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光刻工艺步骤介绍_图文
光刻工艺步骤介绍
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综述
一光刻工艺流程介绍
1 涂胶工艺介绍
2 曝光工艺介绍
3 显影工艺介绍
4 显检图形介绍
5 条宽套刻测量
二在线流片相关知识介绍
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光刻工艺流程
涂胶
曝光
显影
套刻测量
条宽测量
送刻蚀
送注入
显检
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光刻工艺步骤实例-N-WELL层次涂胶
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光刻工艺步骤实例-N-WELL层曝光
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光刻工艺步骤实例-N-WELL层次显影
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光刻工艺步骤实例-N-WELL的形成
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涂胶工艺介绍
具体过程:
1)增粘处理
2)涂胶
3)涂胶后烘
涂胶工艺流程
圆片从片架中取出(机械手臂)
增粘处理(HMDS)
涂胶动作
涂胶后烘 Soft-bake
圆片送回片架涂胶工艺完成
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增粘处理(化学气相涂布)
1 化学品:
HMDS液(六甲基二硅亚胺)
2.目的:
由于圆片表面是亲水的,而光刻胶具有疏水性如果不进行增粘处理直接涂胶并后烘,就会有水存在于圆片和胶分界处,导致光刻胶在圆片表面的粘附性变差。增粘处理可以增加圆片表面对光刻胶的粘附性,对保持光刻图形完整性,稳定性以及光刻胶对刻蚀和注入工艺的屏蔽都有很重要的作用。
3.过程
高温气化后的HMDS与圆片同处一腔经过一段时间作用完成。
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涂胶
化学品
光刻胶 由具有感光性高分子聚合物、增粘剂、溶剂以及其它添加剂组成。
稀释剂(EBR-10A)
喷胶方式
动态 喷胶时圆片旋转,胶膜均匀性较好但粘附性稍差。
静态 喷胶时圆片静止,胶膜粘附性较好但均匀性稍差。
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涂胶前旋转
旋转涂胶
加速旋转匀胶
旋转去边
加速旋转
A 图 正面去边,胶的边缘比较规则。
B图背面去边,胶的边缘呈锯齿状。
涂胶
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涂胶后烘
目的:
提高光刻胶与衬底(圆片)的粘附力及胶膜的抗机械磨擦能力。
作用:
充分的前烘可以改善胶膜的粘附性与抗刻蚀性。
方式:
烘箱对流加热
红外线辐射加热
热板传导加热
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影响胶膜因素:
一 涂胶腔排风量的大小直接影响着胶膜的均匀性;
二 硅片吸盘的水平度、同心度以及真空度都会影响胶膜的均匀性;
三 胶盘的形状应能有效的防止光刻胶在高速旋转时出现的“回溅”;
四 涂胶的工作环境,如湿度、温度、洁净度等均会影响胶膜的质量。
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曝光工艺介绍
基本原理:光刻工艺中最关键的工序它直接关系到光刻分辨率、留膜率、条宽控 制等。将涂好光刻胶的圆片通过光刻机的对位系统和光刻版套准后,用紫外光进行照射,照射过的光刻胶发生光化学反应,性质发生了变化,显影时就会和显影液发生化学反应并去除;而被光刻版挡住的部分,未发生任何变化,显影时不和显影液发生反应被保留在圆片上,这样光刻版的图形就转移到圆片表面,通过刻
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