念
大部分固体材料均是由各种形状不同的颗粒构造而成,因此,细微颗粒材料的形状和大小对材料结构和性能具有重要的影响。尤其对纳米材料,其颗粒大小和形状对材料的性能起着决定性的作用。因此,对纳米材料的颗粒大小、形状的表征和控制具有重要意义。一般固体材料颗粒大小可以用颗粒粒度概念来表述。
对于不同原理的粒度分析仪器,所依据的测量原理不同,其颗粒特性也不同,只能进行有效对比,不能进行横向直接对比。由于粉体材料颗粒形状不可能都是均匀球形的,有各种各样的结构,因此,在大多数情况下粒度分析仪所测的粒径是一种等效意义上的粒径,和实际的颗粒大小分布会有一定的差异,因此只具有相对比较的意义。此外,各种不同粒度分析方法获得的粒径大小和分布数据也可能不能相互印证,不能进行绝对的横向比较。
由于粉体材料的颗粒大小分布较广,可从纳米级到毫米级,因此在描述材料粒度大小时,可以把颗粒按大小分为纳米颗粒、超微颗粒、微粒、细粒、粗粒等种类。近年来,随着纳米科学和技术的迅猛发展,纳米材料的颗粒分布以及颗粒大小已经成为纳米材料表征的重要指标之一,在普通的材料粒度分析中,其研究的颗粒大小一般在100nm尺寸范围。而对于纳米材料研究,其研究的粒度分布范围主要在1-500nm之间,尤其1-20nm是纳米材料研究最关注的尺寸范围。
在纳米材料分析和研究中,经常遇到的纳米颗粒通常是指颗粒尺寸为纳米量级(1-100nm)的超细微粒。由于该类材料的颗粒尺寸为纳米量级,本身具有小尺寸效应、量子尺寸效应、表面效应和宏观量子隧道效应,因此具有许多常规材料所不具备的特性。因为纳米材料的粒度大小、分布、在介质中的分散性能以及二次粒子的聚集形态等对纳米材料的性能具有重要影响,所以,纳米材料粒度的分析是纳米材料研究的一个重要方面。同样由于纳米材料的特性和重要性,促进了粒度分析和表征的方法和技术的发展,纳米材料粒度的分析已经发展成为现代粒度分析的一个重要领域。
1.2.粒度分析的种类和适用范围
虽然粒度的分析方法多种多样,基本上可归纳为以下几种方法。传统的颗粒测量方法有筛分法、显微镜法、沉降法等。近年来发展的方法有激光衍射法、激光散射法、光子相干光谱法、电子显微镜图像分析法、基于布朗运动的粒度测量法和质谱法等。其中激光散射法和光子相干光谱法由于具有速度快、测量范围广、数据可靠、重复性好、自动化程度高、便于在线测量等测量而被广泛应用。
1.2.1显微镜法
显微镜法(microscopy)是一种测定颗粒粒度的常用方法。根据材料颗粒的不同,既可以采用一般的光学显微镜,也可以采用电子显微镜。光学显微镜测定范围为0.8-150μm,小于0.8μm者必须用电子显微镜观察。扫描电镜和透射电子显微镜常用于直接观察大小在1nm-5μm范围内的颗粒,适合纳米材料的粒度大小和形貌分析。图像分析技术因其测量的随机性、统计性和直观性被公认为是测量结果与实际粒度分布吻合最好的测试技术。其优点是直接观察颗粒形状,可以直接观察颗粒是否团聚。缺点是取样代表性差,实验重复性差,测量速度慢。
为了适合纳米科技发展的需要,纳米材料粒度的分析方法逐步成为粒度分析的重要内容。目前,适合纳米材料粒度分析的方法主要是激光动态光散射粒度分析法和光子相关光谱分析法,其测量颗粒最小粒径可以达到20nm和1nm。
对于纳米材料体系的粒度分析,首先要分清是对颗粒的一次粒度还是对二次粒度进
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